Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.17
no.3
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pp.143-145
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2016
In order to find suitable source and drain (S/D) electrodes for amorphous InGaZnO thin film transistors (a-IGZO TFTs), the specific contact resistance of interface between the channel layers and various S/D electrodes, such as Ti/Au, a-IZO and multilayer of a-IGZO/Ag/a-IGZO, was investigated using the transmission line model. The a-IGZO TFTs with a-IGZO/Ag/a-IGZO of S/D electrodes had good performance and low contact resistance due to the homo-junction with channel layer. The stability was measured with different electrodes by a positive bias stress test. The result shows the a-IGZO TFTs with a-IGZO/Ag/a-IGZO electrodes were more stable than other devices.
Kim, Woong-Sun;Moon, Yeon-Keon;Lee, Sih;Kang, Byung-Woo;Kwon, Tae-Seok;Kim, Kyung-Taek;Park, Jong-Wan
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2009.10a
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pp.546-549
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2009
In this paper, we investigated the effects of different source/drain (S/D) electrode materials in thin film transistors (TFTs) based on indium-gallium-zinc oxide (IGZO) semiconductor. A transfer length and effective resistances between S/D electrodes and amorphous IGZO thin-film transistors were examined. Intrinsic TFT parameters were extracted by the transmission line method (TLM) using a series of TFTs with different channel lengths measured at a low drain voltage. The TFTs fabricated with Cu S/D electrodes showed the lowest contact resistance and transfer length indicating good ohmic characteristics, and good transfer characteristics with a field-effect mobility (${\mu}_{FE}$) of 10.0 $cm^2$/Vs.
The effects of deposition temperature of Pt top electrodes on the electrical properties of Pb(Zr,Ti))$O_3$, (PZT) thin film were investigated. When the Pt top electrodes were deposited at substrate temperatures of $200^{\circ}C$ or above,the ferroelectric properties of the PZT thin film under the Pt electrode were severely degraded. Whereas those of the PZT film where the Pt electrodes were not deposited were not degraded. Water vapors which remained in the vacuum chamber were dissociated into hydrogen atoms by the catalysis of Pt top electrode, and those hydrogen atoms diffused into the PZT film and produced oxygen vacancies at high substrate temperature, resulting in the degradation of the ferroelectric properties of the PZT film located under the Pt electrode. Since the water vapors could not be dissociated into hydrogen atoms without the catalysis of Pt. the degradation of the PZT film did not take place where the Pt electrode were not deposited. The degraded feroelectric properties could be recovered by rapid thermal annealing (RTA) treatment. On the other hand. leakage current characteristics were improved with increasing the deposition temperature of Pt top electrodes.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.06a
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pp.395-395
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2007
We report on the fabrication of soluble pentacene-based thin-film transistors (TFTs) that consist of $NiO_x$, poly-vinyl phenol (PVP), and Ni for the source-drain (SID) electrodes, gate dielectric, and gate electrode, respectively. The $NiO_x$ SID electrodes of which the work function is well matched to that of soluble pentacene are deposited on a soluble pentacenechannel by sputter deposited of NiO powder and show a moderately low but still effective transmittance of ~65% in the visible range along with a good sheet resistance of ${\sim}40{\Omega}/{\square}$. The maximum saturation current of our soluble pentacene-based TFT is about $15{\mu}A$ at a gate bias of -40showing a high field effect mobility of $0.06cm^2/Vs$ in the dark, and the on/off current ratio of our TFT is about $10^4$. It is concluded that jointly adopting $NiO_x$ for the S/D electrodes and PVP for gate dielectric realizes a high-quality soluble pentacene-based TFT.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.18
no.2
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pp.93-96
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2017
The structural, electrical and optical properties of Ti thin films fabricated by dual magnetron sputtering were investigated under various film thicknesses. The fabricated Ti thin films exhibited uniform surfaces, crystallinity, various grain sizes, and with various film thicknesses. Also, the crystallinity and grain size of the Ti thin films increased with the increase of film thickness. The electrical properties of Ti thin films improved with the increase of film thickness. The results showed that the performance of TCO-less DSSC critically depended on the film thickness of the Ti working electrodes, due to the conductivity of Ti thin film. However, the maximum conversion efficiency of TCO-less DSSC was exhibited at the condition of 100 nm thickness due to the surface scattering of photons caused by the variation of grain size.
Kim, Jong-Uk;Wee, Sung-Dong;Jeon, Yeon-Su;Gu, Hal-Bon
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2003.05c
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pp.91-94
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2003
The purpose of this project is to research and development of thin film supercapacitor with conducting polymer composite electrodes and polymer electrolyte which have high energy density for thin film supercapacitor. We investigated cyclic voltammetry and charge/discharge cycling of PFPT-flyash electrodes. The first discharge capacity of PFPT-flyash electrode with 40wt.% flyash was 24F/g, while that of PFPT-VOflyash electrode with 40wt.% VOflyash was 32F/g. The capacitance of PFPT-VOflyash composite film with polymer electrolyte was 32 F/g at 1st and 20th cycle, respectively. The capacitance of PFPT-VOflyash/Li cell with 40 wt% VOflyash was 141 F/g at 8th cycle.
Kim, Il-Kwang;Kim, Yon-Geun;Park, Tae-Young;Park, Choon-Bae
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1993.05a
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pp.104-108
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1993
Thin films of MgO-doped and CaO-doped iron oxide were prepared y spray pyrolysis. The films were characterized b X-ray diffraction, scanning electron microscopy and voltammetric techniques. The photoelectrochemical behavior of thin film electrodes depended greatly on the doping level, sintering temperature, substrate temperature and added photosensitizing compounds in solution, showed p-type photoelectrochemical behavior, while the CaO-doped iron oxide thin films prepared at low temperature showed n-type photoelectrochemical behavior. This characteristic change was interpreted in terms of the surface structure change of the thin films and doping effect of metal oxide.
Activated carbon (AC) with very large surface area has high capacitance per weight. However, such activation methods tend to suffer from low yields, below 50%, and are low in electrode density and capacitance per volume. Carbon NanoFibers (CNFs) had high surface area polarizability, high electrical conductivity and chemical stability, as well as extremely high mechanical strength and modulus, which make them an important material for electrochemical capacitors. The electrochemical properties of immobilized CNF electrodes were studied for use as in electrical double layer capacitor (EDLC) applications. Immobilized CNFs on Ni foam grown by thermal chemical vapor deposition (CVD) were successfully fabricated. CNFs had a uniform diameter range from 50 to 60 nm. Surface area was 56 m$^2$/g. CNF electrodes were compared with AC and multi wall carbon nanotube (MWNT) electrodes. The electrochemical performance of the various electrodes was examined with aqueous electrolyte of 2M KOH. Equivalent series resistance (ESR) of the CNF electrodes was lower than that of AC and MWNT electrodes. The specific capacitance of 47.5 F/g of the CNF electrodes was achieved with discharge current density of 1 mA/cm$^2$.
In this paper, we give pressure stimulation into organic ultra thin films and detected the induced displacement current properties, and then manufacture a device under the accumulation condition. In processing of a device manufacture, we can see the process is good from the change of a surface pressure and transfer ratio of area per molecule of organic ultra thin films. The structure of manufactured device is MIM(Au/polyimide LB films/AU), the number of accumulated 19 layers. I-V characteristic of the device is measured from -5[V] to +5[V]. The maximum value of measured current is increased as the number of accumulated layers are decreased. The insulation of a thin film is better as the interval between electrodes is larger, and the insulation properties of a thin film is better as the distance between electrodes is larger.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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