Photoreflectance 측정에 의한 $In_xGa_{1-x}As(0.03\leqx\leq0.11)$ 에피층의 특성 연구
(A study on characteristics of $In_xGa_{1-x}As(0.03\leqx\leq0.11)$ epilayer by photoreflectance measuerment)
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- 한국진공학회지
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- 제7권4호
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- pp.334-340
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- 1998