• 제목/요약/키워드: Thermo-reflectance method

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High-k 산화물 박막의 열전도도 측정 (Thermal Conductivity Measurement of High-k Oxide Thin Films)

  • 김인구;오은지;김용수;김석원;박인성;이원규
    • 한국진공학회지
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    • 제19권2호
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    • pp.141-147
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    • 2010
  • $Al_2O_3$, $TiO_2$, $HfO_2$와 같은 high-k (고 유전상수) 산화물 박막을 Si, $SiO_2$/Si, GaAs 기판에 각각 입혀서 주기적인 온도변화에 의해 발생되는 박막 표면에서의 반사율 변화를 이용한 열-반사율법을 이용하여 열전도도를 측정하였다. 그 결과, 약 50nm 두께에서 0.80~1.29 W/(mK)와 같은 높은 열전도도를 가지고 있어 CMOS와 메모리 디바이스와 같은 전자 회로에서 발생되는 열을 효과적으로 방산할 수 있고, 또 미세 입자의 크기에 따라 열전달이 변화하는 것을 확인하였다.