• 제목/요약/키워드: X-ray Detector

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Charge Redistribution of Pt-based Alloys

  • Lim, K.Y.;Chung, Y.D.;Kwon, S.Y.;Lee, Y.S.;C.N.Whang;Y.Jeon;Park, B.S.
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 1999년도 제17회 학술발표회 논문개요집
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    • pp.171-171
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    • 1999
  • We studied the charge redistribution in the Pt-M (M=Cu, Co) alloys by X-ray Absorption Near Edge Spectroscopy(XANES) and X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS). These analysis tools provide us information about the charge transfer in the valence band of intermetallic bonding. The samples were prepared by arc-melting method. After annealing this samples in vacuum for several hours, we cold get the ordered samples, which were confirmed with XRD analysis. the core and valence level energy shift in these system were investigated by Mg $K\alpha$(1253.6eV) x-ray source for Pt-Co alloys and monochromatized Al $K\alpha$ (1486.6eV) for Pt-Cu alloys. Pt L2, L3-edge, and Cu, Co K-edge XANES spectra were measured with the total electron-yield mode detector at the 3Cl beam line of the PLS (Pohang light source0. from the changes of White line (WL) area and the core level shifts of the each metal sites, we can obtain the information about the electrons participating in the intermetallic bonding of the Pt-Cu and Pt-Co alloys.

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일반광원을 이용한 진단용 X선 모사 실험장치 개발을 위한 예비 연구 (A Preliminary Study for the Development of Diagnostic X-ray Simulator using Visible Light Source)

  • 정광호;서태석;이형구;최보영;윤세철
    • 한국의학물리학회지:의학물리
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    • 제13권3호
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    • pp.169-175
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    • 2002
  • 본 연구는 일반광원을 이용한 진단용 X선 모의실험장치 개발의 타당성 검토를 위한 예비연구로서 소규모 실험장치를 제작하고 실제로 X선 투사 영상과 같은 영상을 획득할 수 있는지 여부를 확인하였다. 실험장치는 선원부, 로컬라이저, 검출기부분 등 크게 세부분으로 나뉘어졌다. 공간상에 직교좌표계를 설정하고 표적이 놓이는 위치를 원점으로 하였고, 선원에서 빛이 나오면 표적 투과 후 스크린에 영상이 형성되고 스크린 뒤편에서 디지털카메라로 영상기록 후 좌우 반전하였다. 선원으로부터의 거리에 따른 필드크기의 변화, 핀홀 크기에 따른 음영의 발생과 밝기, 좌표를 통한 오차평가 결과 본 연구에서 개발된 실험장치로 X선 모사실험이 가능함을 확인할 수 있었다.

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Hybrid 형 X선 Sensor 기술을 위한 a-Se:Te 필름의 성장 (Growth of a-Se:Te thick films for Hybrid X-ray sensor technology)

  • 차병열;박지군;최장용;강상식;김재형;남상희
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2003년도 춘계학술대회 논문집 센서 박막재료 반도체 세라믹
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    • pp.79-82
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    • 2003
  • a-Se film is known as promising medical X-ray detector material but a-Se as dopanted Tellurium is not available in X-ray detectors. a-Se thick film was grown by vacuum thermal evaporator to $3{\mu}m$ thickness. The characteristics of thick films were analyzed by XRD, U-V Meter, and SEM measurements. Te composition is 0.1, 0.3, 0.5, 0.7g. This paper is fundmental data for phosphor layer's essential parameter that selenium have absorption wavelength along to various Te concentration rate.

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병원관리 전산화

  • 김윤상
    • 대한의용생체공학회:의공학회지
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    • 제3권1호
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    • pp.49-50
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    • 1982
  • In this paper, the information capacity, the intergrate performance measure of digital radiography system has been quantitatively analyzed. The effect of various factors affecting the information capacity of the digital radiography system in multi-stage detection processes has been considered and analyzed in detail. The results show that the more information capacity can be obtained with the smaller detector cell area, despite of the reduced signal to noise ratio due to the reduced number of X-ray photons per detector cell. Considering the limit of human visual acuity. however, the sufficient resolution will be obtained when the detector cell size in 0.2${\times}$0.2mm with 8 bit quantizaion. And also the results indicates that the information capacity may be severely reduced by the mixture of electric noise in final read-out stage.

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NaI(Tl) Scintillator를 이용한 휴대용 방사선 검출 장치 구현에 대한 연구 (Research for realization of platform of portable radiation detector using NaI(Tl) Scintillator)

  • 이존휘;조율희;이윤호;임익찬;김영길
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제16권10호
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    • pp.2323-2328
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    • 2012
  • 전 세계적으로 해운물류 안전 보안체계가 강화됨에 따라 국가물류보안 체계 구축을 위한 유비쿼터스 기술 기반의 해운물류 안전 보안 핵심기술 개발이 이루어지고 있다. 현재까지의 U-기반 해운물류 안전보안 시스템 개발과 관련하여 X-선을 이용한 3차원 검색장치 즉, 화물검색장치 개발에 대한 핵심기술을 개발해 오고 있고, 추가적으로 감마선을 검출할 수 있는 휴대용 방사선 검출 장치의 개발 필요성이 높아지고 있다. 본 논문에서는 방사선에 의한 인체, 물체 및 공공상의 장해를 미연에 방지하기 위한 고속의 휴대용 방사선 검출 장치 플랫폼 구현에 대한 연구를 제안하고자 한다.

포톤 계수 방식의 $32{\times}32$ 픽셀 어레이를 갖는 디지털 CMOS X-ray 이미지 센서 설계 (A Design of Digital CMOS X-ray Image Sensor with $32{\times}32$ Pixel Array Using Photon Counting Type)

  • 성관영;김태호;황윤금;전성채;진승오;허영;하판봉;박무훈;김영희
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제12권7호
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    • pp.1235-1242
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    • 2008
  • 본 논문에서는 $0.18{\mu}m$ triple-well CMOS 공정을 사용하여 포톤계수 방식의 $32{\times}32$ 픽셀 어레이를 갖는 CMOS ray 영상센서를 설계하였다. 설계된 영상센서의 카픽셀은 $100{\times}100\;{\mu}m2$ 면적을 가지고 있고 약 400개의 트랜지스터로 구성되어 있으며, 범프 본딩을 통해 ray 검출기와 CSA(Charge Sensitive Amplifier)의 연결을 위한 $50{\times}50{\mu}m2$의 오픈패드를 가지고 있다. 각각의 싱글픽셀 CSA에서 전압 바이어스 회로를 사용한 folded cascode CMOS OP amp 대신 레이아웃 면적을 줄이기 위하여 self biased folded cascode CMOS OP amp를 이용하였으며, 계수 모드 진입 전후에 CLK에서 발생 할 수 있는 short pulse를 제거하는 15bit LFSR 계수기 (Linear Feedback Shift Register Counter) 클럭 발생회로를 제안하였으며, 읽기 모드에서 CMOS X-ray 영상센서의 최대 전류를 줄이기 위하여 열 어드레스 디코더를 이용하여 한 열씩 읽도록 설계하였다.

광검출기 응용을 위하여 스퍼터된 미세결정 SiGe 박막성장 연구 (The Study of Sputtered SiGe Thin Film Growth for Photo-detector Application)

  • 김도영;김선조;김형준;한상윤;송준호
    • 한국전기전자재료학회논문지
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    • 제25권6호
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    • pp.439-444
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    • 2012
  • For the application of photo-detector as active layer, we have studied how to deposit SiGe thin film using an independent Si target and Ge target, respectively. Both targets were synthesized by purity of 99.999%. Plasma generators were generated by radio frequency (rf, 13.56 MHz) and direct current (dc) power. When Ge and Si targets were sputtered by dc and rf power, respectively, we could observe the growth of highly crystalline Ge thin film at the temperature of $400^{\circ}C$ from the result of raman spectroscopy and X-ray diffraction method. However, SiGe thin film did not deposit above method. Inversely, we changed target position like that Ge and Si targets were sputtered by rf and dc power, respectively. Although Ge crystalline growth without Si target sputtering deteriorated considerably, the growth of SiGe thin film was observed with increase of Si dc power. SiGe thin film was evaluated as microcrystalline phase which included (111) and (220) plane by X-ray diffraction method.

전산화단층촬영장치에서 링 아티팩트 제거 (Removal of Ring Artifact in Computed Tomography)

  • 천권수
    • 한국방사선학회논문지
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    • 제9권6호
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    • pp.403-408
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    • 2015
  • 경엑스선은 물체의 내부구조 관찰에 유용하고 의료 및 산업분야에 광범위하게 사용되고 있다. 전산화단층촬영기법은 수백장의 투영영상을 이용하여 재구성함으로써 물체의 2차원 단면 영상을 얻을 수 있다. 단면 영상의 품질은 투영영상에 크게 의존한다. 투영영상을 얻는 검출기의 픽셀에 따라 링 아티팩트가 나타난다. 본 연구는 visual C++기반으로 한 원형 팬텀에서 검출기의 검출 에러에 따른 링 아티팩트 비를 조사하였다. 평행빔 및 부채살빔에서 링 아티팩트 비는 검출기의 검출 에러에 비례하여 나타났고, 회전 중심에 가까울수록 링 아티팩트는 강하게 나타났다. 전산화단층촬영의 단면 영상에서 링 아티팩트를 줄이기 위해서는 영상재구성 이전에 검출기의 보정이 필요함을 알 수 있었다.

Detection of Second-Layer Corrosion in Aging Aircraft Fuselage

  • Kim, Noh-Yu;Achenbach, J.D.
    • 비파괴검사학회지
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    • 제26권6호
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    • pp.417-426
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    • 2006
  • A Digital X-ray imaging system using Compton backscattering has been developed to obtain a cross-sectional profile and mass loss of corroded lap-splices of aging aircraft from density variation. A slit-type camera was designed to focus on a small scattering volume inside the material, from which the backscattered photons are collected by a collimated scintillator detector for interpretation of material characteristics. The cross section of the lap-joint is scanned by moving the scattering volume through the thickness direction of the specimen. The mass loss of each layer has been estimated from a Compton backscatter A-scan to obtain the thickness of each layer including the aluminum sheet, the corrosion layer and the sealant. Quantitative information such as location and width of planar corrosion in the lap splices of fuselages is obtained by deconvolution using a nonlinear least-square error minimization method(BFGS method): A simple reconstruction model is also introduced to overcome distortion of the Compton backscatter data due to attenuation effects attributed to beam hardening and quantum noise.

Materials Characterization Using A Novel Simultaneous Near-Infrared/X-ray Diffraction Instrument

  • Yeboah, S.Agyare;Blanton, Thomas;Switalski, Steve;Schuler, Julie;Analytical, Craig Barnes
    • 한국근적외분광분석학회:학술대회논문집
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    • 한국근적외분광분석학회 2001년도 NIR-2001
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    • pp.1288-1288
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    • 2001
  • X-ray powder diffraction (XRD) is utilized for determination of polymorphism in crystalline organic materials. Though convenient to use in a laboratory setting, XRD is not easily adapted to in situ monitoring of synthetic chemical production applications. Near-Infrared spectroscopy (NIR) can be adapted to in situ manufacturing schemes by use of a source/detector probe. Conversely, NIR is unable to conclusively define the existence of polymorphism in crystalline materials. By combining the two techniques, a novel simultaneous NIR/XRD instrument has been developed. During material's analysis, results from XRD allow for defining the polymorphic phase present, and NIR data are collected as a fingerprint for each of the observed polymorphs. These NIR fingerprints will allow for the development of a library, which can be referenced during the use of a NIR probe in manufacturing settings.

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