The structure of organic light-emitting diodes(OLEDs) with typical heterostructure consists of anode, hole injection layer, hole transport layer, light-emitting layer, electron transport layer, electron injection layer, and cathode. 4,4bis[N-(1-napthyl)-N-phenyl-amino]-biphenyl(NPB) used as a hole transport layer and 4'4-bis(2,2'-diphenyl vinyl)-1,1'-biphenyl(DPVBi) used as a blue light emitting layer were graded-mixed at selected ratio. Interface at heterojunction between the hole transport layer and the elecrtron transport layer restricts carrier's transfer. Mixing of the hole transport layer and the emitting layer reduces abrupt interface between the hole transport layer and the electron transport layer. The operating voltage of OLED devices with graded mixed-layer structure is 2.8 V at 1 $cd/m^2$ which is significantly lower than that of OLED device with typical heterostructure. The luminance of OLED devices with graded mixed-layer structure is 21,000 $cd/m^2$ , which is much higher than that of OLED device with typical heterostructure. This indicates that the graded mixed-layer enhances the movement of carriers by reducing the discontinuity of highest occupied molecular orbital(HOMO) of the interface between hole transport layer and emitting layer.
We prepared Organic LED with a two layer structure by vacuum evaporation. The diode consisted of hole transfer layer (thickness of 30, 50, 70 nm) and electron transfer layer (thickness of 70, 50, 30 nm) material, which was N, N'-diphenyl- N, N'-bis-(3-methyl phenyl)-1,1'-diphenyl-4,4'-diamine)(TPD) and tris(8-hydroxy quinoline) aluminum(Alq3), respectively. We investigated EL properties of the LED with various thickness and cathode electrode. The best results were obtained when thickness of the electron layer is equal to that of emission layer and when AlLi alloy was used as a cathode. The EL intensity, luminance and efficiency of organic LED with equal of layer thick were improved seven, three and two times, respectively. Alq3 was ionized by carrier injection from cathode and could produce exitons. After electron-hole pairs were formed by combination of the electrons and holes at the emission layer, Alq3 layer emitted light.
The key to determining the lifetime of OLED device is how much brightness can be maintained. It can be said that there are internal and external causes for the degradation of OLED devices. The most important cause of internal degradation is bonding and degradation in the excited state due to the electrochemical instability of organic materials. The structure of OLED modeled in this paper consists of a cathode layer, electron injection layer (EIL), electron transport layer (ETL), light emission layer, hole transport layer (HTL), hole injection layer (HIL), and anode layer on a glass substrate from top to bottom. It was confirmed that the temperature generated in OLED was distributed around the maximum of 343.15 K centered on the emission layer. It can be seen that the heat distribution generated in the presented OLED structure has an asymmetrically high temperature distribution toward the cathode, which is believed to be because the sizes of the cathode and positive electrode are asymmetric. Therefore, when designing OLED, it is believed that designing the structures of the cathode and anode electrodes as symmetrically as possible can ensure uniform heat distribution, maintain uniform luminance of OLED, and extend the lifetime. The thermal distribution of OLED was analyzed using the finite element method according to Comsol 5.2.
한국정보디스플레이학회 2009년도 9th International Meeting on Information Display
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pp.779-780
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2009
New inverted architecture of a hybrid inorganic-organic light-emitting diode, utilizing ZrO2 electron-injecting layer, is presented. The thickness of the ZrO2, as well as the annealing of the light-emitting polymer, is found critical to obtain good performance. A range of light-emitting polymers is shown to operate efficiently in the proposed architecture.
Electron injection and memory retention chracteristics of the MNOS devices with thin oxide layer of 23${\AA}$ thick and silicon nitride layer of 1000${\AA}$ thick which are fabricated for this experiment. As a result, pulse amplitude increase oxide current is dominated in linearly increasing region of $\Delta$V$\_$FB/the decreasing region after saturation was due to the increased silicon nirtide current. In low pulse ampiltude $\Delta$V$\_$FB/ is not variated on temperature, but as temperature and pulse amplitude increase. $\Delta$V$\_$FB/ is decreased after saturation. And the decay rate during 10$^4$sec after electron injection was ohiefly dominated by the back tunneling of emission from memory trap to silicon. Memory retention characteristics in V$\_$FB/ stage was better than that of OV retention regardless of injection conditions.
The electrical conduction mechanism of ITO / Terbium tris - (1 - phenyl - 3 - methyl - 4 - (tertiarybutyryl) - pyrazol - 5 - one) triphenylphosphine oxide [$(tb-PMP)_3Tb-(Ph_3PO)$]/Mg/Al devices has been investigated. The calculation of electric field in single layer organic layer between cathode and anode shows the uniform distribution for the electron injection barrier of over 1.4 eV. The measured current-voltage curve shows well matching with the calculated curve based on the tunneling injection of electron under the uniform distribution of electric field.
The n-doping effect by doping metal carbonate into an electron-injecting organic layer can improve the device performance by the balanced carrier injection because an electron ohmic contact between cathode and an electron-transporting layer, for example, a high current density, a high efficiency, a high luminance, and a low power consumption. In the study, first, we investigated an electron-ohmic property of electron-only device, which has a ITO/$Rb_2CO_3$-doped $C_{60}$/Al structure. Second, we examined the I-V-L characteristics of all-ohmic OLEDs, which are glass/ITO/$MoO_x$-doped NPB (25%, 5 nm)/NPB (63 nm)/$Alq_3$ (32 nm)/$Rb_2CO_3$-doped $C_{60}$(y%, 10 nm)/Al. The $MoO_x$doped NPB and $Rb_2CO_3$-doped fullerene layer were used as the hole-ohmic contact and electron-ohmic contact layer in all-ohmic OLEDs, respectively, Third, the electronic structure of the $Rb_2CO_3$-doped $C_{60}$-doped interfaces were investigated by analyzing photoemission properties, such as x-ray photoemission spectroscopy (XPS), Ultraviolet Photoemission spectroscopy (UPS), and Near-edge x-ray absorption fine structure (NEXAFS) spectroscopy, as a doping concentration at the interfaces of $Rb_2CO_3$-doped fullerene are changed. Finally, the correlation between the device performance in all ohmic devices and the interfacial property of the $Rb_2CO_3$-doped $C_{60}$ thin film was discussed with an energy band diagram.
We report highly efficient quantum dot light-emitting diodes (QLEDs) with TiO2 nanoparticles (NPs) as an alternative electron transport layer (ETL) and poly (methyl methacrylate) (PMMA) as an insulating layer. TiO2 NPs were applied as ETLs of inverted structured QLEDs and the effect of the addition of PMMA between ETL and emission layer (EML) on device characteristics was studied in detail. A thin PMMA layer supported to make the charge balance in the EML of QLEDs due to its insulating property, which limits electron injection effectively. Green QLEDs with a PMMA layer produced the maximum luminance of 112,488 cd/m2 and a current efficiency of 25.92 cd/A. We expect the extended application of TiO2 NPs as the electron transport layer in inverted structured QLEDs device in the near future.
본 논문은 RTP법으로 산화막을 질화시킨 질화산화막으로 MIS 커패시터를 제작하여 avalanche 주입에 따른 캐리어 트랩 특성을 조사하였다. avalanche 주입에 의한 flatband 전압 변화는 두 번의 turn-around가 관찰되었는데 이는 처음 산화막에서 전자 트래핑이 있어나고, 전하 주입에 따라 홀 트래핑에 의한 turn-around 후 다시 전자 트래핑이 일어나는 것을 관찰하였다. 질화 산화막의 캐리어 트랩 파라미터를 결정하기 위하여 실험 결과를 기초로 종류가 다른 여러 트랩을 갖는 계에 대한 캐리어 트래핑을 비교한 결과 실험값과 일치함을 확인하였다.
본 연구는 발광층으로의 전자 주입을 억제하기 위해 ZnO 나노입자보다 낮은 전자 이동도를 갖는 $TiO_2$ 나노입자를 무기 전자 수송층으로 사용하여 standard와 inverted 두 가지 구조의 양자점 전계발광 소자를 제작하고 그 특성을 비교하였다. Standard 구조의 소자에서는 전류 밀도가 낮은 것에 비해 inverted 구조의 소자에서는 전류 밀도가 매우 높은 것을 확인하였다. 휘도의 경우 inverted 구조의 소자가 standard 구조의 소자보다 더 높았지만 높은 전류 밀도로 인해 낮은 전류 효율을 나타냈다. 또한 전류 밀도가 높은 만큼 구동 전압이 높았으며, 방출 파장 스펙트럼에서 적색 편이를 확인하였다. Standard 구조의 소자에서 나타난 낮은 전류 밀도를 통해, $TiO_2$ 나노입자가 양자점 전계발광 소자에서 전자 주입을 억제할 수 있는 가능성을 확인하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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