• 제목/요약/키워드: Test of LNA

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5GHz 저잡음 증폭기의 성능검사를 위한 새로운 고주파 Built-In Self-Test 회로 설계 (Design of a New RF Buit-In Self-Test Circuit for Measuring 5GHz Low Noise Amplifier Specifications)

  • 류지열;노석호;박세현
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제8권8호
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    • pp.1705-1712
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    • 2004
  • 본 논문에서는 5.25GHz 저잡음 증폭기(LNA)에 대해 전압이득, 잡음지수 및 입력 임피던스를 측정할 수 있는 새로운 형태의 저가 고주파 BIST(Built-In Self-Test, 자체내부검사)회로 설계 및 검사 기술을 제안한다. 이러한 BIST 회로는 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이러한 접근방법은 입력 임피던스 정합과 출력 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다. BIST 회로가 차지하는 면적은 LNA가 차지하는 전체면적의 약 18%에 불과하다.

5.25GHz 저잡음 증폭기를 위한 새로운 고주파 BIST 회로 설계 (Design of a New RF Built-In Self-Test Circuit for 5.25GHz SiGe Low Noise Amplifier)

  • 류지열;노석호;박세현;박세훈;이정환
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2004년도 춘계종합학술대회
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    • pp.635-641
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    • 2004
  • 본 논문에서는 802.113 무선 근거리 통신망(wireless LAM)용 5.25GHz 저잡음 증폭기(LNA)에 대해 고가 장비를 사용하지 않고도 전압이득, 잡음지수 및 입력 임피던스를 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파 81ST(Built-In Self-Test, 자체내부검사)회로 설계 및 검사 기술을 제안한다. 본 연구에서 제작된 BIST 회로는 기존의 고가 검사 장비 대신 고주파 회로의 결함검사나 성능검사에 적용될 수 있다. 이러한 BIST 회로는 1V의 공급전압에서 동작하며, 0.18$\mu\textrm{m}$ SiGe 공정으로 제작되어 있다. 이러한 접근방법은 입력 임피던스 정합과 출력 전압 측정을 이용한다. 본 방법에서는 DUT(Device Under Test: 검사대상이 되는 소자)와 BIST 회로가 동일 칩 상에 설계되어 있기 때문에 측정할 때 단지 디지털 전압계와 고주파 전압 발생기만이 필요하며, 측정이 간단하고 비용이 저렴하다는 장점이 있다. BIST 회로가 차지하는 면적은 LNA가 차지하는 전체면적의 약 18%에 불과하다.

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A New Automatic Compensation Network for System-on-Chip Transceivers

  • Ryu, Jee-Youl;Noh, Seok-Ho
    • ETRI Journal
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    • 제29권3호
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    • pp.371-380
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    • 2007
  • This paper proposes a new automatic compensation network (ACN) for a system-on-chip (SoC) transceiver. We built a 5 GHz low noise amplifier (LNA) with an on-chip ACN using 0.18 ${\mu}m$ SiGe technology. This network is extremely useful for today's radio frequency (RF) integrated circuit devices in a complete RF transceiver environment. The network comprises an RF design-for-testability (DFT) circuit, capacitor mirror banks, and a digital signal processor. The RF DFT circuit consists of a test amplifier and RF peak detectors. The RF DFT circuit helps the network to provide DC output voltages, which makes the compensation network automatic. The proposed technique utilizes output DC voltage measurements and these measured values are translated into the LNA specifications such as input impedance, gain, and noise figure using the developed mathematical equations. The ACN automatically adjusts the performance of the 5 GHz LNA with the processor in the SoC transceiver when the LNA goes out of the normal range of operation. The ACN compensates abnormal operation due to unusual thermal variation or unusual process variation. The ACN is simple, inexpensive and suitable for a complete RF transceiver environment.

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Ka-대역 GaN 저잡음 증폭기의 강건성 평가 (Robustness Evaluation of GaN Low-Noise Amplifier in Ka-band)

  • 이동주;안세환;주지한;권준범;김영훈;이상훈;서미희;김소수
    • 한국인터넷방송통신학회논문지
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    • 제22권6호
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    • pp.149-154
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    • 2022
  • GaN 소자는 고출력 및 고선형성 특성을 가지므로 레이더 수신기에서 저잡음 증폭기로 활용되어 리미터 없이 구현될 수 있으며, 이로 인해 잡음지수를 개선하고 면적을 줄일 수 있다. 본 논문에서는 Ka-대역 레이더용 수신기에 적용하기 위한 GaN 저잡음 증폭기를 기술하였다. 설계된 저잡음 증폭기는 150-nm GaN HEMT 공정으로 제작되었으며, 목표주파수 내에서 패키징 손실을 포함하여 >23 dB 이득, <6.5 dB의 잡음지수 특성을 보였다. 고입력 부하시험시 이득 및 잡음 저하가 있었으나, 반복시험시 추가적인 성능저하는 나타나지 않았다. 부하시험 후 잡음지수 및 S-파라미터 측정을 통해 GaN 저잡음 증폭기에서 ~40 dBm 펄스 입력 전력을 견딜 수 있음을 확인하였다.

DFT 방법을 위한 새로운 고주파 검사 회로 (A New RF Test Circuit on a DFT Technique)

  • 류지열;노석호
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2006년도 춘계종합학술대회
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    • pp.902-905
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    • 2006
  • 본 논문에서는 성능 변수들을 측정하기 위해 검사용 설계 (design-for-testability, DFT) 방법을 기초로한 새로운 고주파 검사 회로를 제안한다. 이러한 기술은 저잡음 증폭기 (LNA)의 입력 임피던스, 이득, 잡음지수, 입력 전압 정재파비 (VSWR) 및 출력 신호대 잡음비 (SNR)를 제공한다. 이러한 고주파 경사 방식은 DR 칩에서 측정된 출력 DC 전압과 이론적인 수식을 이용하여 실제 고주파 소자의 중요 사양을 산출할 수 있다.

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시추공 레이더 시스템에 사용되는 UWB 모듈의 설계 및 성능 분석 (Design and Performance Analysis of UWB Modules for Borehole Radar System)

  • 조재형;김상욱;김세윤;육종관
    • 한국전자파학회논문지
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    • 제20권11호
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    • pp.1121-1129
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    • 2009
  • 본 논문에서는 펄스형 시추공 레이더 시스템에 사용되는 UWB 모듈인 펄스 발생기와 광대역 가변 이득 저잡음 증폭기를 설계 및 제작하고, 기존의 시스템과 비교하여 성능을 분석하였다. 공동을 포함하는 지하 매질의 최대 경로 손실을 구하여 시스템 버짓과 규격을 결정하였다. 펄스 발생기는 40 kHz의 펄스 반복율과 5 ns 미만의 펄스폭을 가지고 피크 레벨이 +73 dBm으로 제작되었다. 광대역 저잡음 증폭기는 주파수 20 MHz에서 200 MHz 범위 내에서 3.77 dB의 잡음 지수와 100 dB의 가변 이득 범위를 가지게끔 설계되었다. 실제 시험장에서 기존 시스템과 비교한 결과, 제작된 시스템은 탐사가 되지 않는 영역도 낮은 잡음 지수를 갖는 저잡음 증폭기에 의해서 탐사가 가능하였다.

A New Approach for Built-in Self-Test of 4.5 to 5.5 GHz Low-Noise Amplifiers

  • Ryu, Jee-Youl;Noh, Seok-Ho
    • ETRI Journal
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    • 제28권3호
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    • pp.355-363
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    • 2006
  • This paper presents a low-cost RF parameter estimation technique using a new RF built-in self-test (BIST) circuit and efficient DC measurement for 4.5 to 5.5 GHz low noise amplifiers (LNAs). The BIST circuit measures gain, noise figure, input impedance, and input return loss for an LNA. The BIST circuit is designed using $0.18\;{\mu}m$ SiGe technology. The test technique utilizes input impedance matching and output DC voltage measurements. The technique is simple and inexpensive.

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Experimental investigation on the degradation of SiGe LNAs under different bias conditions induced by 3 MeV proton irradiation

  • Li, Zhuoqi;Liu, Shuhuan;Ren, Xiaotang;Adekoya, Mathew Adefusika;Zhang, Jun;Liu, Shuangying
    • Nuclear Engineering and Technology
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    • 제54권2호
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    • pp.661-665
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    • 2022
  • The 3 MeV proton irradiation effects on SiGe low noise amplifier (LNA) (NXP BGU7005) performance under different voltage supply VCC (0 V, 2.5 V) conditions were firstly experimental studied in this present work. The S parameters including S11, S22, S21, 1 dB compression point and noise figure (NF) of the test samples under different bias voltage supply were measured and compared before and after 3 MeV proton irradiation. The total proton irradiation fluence was 1 × 1015 protons/cm2. The maximum degradation quantities of the gain S21 and NF of the test samples under zero bias are measured respectively 1.6 dB and 1.2 dB. Compared with the samples under 2.5 V bias supply, the maximum degradation of S21 and NF are respectively 1.1 dB and 0.8 dB in the whole frequency band. It is noteworthy that the gain and NF of SiGe LNAs under zero-bias mode suffer enhanced degradation compared with those under normal bias supply. The key influence factors are discussed based on the correlation of the SiGe device and the LNA circuit. Different process of the ionization damage and displacement damage under zero-bias and 2.5 V bias voltage supply contributed to the degradation difference. The underlying physical mechanisms are analyzed and investigated.

고온 환경에서 KSLV-I 발사체용 GPS 안테나의 성능 분석 (Performance Analysis of GPS Antenna for KSLV-I under Hot Temperature Environment)

  • 문지현;권병문;최형돈;정호락
    • 항공우주기술
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    • 제6권1호
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    • pp.157-164
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    • 2007
  • GPS 안테나는 위성발사체의 전 비행 구간에서 GPS 위성 신호를 정상적으로 수신하기 하여 발사체의 외피에 설치되어야 한다. 위성발사체의 표면 온도는 발사체가 대기권을 통과하면서 발생하는 열공력의 영향으로 급격하게 상승하며 발사체 외피에 설치되는 GPS 안테나는 극심한 고온 환경에 직접적으로 노출된다. 따라서 위성발사체의 외피에 설치되는 GPS 안테나에 대한 고온 환경 시험 규격은 발사체 내부 시스템의 고온 환경 시험 규격보다 더 가혹하게 설정되어야 한다. 본 논문에서는 KSLV-I 발사체에 탑재될 GPS 안테나의 고온 환경에서 성능 분석 절차 및 결과를 기술하며, GPS 안테나가 고온 환경에서 물리적인 변형이나 내부 LNA(Low Noise Amplifier)의 성능 저하 없이 정상적으로 동작하였을 보여주고 있다.

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엔지니어링 모델 Ka 대역 위성통신 탑재체 구현 및 시험 (Engineering Model Ka-band Satellite Communications Payload Implementation and Test)

  • 박종흥;신동환;정병현;이재현;이성팔
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2000년도 추계종합학술대회 논문집(1)
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    • pp.389-392
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    • 2000
  • Electronics and Telecommunications Research Institute (ETRI) developed the Ka-band satellite communications payload. This system is able to provide a high data rate communication service with a bandwidth of 200 MHz, a wideband digital flunking services up to 155 Mbps and asymmetrical internet multimedia service. The system employs the common receive/transmit antenna and the 2-for-1 redundant scheme for the LNA-Downconverters. The different types of high power amplification, TWTA for one chain and SSPA for the other chain, are used lot the variety of experimental options. For the reliable test of the payload, EGSE was also developed. The parametric RF tests were carried out in order to measure the performance of Ka-band communication subsystem, in most case the results of RF performance test complied the payload requirement.

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