We propose a dual Fabry-Perot interferometer (DFPI) structure that combines two Fabry-Perot interferometers. The structure is designed to have spectral peaks in the red, green, and blue regions simultaneously, to be applicable to R, G, and B subpixels without any patterning process. The optimized structure has been fabricated on a glass substrate using a thermal evaporation technique. When the DFPI structure was attached to the quantum-dot color-conversion layer, the full width at half maximum values of the green and red spectra decreased by 47.29% and 51.07% respectively. According to CIE 1931 color space, the DFPI showed a 37.66% wider color gamut than the standard RGB color coordinate. Thus it was experimentally proven that the proposed DFPI structure improved color purity. This DFPI structure will be useful in realizing a display with high color purity.
Kim Sang Moon;Yoon Sang Youl;Kwon Sung Hoon;Kim Kyung Chun
한국가시화정보학회:학술대회논문집
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2004.11a
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pp.60-63
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2004
A new PIV technique was developed for decreasing optical error which was created during simultaneous measurements of velocity fields at a wall-normal plane and wall-parallel plane by a plane PIV and a Stereoscopic PIV system. The two Nd:Yag laser systems and three CCD cameras were. synchronized to obtain instantaneous velocity fields at the same time. To avoid optical noise at the crossing line by the two laser light sheets, a new optical arrangement using polarization was applied. The obtained velocity fields show the existence of hairpin packet structure vividly and the idealized hairpin vortex signature is confirmed by experiment.
We report a novel structure for a full-color AMOLED (Active Matrix Organic Light Emitting Diode) eliminating the patterning process of a blue emitting layer. The patterning of the three primary colors, RGB, is a key technology in the OLED fabrication process. Conventional full color AMOLED containing RGB layers includes the three opportunities of the defects to make an accurate position and fine resolution using various technologies such as fine metal mask, ink-jet printing and laser-induced transfer system. We can skip the blue patterning step by simply stacking the blue layer as a common layer to the whole active area after pixelizing two primary colors, RG, in the conventional small molecular OLED structure. The red and green pixel showed equivalent performances without any contribution of the blue emission.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.07a
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pp.326-329
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2002
In this paper, we investigated a feasibility of cerium oxide(CeO$_2$) films as a buffer layer of MFIS(metal ferroelectric insulator semiconductor) type capacitor. CeO$_2$ layer were Prepared by two step process of a low temperature film growth and subsequent RTA (rapid thermal annealing) treatment. By app1ying an ultra thin Ce metal seed layer and N$_2$ Plasma treatment, dielectric and interface properties were improved. It means that unwanted SiO$_2$ layer generation was successfully suppressed at the interface between He buffer layer and Si substrate. The lowest lattice mismatch of CeO$_2$ film was as low as 1.76% and average surface roughness was less than 0.7 m. The Al/CeO$_2$/Si structure shows breakdown electric field of 1.2 MV/cm, dielectric constant of more than 15.1 and interface state densities as low as 1.84${\times}$10$\^$11/ cm$\^$-1/eV$\^$-1/. After N$_2$ plasma treatment, the leakage current was reduced with about 2-order.
The electrolytic boronizing on carbon steels in the mixture of $Na_2B_4O_7$ and NaCl was conducted at 750~$950^{\circ}C$ for 1~6 hours under 0.5A/$\textrm{cm}^2$ current density. The micorostructrure and microheredness of boronized layer was also studien. The effect of the additive such as $CaCl_2$ or NaOH on the formation of boronized layer was also investigated. The boronized layer were composed of two sublayers, i.e., FeB and $Fe_2B$ , which have tooth structure. the average layer thinknesses of the low carbon steel and SM45C boronized at $900^{\circ}C$ for 4hours were 153 and 138 $\mu\textrm{m}$, respectively. The thickness of the twosublayers was significantly increased with increasing boronizing temperature. To obtain a single $Fe_2B$ layer without FeB sublayer, the boronized materials ware homegenized at $950^{\circ}C$ for 4 hours. It was fount that the single layer with a microhardness Hv$\thickapprox$ 1120 -1250 was formed. The calculated activation energies for formation of boronized layer on the low carbon steel and SM45C were 18.7 and 12.6 Kcal/mol, respectively.
The antiferromagnet IrMn based four different GMR-SV multilayers on Corning glass were prepared by using ion beam deposition and DC magnetron sputtering system. The magnetoresistance (MR) properties for single-type and dual-type GMR-SV multilayer films were investigated through the measured major and minor MR curves. The exchange bias coupling field ($H_{ex}$) and coercivity ($H_c$) of pinned layer, the $H_c$ and interlayer exchange coupling field ($H_{int}$) of free layer for the dual-type structure GMR-SV multilayer films consisted of top IrMn layer were 410 Oe, 60 Oe, 1.6 Oe, and 7.0 Oe, respectively. The minor MR curve of two free layers was performed the squarelike feature having a MR ratio of 8.7 % as the sum of 3.7 % and 5.0 %. The value of average magnetic field sensitivity (MS) was maintained at 2.0 %/Oe. Also, the magnetoresistance properties of the single-type and dual-type structure GMR-SV multilayer films consisted of bottom IrMn layer were decreased more than those of top IrMn layer. Two antiparallel states of magnetization spin arrays of the pinned and free layers in the dual-type GMR-SV multilayer films occurred the maximum MR value by the effect of spin dependence scattering.
Mun, Sang Ho;Kim, See Jo;Lee, Chang Hee;Lee, Seong
Journal of the Korea Institute of Military Science and Technology
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v.19
no.2
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pp.202-210
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2016
The development of new concepts of liner is of great importance to effectively neutralize the enemy's attack power concealed in the protective structure or armored vehicles. A double layer liner has a combination of two different materials, one for penetration of target and the other for explosion after penetration. Therefore, it is of great importance to understand the temperature distribution before impact which should be lower than the explosive temperature of pure explosive material of the liner used. In this study, two different liner materials were obtained using cold spray coating and these material properties were characterized by DSC experiments. Numerical computations were done and the effect of temperature distribution and changes over time at each point of the explosive material depending on the layer types of the liner were discussed and analysed in the jet state.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.23
no.11
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pp.896-900
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2010
Electrical properties of organic light-emitting diodes were studied in a device with 7,7,8,8-tetracyano-quinodimethane (TCNQ) to see how the TCNQ affects on the device performance. Since the TCNQ has a high electron affinity, it is used for a charge-transport and injection layer. We have made a reference device in a structure of ITO(170 nm)/TPD(40 nm)/$Alq_3$(60 nm)/LiF(0.5 nm)/Al(100 nm). And two types of devices were manufactured. One type of device is the one made by doping 5 and 10 vol% of TCNQ to N,N'-diphenyl-N,N'-di(m-tolyl)-benzidine (TPD) layer. And the other type is the one made with TCNQ layer inserted in between the ITO anode and TPD organic layer. Organic layers were formed by thermal evaporation at a pressure of $10^{-6}$ torr. It was found that for the TCNQ doped devices, turn-on voltage of the device was reduced by about 20 % and the current efficiency was improved by about three times near 6 V. And for devices with TCNQ layer inserted in between the ITO anode and TPD layer, it was found that the current efficiency was improved by more than three times even though there was not much change in turn-on voltage.
A novel method was proposed to grow an epitaxial $CoSi_2$ on (100)Si substrate. A $CoN_x$ interlayer was deposited by reactive sputtering of Co in an Ar+$N_2$ flow. From the Ti/Co/$CoN_x$/Si structure, a uniform and thin $CoSi_2$ layer was epitaxially grown on (100)Si by annealing above $700^{\circ}C$. Two amorphous layers were found at the $CoN_x$/Si interface, where the top layer has a silicon nitride (Si-N) bonding state with some Co content and the bottom layer has a Co-Si intermixing state. The SiNx amorphous layer seems to play a critical role of suppressing the diffusion of Co into Si substrate for the direct formation of epitaxial $CoSi_2$.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2001.11a
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pp.459-462
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2001
Interface effects on properties of NTC thermistors having Mn-Co-O spinel crystal structure system are analyzed by a mixing rule in case of mixed types and layered types between CuO and Al$_2$O$_3$ added compounds. With adding CuO and Al$_2$O$_3$, The compounds form completely solid solution and their resistance and B constant are changed due to the variation of conduction electrons by their ionic substitutions. The properties of mixed NTC thermistors are depended on the logarithmic mixing rule by a dispersed phase and they show slightly lower values due to the lattice mixing affect in compared with calculated values. The resistance of layered NTC thermistors is depended upon the series mixing rule containing the value of an interface layer and effected by the variation of its thickness, and it is changed rapidly to the logarithmic mixing rule by the connection between two layers with increasing the interface layer
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[게시일 2004년 10월 1일]
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