Kim, Yong-Nam;Lee, Seoung-Soo;Song, Jun-Kwang;Noh, Tai-Min;Kim, Jung-Woo;Lee, Hee-Soo
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.18
no.1
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pp.50-55
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2008
AI-doped ZnO(AZO) thin films have been fabricated on glass substrate by sol-gel method, and the effect of Al precursors and post-annealing temperature on the characteristics of AZO thin films was investigated. The sol was prepared with zinc acetate, EtOH, MEA and Al precursors. In order to dope Al in ZnO, two types of aluminum nitrate and aluminum chloride were used as Al precursor. Zinc concentration was 0.5 mol/l and the content of Al precursor was 1 at% of Zn in the sol. The sol was spin-coated on glass substrate, and the coated films were annealed at 550ue for 2 hand were post-annealed at temperature ranges of $300{\sim}500^{\circ}C$ for 2 h in reducing atmosphere ($N_2/H_2$= 9/1). Structural, electrical and optical propertis of the fabricated AZO thin films were analyzed by XRD, FE-SEM, AFM, hall effect measurement system and UV-visible spectroscopy. Optical and electrical properties of AZO thin films prepared with aluminum nitrate as Al precursor were better than those of films prepared with aluminum chloride. The electrical resistivity and the optical transmittance of films decreased with increasing post-annealing temperatures. The minimum electrical resistivity of $2{\times}10^{-3}$ and the maximum optical transmittance of 91% were obtained for the AZO thin films post-annealed at $550^{\circ}C\;and\;300^{\circ}C$, respectively.
La doped CuO-ZnO-$Al_2O_3$ powders are prepared by sol-gel method with aluminum isopropoxide and primary distilled water as precursor and solvent. In this synthesized process, the obtained metal oxides caused the precursor such as copper (II) nitrate hydrate and zinc (II) nitrate hexahydrate were added. To improve the surface areas of La doped CuO-ZnO-$Al_2O_3$ powder, sorbitan (z)-mono-9-octadecenoate (Span 80) was added. The synthesized powder was calcined at various temperatures. The dopant was found to affect the surface area and particle size of the mixed oxide, in conjunction with the calcined temperature. The structural analysis and textual properties of the synthesized powder were measured with an X-ray Diffractometer (XRD), a Field-Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), Bruner-Emmett-Teller surface analysis (BET), Thermogravimetry-Differential Thermal analysis (TG/DTA), $^{27}Al$ solid state Nuclear Magnetic Resonance (NMR) and transform infrared microspectroscopy (FT-IR). An increase of surface area with Span 80 was observed on La doped CuO-ZnO-$Al_2O_3$ powders from $25m^2$/g to $41m^2$/g.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2016.02a
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pp.312.1-312.1
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2016
We have deposited ZnO thin films by ultraviolet (UV) enhanced atomic layer deposition using diethylznic (DEZ) and water (H2O) as precursors with UV light. The atomic layer deposition relies on alternating dose of the precursor on the surface and subsequent chemisorption of the precursors with self-limiting growth mechanism. Though ALD is useful to deposition conformal and precise thin film, the surface reactions of the atomic layer deposition are not completed at low temperature in many cases. In this experiment, we focused on the effects of UV radiation during the ALD process on the properties of the inorganic thin films. The surface reactions were found to be complementary enough to yield uniform inorganic thin films and fully react between DEZ and H2O at the low temperature by using UV irradiation. The UV light was effective to obtain conductive ZnO film. And the stability of TFT with UV-enhanced ZnO was improved than ZnO by thermal ALD method. High conductive UV-enhanced ZnO film have the potential to applicability of the transparent electrode.
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.66
no.10
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pp.1488-1493
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2017
Boron-doped ZnO:Al films were deposited by rf magnetron sputtering. The structural and optical property variations of the films with the boron amounts were studied. ZnO nanorods were grown on $SiO_2/Si$ wafers and glass by a hydrothermal method. ~50 nm-thick boron-doped ZnO:Al films were deposited on the substrates as seed layers. The mixed solution of zinc nitrate hexahydrate and hexamethylenetetramine in DI water was used as a precursor for ZnO nanorods. The concentration of zinc nitrate hexahydrate and that of hexamethylenetetramine were 0.05 mol, respectively. ZnO nanorods were grown at $90^{\circ}C$ for 2 hours. X-ray diffraction was conducted to observe the crystallinity of ZnO nanorods. A field emission scanning electron microscope was employed to study the morphology of nanorods. Optical transmittance was measured by a UV-Vis spectrophotometer, and photoluminescence was carried out with 266 nm light. The ZnO nanorods grown on the 0.5 wt% boron-doped ZnO seed layer showed the best crystallinity.
In this study, we tried to find out the appropriate synthetic condition and magnetic properties of Ni-Zn ferrite {(NixZn1-x)Fe2O4} powders (where X=0, 0.1, 0.2, 0.3, ……0.9, 1). Ferrite powders were prepared by wet-direct method at 86℃ for 6hrs from FeCl36H2O, NiCl26H2O, and ZnCl2. The powders of (NixZn1-x)Fe2O4 (where X=0.4, 0.5, 0.6) have a good crystallinity, but the other ferrite powders consist of crystal and precursor ferrite. The ferrite powder's lattice constant is increased when ratio of ZnO contant is increased in the ferrite composition. And initial permeability was measured after sintering, result indicated regular pattern except (Ni0.4Zn0.6)Fe2O4 when the frequency were changed 10KHz to 10MHz.
ZnO/n-Si junctions were fabricated by spin coating with ZnO precursor produced by the sol-gel process. In order to increase the electrical conductivity of ZnO films, the films were n-doped with Al impurity and subsequently annealed at about $450^{\circ}C$ under reducing environments. The ohmic contacts between n-Si and AI for a bottom electrode were successfully fabricated by doping the rear surface of Si substrate with phosphorous atoms. The front surface of the substrate was also doped with phosphorous atoms for improving the efficiency of the solar cells. Consequently, conversion efficiencies ranging up to about 5.3% were obtained. These efficiencies were found to decrease slowly with time because of the oxide films formed at the ZnO/Si interface upon oxygen penetration through the porous ZnO. Oxygen barrier layers could be necessary in order to prevent the reduction of conversion efficiencies.
The quarternary system ceramics 0.5[yPb(Zn1/3Nb2/3)O3-(1-y)Pb(Ni1/3Nb2/3)O3]-0.5[xPbTiO3-(1-x)PbZrO3](PZN-PNN-PT-PZ) was fabricated by the columbite precursor method to obtain a stabilized perovskite structure and by conventional method to evaluate the efficiency of the former methd. Dielectric and piezoelectric properties were investigated and the stability of the perovskite phase was studied as a function of PZN and PT contents and firing temperature. In the samples prepared by the columbite precursor method, the pyrochlore phase, which is detrimental to both the dielectric and piezoelectric properties, was not observed in the absence of PZN, and electric properties were improved even when fabricated at low temperature. By adding PZN, some pyrochlore phase appeared and the morphotropic phase boundary of the samples shifted to more Zr-rich composition. The temperature dependence of piezoelectric constant decreased with the addition of PZN, due to the rising of the Curie point.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.02a
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pp.178-178
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2010
We have deposited aluminum-doped ZnO thin films on borosilicate glass by atomic layer deposition. Diethylzinc (DEZ) and dimethylaluminum isopropoxide (DMAIP) were used as the metal precursor and the Al-dopant, respectively. Water was used as an oxygen source. DMAIP was successfully used as an aluminum precursor for chemical vapor deposition and ALD. All deposited films showed n-type conduction. The resistivity decreased to a minimum and then increased with increasing the aluminum content. The carrier concentration increased and the carrier mobility decreased with increasing the DMAIP to DEZ pulse ratio. The average optical transmittance was nearly 80 % in the visible part of the spectrum. The absorption edge moved to the shorter wavelength region with increasing the DMAIP to DEZ pulse ratio. Our results indicate that DMAIP is suitable for Al doping of ZnO films.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2012.08a
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pp.373-373
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2012
We fabricated conductive zinc oxide (ZnO) thin film at low temperature by UV-enhanced atomic layer deposition. The atomic layer deposition relies on alternate pulsing of the precursor gases onto the substrate surface and subsequent chemisorption of the precursors. In this experiment, diethylzinc (DEZ) and $H_2O$ were used as precursors with UV light. The UV light was very effective to improve the conductivity of the ZnO thin film. The thickness, transparency and resistivity were investigated by ellisometry, UV-visible spectroscopy and Four-point probe.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.21
no.4
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pp.147-152
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2011
ZnO nanorods fabricated on a Zn substrate pre-coated with ZnO as a seed layer by the hydrothermal method were studied mainly as a function of ZnO precursor concentration. Characteristic features by using field-emission scanning electron microscopy (FE-SEM) and X-ray diffraction (XRD) were investigated to define the changed micro-structure and crystalline phase of the ZnO nanorods according to the experimental conditions. The nanorod morphology strongly depended on the precursor concentration. For example, ZnO nanorods vertically aligned with a hexagonal (002) oriented structure with a diameter of 600~700 nm and length of $6.75{\mu}m$ were clearly observed at the highest concentration of 0.015 M. The strong hexagonal structure was believed to be associated with the highest photoluminescene (PL) intensity and a promising voltage value of ca. 6.069 V at $1000{\mu}A$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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