Estimation of the dielectric properties of insulating silicone rubbers added reinforcing fillers $(SiO_2,\;0{\sim}140phr)$ are very important to investigate the polymer structure. The characteristies of the dielectric absorption in insulating silicone rubbers were studied in the frequency range from 30Hz to 1MHz at the temperature range from $0{\sim}170^{\circ}C$. In the case of non-filled specimen, the dielectric loss is due to the syloxane which is the main chain of silicone rubber at the low temperature below $50^{\circ}C$ and the frequency at 330Hz, and is due to methyl and vinyl radical over the frequency of 1MHz. It is confirmed that the methyl radical or the vinyl radical becomes thermal oxidation at the high temperature over $100^{\circ}C$ and then the dielectric disperssing owing to the carboxyl radical Is appeared. In the case of filled specimen, the dielectric constant is in creased with the additives of reinforcing fillers due to the effect of interfacial polarization explained by MWS(Maxwell-Wagner-Sillars)'s law. The dielectric loss is decreased by the disturbance of reinforcing fillers that is permeated between networks.
DBD(Dielectric Barrier Discharges) plasma is often used to clean the surface of semiconductor. The cleaning performance is affected mainly by plasma density and duration time. In this study, the plasma density is predicted by coupled simulation of flow, chemistry mixing and reaction, plasma, and electric field. 13.56 MHz of RF source is used to generate plasma. The effect of dielectric thickness, gap distance, and flow velocity on plasma density is investigated. It is shown that the plasma density increases as the dielectric thickness decreases and the gap distance increases.
An fine silver particle has a variety of uses, such as in killing micrograms and as catalysts. Many techniques have been used for the production of the fine particles. Faraday cell, consisting of two silver electrodes in an electrolyte, is unique, but it is hard to get a very fine particle by this method. A finer silver nano-particle producing cell, utilizing a dielectric bed as a lower electric current and higher field controlling means, has been proposed and investigated. The I-V characteristics of the cell and effect of the dielectric bed on the producing finer silver nano-particles have been investigated. The I-V characteristics of the cell with the dielectric bed were different from that of the same system without the bed, due to the increased cell resistance and elevated electric field intensity. It is found that the proposed cell with the dielectric bed can produce finer silver nano-particles effectively, which, however, can be used as one of effective fine silver nano-particle producing means.
0.15(B $a_{0.95}$ S $r_{0.05}$)O-0.15(S $m_{2(1-x}$/N $d_{2x}$) $O_{3}$-0.7Ti $O_{2}$(x=0-10[m/o]) ceramics were fabricated by mixed oxide method. Microwave dielectric properties were investigated with contents of N $d_{2}$$O_{3}$. In the case of specimen with N $d_{2}$$O_{3}$(6[m/o]), dielectric constant, quality factor and temperature coefficient of resonant frequency were 78.14, 2938(at 3[GHz]) and +14.19[ppm/.deg. C], respectively. By comparison its properties with undoped specimen, dielectric constant and quality factor were highly improved, but the temperature coefficient of resonant frequency was increased to positive value......
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제6권5호
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pp.210-213
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2005
The $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films were fabricated by the screen printing method on alumina substrates. The effect of the sintering temperature on the microstructure and dielectric properties of the $BaTiO_3/SrTiO_3$ thick films has been investigated. The relative dielectric constant and dielectric loss at 1 MHz of the $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films with sintering temperature of $1350^{\circ}C$ were about 751 and 1.74, respectively. The remanent polarization $(P_r)$ of the pure $(Ba_{0.5}Sr_{0.5})TiO_3$ and $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered films are approximately $5.1\;{\mu}C/cm^2$ and $10\;{\mu}C/cm^2$. This study suggests that the design of the $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films capacitor with different phase should be an effective method to enhance the dielectric and ferroelectric performance in devices.
Park, Ki-Yeol;Cho, Hyun-Ick;Lee, Eun-Jin;Hahm, Sung-Ho;Lee, Jung-Hee
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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제5권2호
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pp.107-112
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2005
We present an AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor-heterostructure field effect transistor (MIS-HFET) with an $Al_2O_3-HfO_2$ laminated high-k dielectric, deposited by plasma enhanced atomic layer deposition (PEALD). Based on capacitance-voltage measurements, the dielectric constant of the deposited $Al_2O_3-HfO_2$ laminated layer was estimated to be as high as 15. The fabricated MIS-HFET with a gate length of 102 m exhibited a maximum drain current of 500 mA/mm and maximum tr-ansconductance of 125 mS/mm. The gate leakage current was at least 4 orders of magnitude lower than that of the reference HFET. The pulsed current-voltage curve revealed that the $Al_2O_3-HfO_2$ laminated dielectric effectively passivated the surface of the device.
Sol-Gel derived ferroelectric PZT thin films were fabricated on ITO/Glass substrate. Two kinds of rapid thermal annealing methods, R-I (six times of intermediate and final annealing) and R-II (one final annealing after six times of intermediate annealing) were used for preparation of multi-coated PZT thin films. 2500$\AA$-thick PZT thin films were obtained by the R-I and R-II methods and characterized by microstructure and dielectric properties. In case of using R-II, the microstructure was finer than that of R-I and there was no distinguishable difference in dielectric properties of PZT thin films between the R-I and R-II methods. But dielectric properties were enhanced by increasing perovskite phase fraction with increasing annealing temperature. Measured dielectric constant of PZT thin film annealed at 62$0^{\circ}C$ using the R-I method was 256 at 1kHz. Its remanant polarization (Pr) and coercive field (Ec) were 14.4$\mu$C/$\textrm{cm}^2$ and 64kV/cm, respectively.
In this paper, effect of MnO$_2$ addition(0, 0.1, 0.2, 0.3, 0.5wt%) on the microstructure, dielectric and piezoelectric properties of [xPMW - (0.15-x) PNN] - [yPT-(0.85-y)PZ] (x=0, 0.01, 0.02, 0.03, 0.05, y = 0.35, 0.40, ().425, 0.45, 0.5) were investigated. When Ti/Zr ratio was 1.0, dielectric and piezoelectric properties were highest value. With PMW 2mol%, dielectric constant, dielectric constant (d$\_$33/, d$\_$31/) and electromechanical coupling factor (kp, k$\_$31/) were highest values of 1995, 479, 186(x10$\^$-12/C/N), 0.61, 0.36, respectively. With the addition of MnO$_2$, dielectric constant, electromechanical coupling factor (kp, k$\_$31/) were decreased, but with 0.3wt% MnO$_2$, eletromechanical coupling factor was highest value of 0.63. With the addition of MnO$_2$, mechanical quality(Q$\_$m/ was increased.
It is generally accepted that ultra low dielectric interlayer dielectric materials (k < 2.2) will be necessary for ULSI advanced microelectronic devices after 2003, according to the International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS) 2000. A continuous reduction of dielectric constant is believed to be possible only by incorporating nanopores filled with air (k = 1.0) into electrically insulating matrices such as poly(methyl silsesquioxane) (PMSSQ). The nanopo.ous low dielectric films should have excellent material properties to survive severe mechanical stress conditions imposed during the advanced semiconductor processes such as chemical mechanical planarization process and multilayer fabrication. When air is incorporated into the films for lowering k, their mechanical strength has inevitably to be sacrificed. To minimize this effect, the nanopores are controlled to exist in the film as closed cells. The micromechanical properties of the nanoporous thin films are considered more seriously than ever, particularly for ultra low dielectric applications. In this study, three approaches were made to design and develop nanoporous low dielectric films with improved micromechanical properties: 1) wall density increase of nanoporous organosilicate film by copolymerization of carbon bridged comonomers; 2) incorporation of sacrificial phases with good miscibility; 3) selective surface modification by plasma treatment. Nanoporous low-k films were prepared with copolymerized PMSSQ and star-shaped sacrificial organic molecules, both of which were synthesized to control molecular weight and functionality. The nanoporous structures of the films were observed using field emission scanning electron microscopy, cross-sectional transmission electron microscopy, atomic force microscopy, and positronium annihilation lifetime spectroscopy(PALS). Micromechanical characterization was performed using a nanoindentor to measure hardness and modulus of the films.
Recently, there has been growing interest in low loss and low dielectric constant material for LTCC application, as the frequency range for electronic devices increases. This study was designed to evaluate the effect of cordierite filler for low dielectric constant LTCC material. From the previous experiments, two glass compositions of B-Si-Al-Zn-Ba-Ca-O and B-Si-Al-Sr-Ca-O system, were chosen. Each powder of two glass compositions was sintered respectively with commercial cordierite powder in temperature range from $800^{\circ}C\;to\;900^{\circ}C$. Crystalline cordierite and glass peaks were affected only with two factors of composition and sintering temperature among various factors. With the optimized condition of two cordierite/glass compositions, obtained dielectric constant was below 5.5 and quality factor was above 1,000. Closed pore of sintered body was controled by sintering temperature and sintering time. When cordierite/glass composite with ratio of 5.5:4.5 was sintered at $900^{\circ}C$, densification was sufficient with good dielectric characteristics of ${\epsilon}_r<5.1,\;Q{\ge}1,000$. Residual fine closed pores could be reduced with control of sintering temperature and time. 3 point bending strength and chemical durability were evaluated to obtain feasibility for substrate material.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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