• 제목/요약/키워드: low vacuum SEM

검색결과 163건 처리시간 0.028초

Characteristics of AlNd thin film for TFT-LCD bus line

  • Kim, Dong-Sik;Kwak, Sung-Kwan;Chung, Kwan-Soo
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2000년도 제18회 학술발표회 논문개요집
    • /
    • pp.59-59
    • /
    • 2000
  • Recently low resistance of bus line is required for large screen size TFT-LCD panels. As a result, lower resistance Al-alloy is currently reviewed extensively. The resistivity is required smaller than 10 $\mu$$\Omega$cm. In this paper, Al-Nd thin film were deposited on glass substrates by D.C. magnetron sputtering system under various condition. Its properties were characterized by SEM, AFM, XRD, 4-ping-probe. The optimal condition of Al-Nd was 12$0^{\circ}C$, 125W, 0.4Pa, 30sccm(Ar) and 35$0^{\circ}C$, 20min. annealing. At that condition the resistivity of Al-Nd(2wt.%) was about 4 $\mu$$\Omega$cm. The minimum contact resistance of ITO/Nd was about 110$\mu$$\Omega$cm in the condition of 30$0^{\circ}C$, Ar 30 sccm. O2.

  • PDF

Improvement of Adhesion Strength of DLC Films on Nitrided Layer Prepared by Linear Ion Source

  • Shin, Chang-Seouk;Kim, Wang-Ryeol;Park, Min-Seok;Jung, Uoo-Chang;Chung, Won-Sub
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2011년도 제41회 하계 정기 학술대회 초록집
    • /
    • pp.177-179
    • /
    • 2011
  • The purpose of this study is to enhance an adhesion between substrate and Diamond-like Carbon (DLC) film. DLC has many outstanding properties such as low friction, high wear resistance and corrosion resistance. However, it is difficult to achieve enough adhesion because of weak bonding between DLC film and the substrate. For improvement adhesion, a layer between DLC film and the substrate was prepared by dual post plasma. DLC film was deposited on nitrided layer by linear ion source. The composed compound layer between substrate and DLC film was investigated by Glow Discharge Spectrometer (GDS) and Scanning Electron Microscope (SEM). The synthesized bonding structure of DLC film was analyzed using a micro raman spectrometer. Mechanical properties were measured by nano-indentation. In order to clarify the mechanism for improvement in adhesive strength, it was observed by scratch test.

  • PDF

수열합성법과 스퍼터링증착법을 이용한 Hierarchical ZnO Nanowire 합성 및 수소생산응용

  • 최영우;용기중
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2013년도 제44회 동계 정기학술대회 초록집
    • /
    • pp.602-602
    • /
    • 2013
  • 산화아연(ZnO)은 직접 천이 와이드 밴드갭(3.37 eV)과 큰 excitation binding energy (60 meV)를 갖는 II-VI 반도체로 광촉매, light emitting diodes (LED), dye-sensitized solar cell 등의 여러 가지 분야에서 각광받고 있는 물질이다. ZnO는 열역학적으로 안정한 polar terminated (001)면과 nonpolar low-symmetry (100)면을 갖으며 (100)면이 (001)면보다 더 안정하기 때문에 (100)방향의 일차원구조가 쉽게 합성된다. 이러한 일차원 구조는 빛의 산란을 유도하여 더 많은 빛의 흡수를 야기 시킬 뿐만 아니라 일차원 구조를 따라 효율적인 전하 전달을 가능하게 한다. 본 연구에서는 일차원 구조의 장점을 살리면서 더 넓은 표면적을 갖는 hierarchical ZnO nanowire 구조를 수열합성법과 스퍼터링증착법을 이용하여 합성하였다. Hierarchical ZnO nanowire는 SEM, TEM을 이용하여 구조를 관찰하였고 UV-visable spectroscopy를 이용하여 일차원 구조의 ZnO nanowire와의 absorbance, transmittace 차이를 확인하였다.

  • PDF

Laser irradiation effect of electrophoretically-coated low-voltage phosphor for the application of Field Emission Display

  • 서도석;송병권;김채옥;남창우;홍진표
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2000년도 제18회 학술발표회 논문개요집
    • /
    • pp.152-152
    • /
    • 2000
  • 차세대 평판 디스플레이로 주목박고 있는 FED는 현재 저전압 환경에서 기존의 CRT와 비슷한 해상도와 밝기를 얻지 못하고 있다. 이는 형광체 입자의 표면에 존재하는 결함, 오염, band - bonding과 같은 비발광층과 제조공정 중에 산화되거나 공기중에 노출되어 막 표면이 쉽게 오염되기 때문이다. 따라서 본 연구에서는 전기영동법으로 제작된 형광체의 효율 향상을 위해 레이저 표면 처리효과를 연구하였다. 실험에 사용한 레이저 표면처리 방법은 Nd:YAG pulse(355nm), continuous laser를 이용하였으며 레이저 power와 처리 시간을 변화시키면서 실시하였다. 형광체 막의 표면 두께 측정을 위해 Scanning Electron Microscopy(SEM), 처리된 막의 발광세기를 비교 분석하기 위해 Photoluminescence(PL), Cathodoluminescence(CL) intensity를 측정하였다.

  • PDF

Characteristics of AlW thin film for TFT-FCD bus line

  • Kim, Dong-Sik;Yi, Chong-Ho;Chung, Kwan-Soo
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2000년도 제18회 학술발표회 논문개요집
    • /
    • pp.58-58
    • /
    • 2000
  • Recently low resistance of bus line is required for large screen size RFT-CLD panels. As a result, lower resistance Al-alloy is currently reviewed extensively. The resistivity is required smaller than 10$\mu$$\Omega$cm and high resistance of chemical attack is required. In this paper, Al-W thin film were deposited on glass substrates by D.C magnetron sputtering system under various condition for high chemical resistance. Its properties were characterized by SEM, AFM, XRD, 4-point-probe, and cyclic voltammertry. The optimal condition of Al-W was 10$0^{\circ}C$, 100W, 0.4Pa, 23sccm(Ar) and 35$0^{\circ}C$, 20min. annealing. At that condition the resistivity of Al-W(3 wt.%) was about 11$\mu$$\Omega$cm. And when wt.% of W in Al-W alloy was higher than about 4%, Al-W alloy thin film has high chemical resistance.

  • PDF

Dc magnetron sputtering system을 이용한 TFT-LCD를 위한 Al-Nd와 Al-Zr 박막 특성에 관한 연구 (characteristics of Al-Nd and Al-Zr thin film for TFT-FCD by DC magnetron sputtering system)

  • 김동식;정관수
    • 한국진공학회지
    • /
    • 제8권3A호
    • /
    • pp.245-248
    • /
    • 1999
  • Recently low resistance of gate line or data line is required for large screen size TFT-LCD panels. As a result, lower resistance Al-alloy is currently reviewed extensively and the resistivity is required smaller than 10$\mu\Omega$cm. In this paper, Al-Nd and Al-Zr thin film were deposited on glass substrated by D.C. magnetron sputtering system under various condition. Its properties were characterized by SEM, AFM, XRD and 4-point-probe. The optimal condition was $120^{\circ}C$, 125W, 0.4Pa, 30sccm (Ar) and $350^{\circ}C$, 20min. annealing. At that condition the resistivity of Al-Zr(0.9%wt.) is about 4$\mu\Omega$cm.

  • PDF

저유전율 물질인 Metylsilsesquioxance의 반응 이온 식각 공정 (Reactive Ion Etching Process of Low-K Methylsisesquioxance Insulator Film)

  • 정도현;이용수;이길헌;김광훈;이희우;최종선
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2000년도 제18회 학술발표회 논문개요집
    • /
    • pp.40-40
    • /
    • 2000
  • 직접 회로의 소자크기가 더욱 미세화에 따라, 기존에 사용하는 금속 배선의 저항과 금속 배선과 층간 유전 물질에 의한 정전용량의 증가로 인한 시간 지연 (RC time delay) 문제가 크게 대두되고 있다. 이 문제를 해결하기 위해 비유전율이 낮은 물질을 층간 유전체로 사용하여 정전용량을 낮추는 것이 필요하다. 기존의 실리콘 산호막 대신에 MSSQ(methylsilsequioxance)를 이용할 때 필요한 건식 식각 공정을 연구하였다. MSSQ 물질을 patterning 하기 위해 습식 공정의 부산물인 폐액 등의 문제점이 발생하지 않을 뿐만 아니라, 소자의 손상이 적고 선택비가 높으며, 식각의 이방성을 향상시킬 수 있는 장점을 갖고 있는 반응 이온 식각기(reactive ion etchin)을 이용하였다. CF4/O2 plasma를 사용하였는데, 가스의 양의 flow rate와 조성비, RF pover(50, 100, 150 W)등의 변화에 따른 식각 특성을 알아보았다. atep, SEM, AFM등을 이용하여 측정·분석하였다.

  • PDF

UV-NIL(Ultraviolet-Nano-Imprinting-Lithography) 방법을 이용한 나노 패터닝기술 (Nano-patterning technology using an UV-NIL method)

  • 심영석;정준호;손현기;신영재;이응숙;최성욱;김재호
    • 한국진공학회지
    • /
    • 제13권1호
    • /
    • pp.39-45
    • /
    • 2004
  • UV-나노임프린팅 (Ultraviolet-Nanoimprinting Lithography:UV-NIL) 공정 기술은 수십 나노에서 수 나노미터 크기의 구조물을 적은 비용으로 대량생산 할 수 있다는 장점을 가지고 있는 기술로 최근 전세계적으로 연구가 활발히 진행되고 있다. 본 연구에서는 반도체 공정 중 마스크 제작 공정을 이용하여 나노패턴을 가진 5${\times}$5${\times}$0.09 인치 크기의 수정스탬프(quartz stamp)를 제작하였고, 임프린팅 (imprinting)시에 레지스트(resist)와 스탬프(stamp) 사이에서 발생하는 점착현상(adhesion)을 방지하고자 그 표면에 Fluoroalkanesilane(FAS) 표면처리를 하였다. 웨이퍼의 평탄도를 개선하고 친수(hydrophilic) 상태의 표면을 만들기 위해 그 표면에 평탄화층을 스핀코팅하였고, 1 nl의 분해능을 가진 디스펜서(dispenser)를 이용하여 레지스트 액적을 도포하였다. 스템프 상의 패턴과 레지스트에 임프린트된 패턴은 SEM, AFM 등을 이용하여 측정하였으며, EVG620-NIL 장비를 이용한 임프린팅 실험에서 370 nm - 1 um 크기의 다양한 패턴을 가진 스탬프의 패턴들이 정확하게 레지스트에 전사됨을 확인하였다.

액상확산접합한 Ni기 단결정 초내열합금의 크리프 파단 및 피로특성 (Creep-Rupture and Fatigue Properties of Transient Liquid Phase Bonded Joints of Ni-Base Single Crystal Superalloy)

  • 김대업
    • Journal of Welding and Joining
    • /
    • 제19권1호
    • /
    • pp.82-87
    • /
    • 2001
  • The creep-rupture and low cycle fatigue properties of transient liquid phase bonded joints of Ni-base single crystal superalloy, CMSX-2 was investigated using MBF-80 insert metal. The (100) orientation of bonded specimen was aligned perpendicular to the joint interface. CMSX-2 was bonded at 1523K for 1.8ks in vacuum, optimum bonding condition. The creep rupture strength and rupture lives of the joints were the almost identical to ones of the base metal. SEM observation of the fracture surfaces of joints after creep rupture test revealed that the fracture surfaces classified three types of region, ductile fracture surface, cleavage fracture surface and interfacial fracture surface. The low cycle fatigue properties of the joints were also the same level as those of base metal. The elongation and reduction of area values of joints were comparable to those of base metal while fell down on creep rupture condition of high temperature.

  • PDF

Visible-light photo-reduction of reduced graphene oxide by lanthanoid ion

  • Kim, Jinok;Yoo, Gwangwe;Park, Jin-Hong
    • 한국진공학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국진공학회 2016년도 제50회 동계 정기학술대회 초록집
    • /
    • pp.290.1-290.1
    • /
    • 2016
  • Grapehen, a single atomic layer of graphite, has been in the spotlight and researched in vaious fields, because its fine mechanical, electrical properties, flexibility and transparence. Synthesis methods for large-area graphene such as chemical vaper deposition (CVD) and mechanical, chemical exfoliation have been reported. In particular, chemical exfoliation method receive attention due to low cost process. Chemical exfoliation method require reduction of graphene oxide in the process of exfoliation such as chemical reduction by strong reductant, thermal reduction on high temperature, and optical reduction via ultraviolet light exposure. Among these reduction methods, optical reduction is free from damage by strong reductant and high temperature. However, optical reduction is economically infeasible because the high cost of short-wavelength ultraviolet light sorce. In this paper, we make graphene-oxide and lanthanoid ion mixture aqueous solution which has highly optical absorbency in selective wevelength region. Sequentially, we synthesize reduced graphene oxide (RGO) using the solution and visible laser beam. Concretely, graphene oxide is made by modified hummer's method and mix with 1 ml each ultraviolet ray absorbent Gd3+ ion, Green laser absorbent Tb3+ ion, Red laser absorbent Eu3+ ion. After that, we revivify graphene oxide by laser exposure of 300 ~ 800 nm layser 1mW/cm2 +. We demonstrate reproducibility and repeatability of RGO through FT-IR, UV-VIS, Low temperature PL, SEM, XPS and electrical measurement.

  • PDF