Precise Determination of the Complex Refractive Index and Thickness of a Very Weakly Absorbing Thin Film on a Semi-transparent Substrate Using Reflection Ellipsometry and Transmittance Analysis (반사 타원법과 투과율 분석법을 사용한 반투명 기층 위 매우 약한 광흡수 박막의 두께와 복소굴절률 정밀 결정)
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- Korean Journal of Optics and Photonics
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- v.35 no.1
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- pp.1-8
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- 2024