Kim, Chung-Seok;Kim, Yong-Kwon;Park, Ik-Keun;Kwun, Sook-In
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.26
no.5
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pp.291-296
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2006
The residual stress in shot-peened Al 7075 alloy was evaluated using surface acoustic wave (SAW). Shot peening was conducted to produce a variation in the residual stress with the depth below the surface under a shot velocity of 30 m/s. The SAW velocity was measured from the V(z) curve using a scanning acoustic microscopy (SAM). The Vickers hardness profile from the surface showed a significant work hardening near the surface layer with a thickness of about 0.25 mm. As the residual stress became more compressive, the SAW velocity increased, whereas as the residual stress became more tensile, the SAW velocity decreased. The variation in the SAW velocity through the shot peened surface layer was in good agreement with the distribution of the residual stress measured by X-ray diffraction technique.
Park, Tae-Sung;Kwak, Dong-Ryul;Park, Ik-Keun;Kim, Miso;Lee, Seung-Seok
Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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v.34
no.2
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pp.171-175
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2014
In this study, we suggest a method to measure the thickness of thin films nondestructively using the dispersion characteristics of a surface acoustic wave propagating along the thin film surface. To measure the thickness of thin films, we deposited thin films with different thicknesses on a Si (100) wafer substrate by controlling the deposit time using the E-beam evaporation method. The thickness of the thin films was measured using a scanning electron microscope. Subsequently, the surface wave velocity of the thin films with different thicknesses was measured using the V(z) curve method of scanning acoustic microscopy. The correlation between the measured thickness and surface acoustic wave velocity was verified. The wave velocity of the film decreased as the film thickness increased. Therefore, thin film thickness can be determined by measuring the dispersion characteristics of the surface acoustic wave velocity.
This paper describes the factors which control the impedance-relative humidity characteristics of the TiO2-V2O5 humidity sensor. To obtain the quantitative relationships between impedance and many manufacturing parameters such as V2O5mol%, the sintering time and temperature, various sets of samples are preared and tested. With changing relative hymidity from 20% to 80%, it is measrued that the corresponding capacitance and impedance from the semicircles which complex impedance plots make. As a result we found that the impedance-relative humidity characteristics are mainly controlled by the doping amount of V2O5 total pore volume and bulk resistence of the elements. We can assume the equivalent circuits of each samples and finally control the sintering time to get a linear humidity impedance response curve which plays an important role in device making. 4mol% V2O5-TiO2 specimen sintered at 90$0^{\circ}C$ for 10min. show liear log(Z) vs. RH characteristics and 10mol% V2O5-TiO2 specimen sintered at the same temp. for 20min. show linear (Z) vs. RH.
Park, Tae-Sung;Kasuga, Yukio;Park, Ik-Keun;Kim, Kyoung-Suk;Miyasaka, Chiaki
Journal of the Korean Society of Manufacturing Technology Engineers
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v.21
no.2
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pp.267-275
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2012
Austenite stainless steel 304 has properties of high resistance to corrosion and temperature changes. Therefore, this material is widely used in various of industries. However, when the material is subjected to heating and cooling cycles the forming accuracy, for example, the right angle associated with a sharp bend such as corner is lost. This phenomenon is caused by the reversion of the deformation-induced martensite into austenite when the temperature in increased. This result in misfit of a structure or an assembly, and an increase in residual stress. Hence, it is important to understand this process. In this study, to evaluate the mechanical behavior of the deformation-induced martensite and reversed austenite, a scanning acoustic spectroscope including the capability of obtaining both phase and amplitude of the ultrasonic wave (i.e., the complex V(z) curve method) was used. Then, the velocities of the SAW propagating within the specimens made in different conditions were measured. The experimental differences of the SAW velocities obtained in this experiment were ranging from 2,750 m/s to 2,850 m/s, and the theoretical difference was 3.6% under the assumption that the SAW velocity was 2,800 m/s. The error became smaller as the martensite content was increased. Therefore, the SAW velocity may be a probe to estimate the marternsite content.
Park, Chan-Koo;Eo, Soo-Mi;Kim, Min-Young;Sohn, Jong-Ryeul;Mo, Sae-Young
Analytical Science and Technology
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v.17
no.2
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pp.117-129
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2004
Amitrole in environment, difficult to be analyzed by GC or GC/MS due to high polarity and low volatility, was analyzed by LC/ESI/MS in the study. Maximum peak intensity of amitrole in LC/MS/ESI mass spectrum is m/z 85 of protonated molecular ion $(M+H)^+$ with 30V of cone voltage at SIR mode. It was confirmed that ratios between main ion of amitrole, 85 of protonated molecular ion, and m/z 58 fragmented ion of amitrole, had increased corresponding with the increment of cone voltage from 20V to 70V. The isotope molecular weight of amitrole was $86([M+H])^+$ at LC/MS analysis and the mass spectrum ratio between 85 mass and 86 mass was not different by the change of concentration but similar to theoretical ratio(less than 10% standard deviation).The linearity of standard calibration curve under same condition with sample treatment method had $y=1.09354e^6X+26947.2$ and $r^2=0.99$. Recovery rates in water and soil samples were 77.64~83.44% and 71.11~79.44%, respectively. Reliability of the analysis was performed with 5 repeated measurements at each level of standard concentration and the result showed that relative standard deviation was less than 10%; therefore, the extraction and analysis method in the study suggested that it would be reliable to measure amitrole in water and soil media.
Park Chan-Koo;Jo Sung-Ja;Chough Nam-Joon;Kim Min-Young;Sohn Jong-Ryeul;Moon Kyong-Whan
Journal of environmental and Sanitary engineering
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v.19
no.4
s.54
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pp.25-33
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2004
Acrylamide, difficult to analyze by GC and GC/MS due to the polarity and low volatility, was analyzed by LC/ESI/MS in the study. Acrylamide its(molecular weight 71amu) showed m/z=72 $(M+H)^+$ and high peak intensity at 22V in SIR mode. The mass spectrum ratios of acrylamide for qualitative identification had m/z=72 in precursor ion and m/z=55 in products ion, respectively. Those ratios at 30V in SIR mode ranged from 1: 1.4 to 1:1.17 despite various acrylamide concentrations. The ion intensity ratios of acrylamide $(m/z=72,\; [M+H]^+)$ to acrylamide isotopes $(m/z=73,\;[M+H]^+)$ ranged from 100 : 3.57 to 100 : 3.92. The results verified theoretical mass spectrum ratio that was 100:3.82. The linearity of standard calibration curve was y : 520.584x + 1815.26 with $r^2=0.99.$ In quality assurance and quality control, the recovery rate ranged from 81.64 percent to 90.97 percent and relative standard deviation was less than $10\%$ with 5 repeated injections at individual standard calibration solutions. The method was applied to analyze acrylamide in food at grocery stores. Snacks made of potatoes showed the highest acrylamide concentration followed by products made of French fries, wheat, and corn.
The total iodine is determined in serum, fresh milk and feed additive by ICP-MS. The preparation involves only a 25-fold dilution with a diluent by direct nebulization in the plasma. The diluent composition is $NH_4OH$(0.5% v/v)+$CH_3OH$(5% v/v) and the abundance of iodine is measured at m/z=127. The calibration curve was linear over the ranges $0-100{\mu}g/L$ with $R^2=0.99$ for iodine. The detection limit of this method is $0.084{\mu}g/L$ for iodine. The relative error range of milk powder SRM in optimum condition is 2.30%-4.73%. The concentration ranges of iodine in the serum, fresh milk, feed additive were $12.4-40.2{\mu}g/L$, < 0.01-3.11 mg/L, < $10^{-7}-2.60g/kg$ respectively.
Park, Yeong-Sik;Kim, Jeong-Hun;Chu, Ben-Ben;Min, Chi-Hong;Yang, U-Cheol
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.445-445
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2011
본 연구에서는 편극 패턴된 강유전체 단결정 $LiNbO_3$ 기판에 광화학적 반응에 의해 금속(Au, Ag, Cu)나노입자를 표면에 선택적으로 성장하였다. 강유전체는 자발편극성의 특성을 지니고 있기 때문에 선택적으로 전압을 가하여 편극성의 역전에 의해 표면의 편극성을 선택적으로 패터닝이 가능하다. 본 연구에서는 주기적으로 양의 편극 영역과 음의 편극 영역이 패턴된 $LiNbO_3$ 기판을 사용하였다. 표면의 편극성은 압전소자반응현미경법(PFM)을 이용하여 확인하였으며, 극성은 R-V curve로 확인하였다. 금속입자는 금속입자를 포함하는 용액에 기판을 넣고 자외선을 조사하여 성장시켰다. 성장된 금속입자의 표면 분포 및 분석은 AFM을 이용하여 측정하였다. Ag 입자를 성장시킨 결과, (-z)편극 영역보다 (+z)편극영역에서 보다 많은 금속 나노입자들이 환원반응을 일으켜 나노입자를 형성하였으며, 경계영역 (inversion domain boundary)에 가장 많은 나노구조체가 형성되었다. Au 입자의 경우, (+z)편극영역이 (-z)편극영역의 표면보다 더 많은 입자가 형성되었지만 Ag입자처럼 편극영역의 경계에서 많이 증착되는 경향성은 보이지 않았다. Cu 입자의 경우 광화학반응을 거의 일으키지 않았으며, 편극영역에 따른 증착 경향성도 보이지 않았다. 이와 같은 결과를 증착된 금속 나노입자의 편극에 따른 표면분포를 강유전체 표면 극성에 따른 표면 밴드구조와, 각 입자가 지닌 환원전위와 전자친화도에 관련된 모델로 설명할 것이다.
I.S. Bae;S.H. Cho;Park, Z. T.;Kim, J.G.;B. Y. Hong;J.H. Boo
Proceedings of the Korean Institute of Surface Engineering Conference
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2003.10a
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pp.119-119
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2003
Plasma polymerized organic thin films were deposited on Si(100) glass and Copper substrates at 25 ∼ 100 $^{\circ}C$ using cyclohexane and ethylcyclohexane precursors by PECVD method. In order to compare physical and electrochemical properties of the as-grown thin films, the effects of the RF plasma power in the range of 20∼50 W and deposition temperature on both corrosion protection efficiency and physical properties were studied. We found that the corrosion protection efficiency (P$\_$k/), which is one of the important factors for corrosion protection in the interlayer dielectrics of microelectronic devices application, was increased with increasing RF power. The highest P$\_$k/ value of plasma polymerized ethylcyclohexane film (92.1% at 50 W) was higher than that of the plasma polymerized cyclohexane film (85.26% at 50 W), indicating inhibition of oxygen reduction. Impedance analyzer was utilized for the determination of I-V curve for leakage current density and C-V for dielectric constants. To obtain C-V curve, we used a MIM structure of metal(Al)-insulator(plasma polymerized thin film)-metal(Pt) structure. Al as the electrode was evaporated on the ethylcyclohexane films that grew on Pt coated silicon substrates, and the dielectric constants of the as-grown films were then calculated from C-V data measured at 1㎒. From the electrical property measurements such as I-V ana C-V characteristics, the minimum dielectric constant and the best leakage current of ethylcyclohexane thin films were obtained to be about 3.11 and 5 ${\times}$ 10$\^$-12/ A/$\textrm{cm}^2$ and cyclohexane thin films were obtained to be about 2.3 and 8 ${\times}$ 10$\^$-12/ A/$\textrm{cm}^2$.
A double diffusion technique is developed to enhance the effective mode index of optical waveguides in $LiTaO_3$. It consists of Zn diffusion from the vapor phase at relatively low temperatures (750->$800^{\circ}C$), into waveguides initially produced by Ti indiffusion at higher temperature (1150->$1200^{\circ}C$). Both X- and Z-cut substrates are investigated. A model that combines profiles of both diffusion is formulated to calculate the expected effective index values for planar waveguides. Good agreement is found between experimental results and model predictions which assume that the initial Ti profile is not affected by the lower temperature Zn diffusion. Effective index enhancements as high as 0.005 and 0.003 are obtained by this method for the fundamental extraordinary and ordinary modes, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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