• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제18권2호
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• pp.156-161
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• 2014

Anisotropy profile of a rubbed polyimide film is investigated using both a modified ultra high precision transmission ellipsometer and the analysis software previously developed to determine the optic axis distribution of discotic liquid crystals in the wide view film. The distorted sinusoidal variation of the ellipsometric constants obtained at an oblique angle of incidence indicates that the optic axis varies from $14.7^{\circ}$ to $40.6^{\circ}$ from the sample plane. The magnitude and distribution of anisotropy is expressed in terms of no, ne, and the cosine-shaped tilt angle distribution of the optic axis in a rubbed polyimide film.

• 한국광학회지
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• 제26권4호
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• pp.195-202
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• 2015

기층의 잔류 이방성에 영향을 받지 않고 러빙된 폴리이미드 배향막의 초미세 광학 이방성을 정밀하게 측정할 수 있는 반사형 타원계를 개발하고 러빙의 세기를 달리하여 제작한 배향막의 광학이방성을 이 반사형 타원계를 사용하여 측정, 분석하였다. 투과형 타원계를 사용하여 측정한 리타데이션과 비교하여 개발된 반사형 타원계의 신뢰도 및 광학 이방성의 측정 재현성을 확인하고 배향막의 형성 여부와 배향막의 형성정도를 정량적으로 평가하였다

• Current Optics and Photonics
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• 제2권2호
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• pp.185-194
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• 2018

Ultra-small optical anisotropy of a rubbed polyimide (PI) alignment layer is quantitatively characterized using the improved reflection ellipsometer. Twisted nematic (TN) cells are fabricated using the rubbed PIs of known surface anisotropy as alignment layers. Distribution of liquid crystal (LC) molecules in the TN cell is characterized using transmission ellipsometry. The retardation of the rubbed PI surface increases as rubbing strength increases. The tilt angle of the optic axis of the rubbed PI surface decreases as rubbing strength especially as the angular speed of the rubbing roller increases. Pretilt angle of LC molecules in the TN cell shows strong correlation with tilt angle of the optic axis of the rubbed PI surface. Both the apparent order parameter and the effective twist angle of the LC molecules in the TN cell decrease as the pretilt angle of LC molecules increases.

• 한국광학회지
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• 제24권2호
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• pp.77-85
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• 2013

시료를 회전시키는 기존의 시료회전형 타원계에서 시료를 고정시키고 편광자모듈을 회전시키는 모듈회전형 타원계로 구조를 변경하고 광원교체와 회전모듈 동기화, 배경 미세이방성 보정 등을 통해서 위상지연값 측정정밀도를 $3{\sigma}$ <0.005 nm 까지 향상시켰다. 개선된 모듈회전형 타원계를 사용하고 RVD(Retardation Vector Difference) 방법을 도입함으로써 1.0 nm 정도의 잔류이방성을 가지는 유리기층의 효과를 배제한 러빙된 Polyimide 배향막의 순수 배향효과만에 의한 초미세 광학이방성을 정밀하게 측정하는 방법을 제시하였다. 순수 러빙으로 인한 배향막의 위상지연값은 0.05 nm 에서 0.15 nm 정도의 크기를 가짐을 확인하였다.