한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
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pp.1503-1506
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2005
This dissertation represents method concerning high performance prism LGP design in 17 inch TFT-LCD. By means of developing LGP with total size of 8mm that has prism on both upper side and bottom side, it is superior to previous printing way in gaining high brightness. It can realize actual material simulation on prism LGP production using 17inch injection process and about 20% luminance enhancement is achieved based on such method.
한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권2호
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pp.1168-1171
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2007
Integrating systems on TFT-LCD panels is more and more popular for the mobile display application. However, it may not be necessary to use LTPS TFT devices. A-Si TFTs are used to integrate systems on TFT-LCD panels, especially scan (gate) drivers. To further reduce the chip size of driver IC, the triplegate pixel structure is developed. Therefore, the number of the source lines is reduced to 1/3 times.
본 논문은 새로운 형태의 TFT-LCD 자동 화질 최적화 시스템을 제안한다. 또한 참조 감마 곡선과의 6-점 프로그램 정합 기술을 이용한 새로운 알고리즘 및 자동 전압 설정 알고리즘을 제안한다. 이러한 시스템은 평균 감마 오차, 감마 조정 시간 및 플리커 등을 줄이기 위해 모바일 LCD 구동 IC 내의 감마 조정 레지스터들과 전압 설정 레지스터들을 자동적으로 제어한다. 개발된 알고리즘과 프로그램은 범용 LCD 모듈에 적용 가능하다. 제안된 최적 화질 향상 시스템은 측정 대상이 되는 모듈 (MUT, LCD 모듈), 제어 프로그램, 휘도 측정용 멀티미디어 디스플레이 측정기 및 인터페이스용 제어 보드로 구성되어 있다. 제어 보드는 DSP와 FPGA로 구성되어 있고, RGB 및 CPU와 같은 다양한 인터페이스들을 지원한다. 개발된 자동 화질 최적화시스템은 기존의 시스템에 비해 현저히 짧은 감마 조정시간, 적은 플리커 및 적은 평균 감마 오차를 보였다. 본 논문에서 제안하는 시스템은 최적 감마 곡선 및 자동 전압 설정을 이용하기 때문에 개발 공정 시간을 단축시키고, 고화질의 TFT-LCD를 제공하는데 아주 유용하다.
본 논문은 비전장비의 결함 검사 시스템을 위한 불균일한 휘도분포를 가지는 TFT-LCD 영상에서 결함 영역을 분할하는 방법을 다룬다. 불균일한 휘도분포 때문에 결함의 영역을 찾기 어려우며 이를 위해 많은 방법들이 제안되었다. Kamel과 Zhoa는 문자 및 그래픽의 분할을 위해 논리적 단계화 방법을 제안하였고, 이 방법은 공간상에서 수행되어지는 지역적 분할 방법으로 불균일한 분포 상에서도 문자가 잘 분할되는 장점이 있다. TFT-LCD의 저해상도 영상도 배경의 분포가 불균일하여 본 논문에서는 Kamel과 Zhoa의 방법을 답습하여 새로운 결함 영역 분할 방법을 제안한다. 제안한 방법은 결함주위에 발생하는 과검출(Ghost object)이 적은 장점이 있으며 제안 방법의 성능을 증명하기위해 실제 결함이 존재하는 TFT-LCD 영상을 이용하여 실험하고, 주파수상에서 많이 사용되는 FFT의 밴드패스 필터를 이용한 분할 방법과 비교하였다.
이 논문에서는 TFT-LCD의 제조공정에서 생기는 결함(Mura)을 효율적으로 검출할 수 있는 새로운 전기적인 검출방식을 제안한다. TFT-LCD의 결함은 영역을 갖고 있으므로 어느 한 라인에서는 sin파의 모양으로 관찰된다. 따라서 FFT 변환을 통하여 문턱치와 비교하면 쉽게 결함이 검출될 수 있음을 보였다. 여러 가지 크기의 결함 패턴이 발생한 경우에도 Multi-point FFT 변환을 수행하면 크기가 일치하는 FFT 변환으로 효과적으로 검출됨을 보였다. 따라서 이 논문에서 제안된 알고리즘은 TFT-LCD의 자동 결함 검출 장치에 다양하게 이용될 수 있을 것이다.
In this study we consider the problem of production planning of TFT-LCD(Thin Film Transistor - Liquid Crystal Display) production factory. Due to the complexities of the TFT-LCD production processes, it is difficult to schedule the production planning, and the study about automated scheduler is insufficient. In addition, the existing production method is a Push-System to raise the operation rate with expensive equipment, that has the problem to satisfy the due-date. This study presents an algorithm having a concept of Pull-System that satisfies the due-date and considers specialties of TFT-LCD production process. We make MPS(Master Production Schedule) according to the sales order, and present algorithms for scheduling about In/Out plan considering factory capacity, line balancing, material requirement, and inventory level of all Array, Cell, and Module processes. These algorithms are integrated as an automated production system, and we implement them in the actual TFT-LCD factory circumstance.
The impact behavior of TFT-LCD module is very complicated because the module is assisted with three parts such as back light unit, LCD Panel and top chassis. Especially, the back light unit is constructed with several small and thin parts made by plastics or steels. The design of the back light unit is very important because the recent demand is more lighter, thinner and narrower module. The aim of the present study is the investigation of mechanical characteristics during impact loading. The back light unit must assist TFT-LCD Panel made by glass and guide qualification of handling environment. This paper focus on the dynamic behavior of module and carries out a series of computer simulation using LS-DYNA program. Comparing with test results previously performed, dynamic characteristics of TFT-LCD module are estimated.
A 30-inch WQXGA+ TFT-LCD Monitor has been developed based on in-plane switching mode with multi-domain. This product adopts Cu electrode which, in spite of low resistivity, was not applied to TFT LCD products because of productivity and reliability problems etc. This low resistivity material makes it possible to clear the problem caused by line delay in such high resolution TFT-LCDs. As a results of successful adoption of innovative materials and technologies, our world's largest TFT-LCD Monitor has best performance for high information display.
In this paper, an automated line-defect detection method for TFT-LCD panel is presented. A DFB(Directional Filter Bank) and line-projection method are used to find line-defect which is one of the major defects occurred in TFT-LCD panel. The experimental results show that the proposed algorithm gave promising results for applying automated inspection technique for TFT-LCD panel.
This paper proposes a defect cell extraction algorithm for TFT-LCD auto-repair system. Auto defect search algorithm and automatic defect cell extraction method are very important for TFT-LCD auto repair system. In the previous literature[1], we proposed an automatic visual inspection algorithm of TFT-LCD. Based on the inspected information(defect size and defect axis, if defect exists) by the automatic search algorithm, defect cells should be extracted from the input image for the auto repair system. For automatic extraction of defect cells, we used a novel block matching algorithm and a simple filtering process in order to find a given reference point in the LCD cell. The proposed defect cell extraction algorithm can be used in all kinds of TFT-LCD devices by changing a stored template which includes a given reference point. Various experimental results show the effectiveness of the proposed method.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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