The 4-probe method with a voltage tap on terminals has been used for the measurement of the critical current of multi-strand high-Tc superconducting (HTS) cables. And the critical current of cables is obtained as the measured total current divided by the number of conductor when the terminal voltage exceeds the predetermined criterion of critical current. However, because of the non-uniform current distribution due to the different critical current, shapes, and other characteristics of each conductor this is not applicable method to the multi-strand HTS cable. To determine the critical current of multi-strand HTS cable the critical current of each conductor must be measured with different method. In this paper, the current distribution and the critical current of each conductor in multi-strand cable were measured with specially made pick-up coils and voltage taps. It is presented that the real critical current of multi-strand is smaller than sum of each conductors. The main cause of non-uniform current distribution is the different resistances appeared in each HTS wires.
This paper deals with harmonic components of the voltage on high temperature superconducting wire carrying an alternating current. HTS wire is used to manufacture superconducting power applications carrying an alternating current. Typically, international standard, IEC 61788-3 is used for critical current measurement. Thus, it is not ideal that critical current criteria in dc are adapted to superconducting power devices to decide the operating current of the devices. In this paper, we confirmed odd harmonic voltage on HTS wires carrying an AC. The ratio between harmonic components and fundamental component can be significant clues to decide the critical current criteria for HTS wire and its power applications in AC circumstance.
The AC loss is an important issue in the design of the high temperature superconductor (HTS) power cables, which consist of a number of lli 2223 tapes wound on a former. In the cables, the tapes have different critical currents intrinsically. And they are electrically connected to each other and current leads. These make loss measurements considerably complex, especially for short samples of laboratory size. In this work we have prepared a multi-tape conductor composed of Bi-2223 tapes. The at losses of the conductor have experimentally investigated. The loss tests indicate that the effect of tapes critical currents on AC loss measurement in the multi tape conductor is negligible only if currents in the tapes flow uniformly Moreover, the measured tosses of the conductor are in good agreement with the sum of the transport losses in the tapes. However, in the case of non-uniform current distributions, the measured AC losses considerably depend on the current distribution parameter of the positioning of a voltage lead. Thus special cautions should be needed for the measurement of the true AC losses in the short power cable samples.
The variation of critical current by the formation of crack in a high temperature super-conducting tape was studied by experimental and numerical analyses. The current-voltage relation of HTS tape is measured by the four-point measurement method. Numerical analyses are used to solve two dimensional heat conduction equation, considering the temperature distribution. By comparing current-voltage relation of experimental and numerical results, the validity of numerical method is verified.
Lee, C. W.;Kim, D. H.;Lee, T. W.;Sung, Gun-Yong;Kim, Sang-Hyeob
Progress in Superconductivity
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제3권1호
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pp.65-69
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2001
We measured the transport properties of$ YBa_2$$Cu_3$$O_{x}$ ramp-edge junction fabricated with interface-engineered barrier. The current-voltage characteristics show a typical resistively-shunted junction like behavior Voltage noise measurement revealed that the main source of the 1/f noise is the critical current and resistance fluctuations. The analysis of the noise data showed that the critical current fluctuations increase with temperature, whereas the resistance fluctuations are almost constant, and both fluctuations are almost correlated. The smaller magnitude of the critical current and resistance fluctuations seems to result from the columnar-deflects.s.
This paper presents a precise edge detection algorithm for the critical dimension (CD) measurement of a Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Display (TFT-LCD) pattern. The sigmoid surface function is proposed to model the blurred step edge. This model can simultaneously find the position and geometry of the edge precisely. The nonlinear least squares fitting method (Levenberg-Marquardt method) is used to model the image intensity distribution into the proposed sigmoid blurred edge model. The suggested algorithm is verified by comparing the CD measurement repeatability from high-magnified blurry and noisy TFT-LCD images with those from the previous Laplacian of Gaussian (LoG) based sub-pixel edge detection algorithm and error function fitting method. The proposed fitting-based edge detection algorithm produces more precise results than the previous method. The suggested algorithm can be applied to in-line precision CD measurement for high-resolution display devices.
In this papre, AC losses of Bi-2223 tapes with different twist pitch of superconducting core were fabricated, measured and analyzed. These samples produced by a powder-in-tube method are multi-filamentary tape with Ag matrix. Also, it's produced by non-twist and different twist pitch(8, 10, 13, 30, 50, 70 mn). The critical current measurement was carried out under the environment in Liquid nitrogen and in zero field by 4-probe method. And the AC loss measurement was carried out under the environment of applied time-varying transport current by transport method. From experiment, the critical current is larger non-twist than twisted filament. And, the AC loss by Norris equation is higher non-twisted tape than 13mm twisted tape. Also, it is confirmed that of AC loss of tape having non-twist pitch larger than those having differnet twist pitch.
AC loss is an important factor in the development of superconducting tapes and superconducting power applications. In this paper we measured and compared characteristics of BSCCO tape and YBCO Coated Conductor(YBCO CC). BSCCO tape was fabricated by PIT method. We measured critical current density and transport current loss of it. Also, YBCO CC tape consist of substrate. buffer, YBCO and metal layers. We measured critical current density on variations of external magnetic field and transport current loss of these cases. The results of measurement show that normalized critical current of YBCO CC is smaller then that of BSCCO tape in the external magnet field. According to the results. measured loss and calculated of the YBCO CC show the same tendency.
For the purpose of standardization of the critical current measurement, it is meaningful to describe how $I_{c}$ will behave as the stress/strain level changes. In this study, strain dependencies of the critical current $I_{c}$ in Ag-alloy sheathed multifilamentary Bi(2212) and Bi(2223) superconducting tapes were evaluated at 77K, 0T. The external reinforcement was accomplished by soldering AgMgNi alloy tapes onto single or both sides of the sample. With the external reinforcement to the Bi(2212) tape, the strength of the tapes increased but the critical current at the strain free state, $I_{c0}$ decreased in some cases. The strain for onset of the $I_{c}$ degradation, $\varepsilon$$_{\irr}$, increased with an increase of the reinforcing volume and then saturated to a certain value. The effect of external reinforcement on the degradation of $I_{c}$ due to the bending strain in the Bi(2223) tape was also examined. Contrary to the expectation, it showed a significant $I_{c}$ degradation even at a small strain of 0.4 %. The observations of damage morphologies gave a good explanation to the $I_{c}$ behavior.c/ behavior.r.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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