• 제목/요약/키워드: fold axis measurement method

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습곡관련 구조요소들을 이용한 다양한 습곡축 측정방법의 실제적 적용성과 문제점: 충북 단양지역에서의 예 (Various Measurement Methods for Fold-axis from Fold-related Structural Elements: An Example from Danyang, Chungcheongbuk-do)

  • 최호석;김영석
    • 한국지구과학회지
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    • 제42권2호
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    • pp.175-184
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    • 2021
  • 대표적인 연성변형구조인 습곡에서 습곡축의 자세는 3차원 습곡구조의 발달양상뿐만 아니라 변형 당시의 최대 수평주응력 방향에 대한 정보를 수집하는데 중요한 역할을 한다. 이러한 이유로 습곡축의 자세를 파악하는 것은 매우 중요하나 습곡축이 노출되는 경우가 흔하지 않기 때문에 습곡과 관련된 구조요소들을 이용한 다양한 방법들이 제시되고 이용되어 왔다. 따라서 이러한 다양한 측정방법에 대해 간략히 소개하고, 이들 방법들에 대한 신뢰성을 평가하기 위하여 같은 습곡에 대해 다른 측정법을 사용하여 측정한 습곡축들을 비교분석 하였다. 이를 위해 습곡구조가 잘 발달해 있는 충북 단양지역 조선누층군의 석회암층들과 평안누층군의 만항층에 걸쳐 6곳의 노두에서 습곡구조의 습곡축 자세를 측정하고 비교하였다. 비교결과 다른 방법에 의해 측정된 것들도 대부분 서로 잘 일치하는 양상을 보여 다양한 측정방법들의 실제 활용이 가능함을 보여주었다. 또한 단양지역의 습곡구조는 서북서 방향의 습곡축을 가지는 한 곳을 제외한 나머지 노두에서 모두 북-북북동 내지 북동 방향의 습곡축을 보였으며, 이는 서북서-동남동 내지 북서-남동 방향의 최대수평주응력 환경에서 만들어진 습곡들로 판단된다. 서북서 방향의 습곡축은 다른 시기의 습곡작용을 지시하는 것으로 보이며, 북-북북동 방향의 습곡축을 가지는 습곡구조와 북동 방향의 습곡축을 가지는 습곡구조 사이의 주향 차이는 하나의 습곡작용에서 습곡구조의 규모에 따라 다소 차이가 생긴 것으로 해석하였으나, 증거를 확인하는 추가적인 연구가 필요할 것으로 사료된다.

Pt 코팅된 Si 기판에 제조한 KLN 박막의 구조적 특성 (Structural Properties of KLN Thin Film Deposited on Pt Coated Si Substrate)

  • 박성근;이기직;백민수;전병억;김진수;남기홍
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제14권5호
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    • pp.410-416
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    • 2001
  • KLN thin films were fabricated on Pt coated Si(100) wafer using an rf-magnetron sputtering method. The grown KLN thin film consists of 4-fold grains. In this experiment, the structure of 4-fold grained thin film was investigated using XRD and SEM measurements. Pt layer was also deposited using the rf-magnetron sputtering method,. XRD measurement showed that he Pt thin film has Gaussian distribution form with strong (111) direction orientation. The KLN thin film has preferred-orientation of (001) direction, and the peak consists of 2 separate peaks; one with broad FWHM and the other with narrow FWHM. The sharp peak is due to single crystal, and combining with Em results, the 4-fold grain consists of singel crystals with c-axis normal to substrate.

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반사경 측정을 위한 타워 방식의 Fold Mirror를 이용한 Fizeau 간섭계 시스템 구성 (A Study on the Tower type Fizeau Interferometer System with a Fold Minor for Measuring Large Optical Lens Profile)

  • 이응석;이기암;김옥현
    • 한국정밀공학회지
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    • 제25권8호
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    • pp.21-28
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    • 2008
  • Fizeau interferometer is used for inspecting the lens surface profile accurately. This study is focused on the design and optical measuring techniques for large optical components, such as a reflection mirror for large area lithography or astronomical purpose. A tower type Fizeau interferometer is designed and set up in horizontally with a 45$^{\circ}$ fold mirror which makes easy to align the optical path of heavy interferometer system. To align the optical path, a five-axes stage for the interferometer is required. This study shows a method of the 45$^{\circ}$ fold mirror alignment by using a three-axis stage instead of adjusting the interferometer itself or measuring object. This system will be installed on the large optics polishing machine during the manufacturing process as an on-machine inspection system.