You Young-Jun;Park Jong-Sup;Park Young-Hwan;Jung Woo-Tai;Kang Jae Yun
Proceedings of the Korea Concrete Institute Conference
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2004.11a
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pp.17-20
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2004
FRP strengthening system that bonds FRP sheet or laminate underneath structure has been used popularly thesedays. The failure of this bonding system occurs mainly at the interface of bonded surface abruptly. So it is difficult to expect the failure and FRP can't show its full material capacity that makes it uneconomically. By that reason, KICT proposed a system to install FRP aminate to structure for strengthening not by bondging but by unbonding. It is to install both ends of FRP laminate by anchoring underneath structure without bonding. Then, the failure is not an interfacial problem any more, it is governed by mechanical anchoring. This paper includes an experimental study about anchoring system for prestressing CFRP laminate.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.33
no.4
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pp.241-250
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2000
Popcorn cracking phenomena frequently occur in thin plastic packages during the solder reflow process, which are definitely affected by poor adhesion of Cu-based leadframe to epoxy molding compounds (EMCs). In the present work, in order to enhance the adhesion strength, a brown-oxide treatment on the Cu-based leadframe was carried out and the adhesion strength of leadframe/EMC interface was measured in terms of fracture toughness by using sandwiched double-cantilever beam (SDCB) specimens. After the adhesion tests, fracture surfaces were analyzed by SEM, AES, EDS and AFM to make the failure path clear. Results showed that failure path was closely related to the oxidation time and the interfacial fracture toughness.
The composite plate to upgrade structures and, in particular, to extend the lives of reinforced concrete beams has wide applications. One of the main aspects of the bonded strengthening technology is the stress analysis of the reinforced structure. In particular, reliable evaluation of the adhesive shear stress and of the stress in the composite plates is mandatory in order to predict the beam's failure load. In this paper, a finite element analysis is presented to calculate the stresses in the reinforced beam under mechanical loads. The numerical results was compared with the analytical approach, and a parametric study was carried out to show how the maximum stresses have been influenced by the material and geometry parameters of the composite beam.
In order to improve insulating character and ability of insulating system of power apparatus, the interfacial and complex structure is widely used. However, the interface or complex structure of insulation materials is reported as a weak point which causes breakdown. As the interface of insulation system degrades its electrical property and eventually causes a failure, the datailed phenomenon analysis is reported. The object of this paper is to evaluate dielectric property of PET film with the interface. The $tan{\delta}$ increased with the existence of semiconducting layer and showed prominent decrease as a function of temperature. Also, the $tan{\delta}$ showed prominent increase as a function of frequency. The dielectric properties of interfacial were affected by the interface characteristics.
In this study, the fabrication and electrical properties of aligned single-walled carbon nanotube (SWCNT) networks using a template-based fluidic assembly process are presented. This complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS)-friendly process allows the formation of highly aligned lateral nanotube networks on $SiO_2/Si$ substrates, which can be easily integrated onto existing Si-based structures. To measure outstanding electrical properties of organized SWCNT devices, interfacial contact resistance between organized SWCNT devices and Ti/Au electrodes needs to be improved since conventional lithographic cleaning procedures are insufficient for the complete removal of lithographic residues in SWCNT network devices. Using optimized purification steps and controlled developing time, the interfacial contact resistance between SWCNTs and contact electrodes of Ti/Au is reached below 2% of the overall resistance in two-probe SWCNT platform. This structure can withstand current densities ${\sim}10^7A{\cdot}cm^{-2}$, equivalent to copper at similar dimensions. Also failure current density improves with decreasing network width.
To analyze the mechanical property and the residual stress in functionally gradient materials(FGMs), disctype TZP/Ni-and TZP/SUS304-FGM were hot pressed using powder metallurgy compared with directly bonded materials which were fabricated by the same method. The continuous interface and the microstructure of FGMs were characterized by EPMA, WDS, optical microscope and SEM. By fractography, the fracture behavior of FGMs was mainly influenced by the defects which originated from the fabrication process. And the defectlike cracks in the FGMs induced by the residual stress have been shown to cause failure. This fact has well corresponded to the analysis of the residual stress distribution by Finite Element Method (FEM). The residual stress generated on the interface (between each layer, and matrix and second phase, respectively) were dominantly influenced on the sintering temperature and the material constants. As a consequence, the interfacial stability and the relaxation of residual stress could be obtained through compositional gradient.
The physical properties of rubber blend between natural rubber(NR) and ethylene propylene diene terpolymer(EPDM) were investigated as a study of EPDM composite materials. For EPDM/NR blends, the effects of ethylene and diene contents in EPDM, blend ratio, dicumyl peroxide(DCP) curing system on the physical properties, interfacial adhesion force and dynamic crack growth etc. were studied. EPDM/NR blends loaded with carbon black were prepared by mechanical mixing and cured by plate heating cure press. Crosslinking density was measured by swelling method with toluene. The physical properties of all blends were measured with Instron, fatigue to failure(FTF), Demattia flex cracking tester(DMFC), scanning electron microscopy (SEM), etc. As the ethylene and diene contents in EPDM increased, the physical properties, such as dynamic crack growth, adhesion to other component were increased too. Interfacial adhesion force of EPDM/NR blends to dissimilar layer was improved by the use of optimum peroxide curing system.
Proceedings of the International Microelectronics And Packaging Society Conference
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2003.11a
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pp.195-202
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2003
In this study, failure mechanisms of Au stud bumps/ACF flip chip joints were investigated underhigh current stressing condition. For the determination of allowable currents, I-V tests were performed on flip chip joints, and applied currents were measured as high as almost 4.2Amps $(4.42\times10^4\;Amp/cm^2)$. Degradation of flip chip joints was observed by in-situ monitoring of Au stud bumps-Al pads contact resistance. All failures, defined at infinite resistance, occurred at upward electron flow (from PCB pads to chip pads) applied bumps (UEB). However, failure did not occur at downward electron flow applied bumps (DEB). Only several $m\Omega$ contact resistance increased because of Au-Al intermetallic compound (IMC) growth. This polarity effect of Au stud bumps was different from that of solder bumps, and the mechanism was investigated by the calculation of chemical and electrical atomic flux. According to SEM and EDS results, major IMC phase was $Au_5Al_2$, and crack propagated along the interface between Au stud bump and IMC resulting in electrical failures at UEB. Therefore. failure mechanisms at Au stud bump/ACF flip chip Joint undo high current density condition are: 1) crack propagation, accompanied with Au-Al IMC growth. reduces contact area resulting in contact resistance increase; and 2) the polarity effect, depending on the direction of electrons. induces and accelerates the interfacial failure at UEBs.
Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A
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v.30
no.12
s.255
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pp.1543-1550
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2006
Since the performance of joints usually determines the structural efficiency of composite structures, an extensive knowledge of the behavior of adhesive joints and the related effect on joint strength is essential for design purposes. In this study, the torque capacity of adhesive joints was predicted using the combined thermal and mechanical analyses when the adherend was a composite tube. A finite element analysis was performed to evaluate residual thermal stresses developed in the joint, and mechanical s stresses in the adhesive were calculated including both the nonlinear adhesive behavior and the behavior of composite tubes. Three different joint failure modes were considered to predict joint failure: interfacial failure, adhesive bulk failure, and adherend failure. The influence of the composite adherend stacking angle on the residual thermal stresses was investigated, and how the residual thermal stresses affect the joint strength was also discussed. Finally, the predicted results were compared with experimental results available in literature.
Cu/PET composite films are widely used in a variety of wearable electronics. Lifetime of the electronics is determined by adhesion between the Cu film and the PET substrate. The formation of an anisotropic nanostructure on the PET surface by surface modification can enhance Cu/PET interfacial adhesion. The shape and size of the anisotropic nanostructures of the PET surface can be controlled by varying the surface modification conditions. In this work, the effect of Cu/PET interface nanostructures on the failure mechanism of a Cu/PET flexible composite film is studied. From observation of the morphologies of the anisotropic nanostructures on plasma-treated PET surfaces, and cross-sections and surfaces of the fractured specimens, the Cu/PET interface area and nanostructure width are analyzed and the failure mechanism of the Cu/PET film is investigated. It is found that the failure mechanism of the Cu/PET flexible composite film depends on the shape and size of the plasmatreated PET surface nanostructures. Cu/PET interface nanostructures with maximal peel strength exhibit multiple craze-crack propagation behavior, while smaller or larger interface nanostructures exhibit single-path craze-crack propagation behavior.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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