• International Journal of Reliability and Applications
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• 제8권2호
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• pp.175-182
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• 2007

In this note, some comments concerning the testing procedures for the problems of stochastic comparison, testing IFR and testing NBU ageing properties are presented showing that the tests proposed in Belzunce, Candel and Ruiz(1998) are cumbersome to calculate and do not have as good asymptotic Pittman efficacies as simpler others already in the literature. This is done via new presentations of the measures on which Belzunce et al. base their tests.

• 기술사
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• 제33권2호
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• pp.39-43
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• 2000

여기서는 원자력발전소의 격납 용기에 달린 핵 밸브들을 인수 할 때, 적용될 누설시험을 해설한다. 시험할 핵 밸브들은 공급자가 제품을 제작하여 납품하기 이전에 제작사의 주관아래 실시되는 경우와, 발주자가 제품을 인수받고 난 후, 발주자의 주관으로 실시하는 경우가 있을 것이다. 경우가 어떻든 시험 절차는 다르지 않다. 이들에 관하여 자세한 시험 절차들을 소개한다.

• 비파괴검사학회지
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• 제8권1호
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• pp.44-48
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• 1988

Quality and economy in radiography can be achieved by using the right techniques and the film material available on the market. Pre-packing with or without lead, under vacuum or not, play an important role provided the right kinds of procedures are applied. The author explains some of the ways used by different N.D.T.companies to achieve the best quality in an economical way.

• 지능정보연구
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• 제17권4호
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• pp.37-58
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• 2011

데이터베이스를 사용하는 프로그램을 테스트하는 것은 일반 소프트웨어의 경우보다 훨씬 더 복잡하고 어렵다. 테스트 데이터에 더하여 데이터베이스 상태가 테스트의 절차와 결과에 결정적인 영향을 미치는 것이 주요 원인이다. 테스트에 적합한 데이터베이스 상태를 만들어주려면 많은 시간과 노력이 필요한 것은 물론이거니와 IT와 업무에 대한 상당한 지식이 있어야 한다. 이러한 어려움에도 불구하고 데이터베이스 응용 프로그램의 테스트에 대한 연구와 지원은 매우 부족하다. 이 논문은 테스트에 알맞은 데이터베이스 상태의 생성과 유지에 관한 연구 결과를 보고한다. 연구의 핵심은 프로그램에서 사용하는 SQL을 로그파일에서 추출하여 분석한 결과와 데이터베이스 스키마와 테이블, 로그, 전문 등의 다양한 원천(source)에서 수집한 정보를 결합하여 프로그램의 테스트에 적합한 사전, 사후 상태를 자동으로 만들어주는 테스트 지원도구의 개발이다. 연구에서 제시한 절차와 도구는 단위 테스트와 통합 테스트의 지원과 더불어 회귀 테스트의 수행에 따르는 어려움을 극복하는데 큰 도움이 될 것이다. 실무적으로는 연구의 결과가 데이터베이스 상태의 생성과 유지에 소요되는 시간과 노력을 줄여 개발인력의 생산성을 제고하고, 다양한 케이스의 테스트와 회귀 테스트를 지원하여 대상 프로그램의 품질 향상에 기여할 것으로 기대한다. 학문적으로는 프로그램에서 사용하는 SQL의 패턴을 분석할 수 있는 상태 전이 도형과, 패턴의 표현 및 추론이 가능한 문법을 정의하여 전사적 응용 프로그램 테스트에 대한 폭 넓은 이해와 새로운 접근 방식을 가능하게 하였다.

• Nuclear Engineering and Technology
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• 제50권8호
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• pp.1298-1305
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• 2018

The use of System-on-Chip (SoC) solutions in the design of on-board data handling systems is an important step towards further miniaturization in space. However, the Total Ionizing Dose (TID) and Single Event Effects (SEE) characterization of these complex devices present new challenges that are either not fully addressed by current testing guidelines or may result in expensive, cumbersome test configurations. In this paper we report the test setups, procedures and results for TID testing of a SoC microcontroller both using standard $^{60}Co$ and low-energy protons beams. This paper specifically points out the differences in the test methodology and in the challenges between TID testing with proton beam and with the conventional gamma ray irradiation. New test setup and procedures are proposed which are capable of emulating typical mission conditions (clock, bias, software, reprogramming, etc.) while keeping the test setup as simple as possible at the same time.

• 기술사
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• 제31권3호
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• pp.65-74
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• 1998

• 기술사
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• 제32권2호
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• pp.49-58
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• 1999

• 기술사
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• 제32권1호
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• pp.57-66
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• 1999

• 기술사
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• 제31권4호
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• pp.58-63
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• 1998

• 기술사
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• 제31권5호
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• pp.49-55
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• 1998