• 제목/요약/키워드: TFT-LCD inspection

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Mobile용 TFT-LCD 화면 검사장비 개발 (Development of the Defect Inspection Equipment for Mobile TFT-LCD Modules)

  • 구영모;황만수
    • 한국지능시스템학회논문지
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    • 제19권2호
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    • pp.259-264
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    • 2009
  • Mobile용 TFT-LCD는 근거리에서, 세밀한 관찰 작업용으로 사용되는 경우가 많아 높은 수준의 품질관리가 요구되고 있으나, 높은 휘도값, 큰 휘도편차, 높은 검사 정밀도 등의 특징을 가지고 있어 동일한 검사기준을 적용하여도 작업자 혹은 제조라인에 따라 판단의 차이가 있으며 정량적인 품질관리가 어렵다. 또한, 다품종 대량생산 추세에 따라 검사 속도, 작업자의 피로도, 검사 시야의 한계 등 육안검사의 문제점이 대두되고 있다. 본 논문은 Mobile용 TFT-LCD 화면의 품질관리 및 검사기준과 동일한 기준에 의거하여 현장에 적용하기 쉬운 탁상형의 Mobile용 TFT-LED 화면 검사 장비를 개발하였다. 그리고 개발된 장비를 사용한 실험에서, 육안검사에 비하여 개선된 결과를 기반으로 안정적이고 수치화된 Mobile용 TFT-LCD 화면 품질 검사의 표준화 가능성을 제시한다.

TFT-LCD의 품질검사기준 설정을 위한 픽셀결점 탐지도 평가 (A study on the detection probabilities of pixel defects with respect to their locations on the TFT-LCD)

  • 김상호;양승준
    • 대한안전경영과학회:학술대회논문집
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    • 대한안전경영과학회 2004년도 춘계학술대회
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    • pp.283-289
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    • 2004
  • The number of pixel defects including bright and black dots on a panel is one of the critical factors determining the quality of TFT-LCD. Since pixel defects on the TFT-LCD panels are sometimes unavoidable, manufacturers have to inspect the panels so that any panel with an unacceptable number of defects will not be delivered to the buyers. However, the buyers demand for the manufacturers to meet different pixel defects tolerances (acceptable number of pixel defects on a TFT-LCD panel) around central(tight) and peripheral(loose) inspection zones. The disagreement in quality standard among different buyers also cause confusions in screening non-confirmative products and unstable yield of production. Few research has focused on the effects of defect locations on a TFT-LCD panel on their detection probabilities and the rational division of defect inspection zones. In this research, experiments were conducted to find the detection probabilities of black dot defects with respect to their varying locations on a TFT-LCD. It is proposed a rational division of inspection zone on a TFT-LCD panel on the basis of detection probabilities of the defects. With these division of inspection zones and the mean defect detection probability within each zone, it is expected to establish a more reasonable pixel defects tolerances.

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패턴이 있는 TFT-LCD 패널의 결함검사를 위하여 근접패턴비교와 경계확장 알고리즘을 이용한 자동광학검사기(AOI) 개발 (Development of AOI(Automatic Optical Inspection) System for Defect Inspection of Patterned TFT-LCD Panels Using Adjacent Pattern Comparison and Border Expansion Algorithms)

  • 강성범;이명선;박희재
    • 제어로봇시스템학회논문지
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    • 제14권5호
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    • pp.444-452
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    • 2008
  • This paper presents an overall image processing approach of defect inspection of patterned TFT-LCD panels for the real manufacturing process. A prototype of AOI(Automatic Optical Inspection) system which is composed of air floating stage and multi line scan cameras is developed. Adjacent pattern comparison algorithm is enhanced and used for pattern elimination to extract defects in the patterned image of TFT-LCD panels. New region merging algorithm which is based on border expansion is proposed to identify defects from the pattern eliminated defect image. Experimental results show that a developed AOI system has acceptable performance and the proposed algorithm reduces environmental effects and processing time effectively for applying to the real manufacturing process.

Automatic TFT-LCD Mura Inspection Based on Studentized Residuals in Regression Analysis

  • Chuang, Yu-Chiang;Fan, Shu-Kai S.
    • Industrial Engineering and Management Systems
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    • 제8권3호
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    • pp.148-154
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    • 2009
  • In recent days, large-sized flat-panel display (FPD) has been increasingly applied to computer monitors and TVs. Mura defects, appearing as low contrast or non-uniform brightness region, sometimes occur in manufacturing of the Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Displays (TFT-LCD). Implementation of automatic Mura inspection methods is necessary for TFT-LCD production. Various existing Mura detection methods based on regression diagnostics, surface fitting and data transformation have been presented with good performance. This paper proposes an efficient Mura detection method that is based on a regression diagnostics using studentized residuals for automatic Mura inspection of FPD. The input image is estimated by a linear model and then the studentized residuals are calculated for filtering Mura regions. After image dilation, the proposed threshold is determined for detecting the non-uniform brightness region in TFT-LCD by means of monitoring the every pixel in the image. The experimental results obtained from several test images are used to illustrate the effectiveness and efficiency of the proposed method for Mura detection.

TFT-LCD 패널 검사를 위한 지역적 분별에 기반한 결함 영역 분할 알고리즘 (Segmentation of Defective Regions based on Logical Discernment and Multiple Windows for Inspection of TFT-LCD Panels)

  • 정건희;정창도;윤병주;이준재;박길흠
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권2호
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    • pp.204-214
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    • 2012
  • 본 논문은 비전장비의 결함 검사 시스템을 위한 불균일한 휘도분포를 가지는 TFT-LCD 영상에서 결함 영역을 분할하는 방법을 다룬다. 불균일한 휘도분포 때문에 결함의 영역을 찾기 어려우며 이를 위해 많은 방법들이 제안되었다. Kamel과 Zhoa는 문자 및 그래픽의 분할을 위해 논리적 단계화 방법을 제안하였고, 이 방법은 공간상에서 수행되어지는 지역적 분할 방법으로 불균일한 분포 상에서도 문자가 잘 분할되는 장점이 있다. TFT-LCD의 저해상도 영상도 배경의 분포가 불균일하여 본 논문에서는 Kamel과 Zhoa의 방법을 답습하여 새로운 결함 영역 분할 방법을 제안한다. 제안한 방법은 결함주위에 발생하는 과검출(Ghost object)이 적은 장점이 있으며 제안 방법의 성능을 증명하기위해 실제 결함이 존재하는 TFT-LCD 영상을 이용하여 실험하고, 주파수상에서 많이 사용되는 FFT의 밴드패스 필터를 이용한 분할 방법과 비교하였다.

가버 웨이블렛 변환 및 DCT를 이용한 자동 TFT-LCD 패널 얼룩 검출 (Automatic TFT-LCD Mura Defect Detection using Gabor Wavelet Transform and DCT)

  • 조상현;강행봉
    • 방송공학회논문지
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    • 제18권4호
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    • pp.525-534
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    • 2013
  • 최근 다양한 형태의 TFT-LCD의 수요가 증가함에 따라 LCD 생산 과정에서 얼룩결함을 검사하는 기술에 대한 관심이 높아지고 있다. 본 논문에서는 가버 웨이블렛 변환(Gabor wavelet transform) 및 이산 코사인 변환(Discrete Cosine Transform, DCT)을 이용한 TFT-LCD 패널의 얼룩(mura)을 자동으로 검출하는 방법을 제안한다. 제안한 방법은 DCT 변환 기반의 TFT-LCD 패널 영상의 참조 패널 영상을 생성한다. 원 영상과 생성된 참조 패널 영상에 대해서 실수 가버 웨이블렛 변환(real gabor wavelet transform)을 적용하여 패널 영상에 포함되어 있는 얼룩 결함을 검출하는데 방해가 되는 텍스쳐 정보를 제거하고 변환 영상간의 차영상을 이용하여 제거 결함 영역을 추출한다. 추출된 영역에 대해서는 정량적 평가 과정을 통해 보다 정확한 얼룩 검출을 수행한다. 실험결과는 제안한 방법이 기존의 방법에 비해 보다 정확하고 효율적으로 얼룩을 검출하는 것을 보여준다.

TFT-LCD 자동 수선시스템에서 결함이 있는 셀을 자동으로 추출하는 방법 (Defect Cell Extraction for TFT-LCD Auto-Repair System)

  • 조재수;하광성;이진욱;김동현;전재웅
    • 제어로봇시스템학회논문지
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    • 제14권5호
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    • pp.432-437
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    • 2008
  • This paper proposes a defect cell extraction algorithm for TFT-LCD auto-repair system. Auto defect search algorithm and automatic defect cell extraction method are very important for TFT-LCD auto repair system. In the previous literature[1], we proposed an automatic visual inspection algorithm of TFT-LCD. Based on the inspected information(defect size and defect axis, if defect exists) by the automatic search algorithm, defect cells should be extracted from the input image for the auto repair system. For automatic extraction of defect cells, we used a novel block matching algorithm and a simple filtering process in order to find a given reference point in the LCD cell. The proposed defect cell extraction algorithm can be used in all kinds of TFT-LCD devices by changing a stored template which includes a given reference point. Various experimental results show the effectiveness of the proposed method.

영상처리를 이용한 TFT-LCD의 불량 검출 (Defect detection for TFT-LCD panel using image processing)

  • 이규봉;곽동민;최두현;송영철;박길흠
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2003년도 하계종합학술대회 논문집 Ⅳ
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    • pp.1783-1786
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    • 2003
  • In this paper, an automated line-defect detection method for TFT-LCD panel is presented. A DFB(Directional Filter Bank) and line-projection method are used to find line-defect which is one of the major defects occurred in TFT-LCD panel. The experimental results show that the proposed algorithm gave promising results for applying automated inspection technique for TFT-LCD panel.

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In-line Automatic defect inspection and repair method for TFT-LCD production

  • Honoki, Hideyuki;Arai, T.;Edamura, T.;Yoshimura, K.;Nakasu, N.
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 한국정보디스플레이학회 2007년도 7th International Meeting on Information Display 제7권1호
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    • pp.286-289
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    • 2007
  • We have developed an automated circuit defect inspection and repair method that can be used to improve the yield ratio of TFT-LCD. The method focuses on correcting resist patterns after the development process to ensure shape regularity. We built a prototype system and confirmed that the method is valid.

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TFT-LCD의 결함 검출을 위한 원근 변환 기반의 패턴 제거 방법 (Pattern Elimination Method Based on Perspective Transform for Defect Detection of TFT-LCD)

  • 이준재;이광호;정창도;박길흠;박윤범;이병국
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권6호
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    • pp.784-793
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    • 2012
  • TFT-LCD의 결함은 LCD 패널 자체에 존재하는 패턴으로 인해 원본영상과 입력영상 간의 차영상에 문턱치를 적용하여 검출한다. 그러나 카메라의 특성에 기인한 기하학적인 왜곡에 의해, 패널의 패턴 주기에 해당하는 피치가 영상의 중심에서 멀어질수록 심하게 달라진다. 본 논문에서는 주어진 피치영역의 상하좌우 주변영역과의 비교에 기반한 검출을 제안한다. 이때, 왜곡 보정을 위해 피치계산을 위한 특징점을 추출하고 원근변환을 수행한다. 현장 데이터에 대한 실험을 통해 제안방법의 우수성을 입증한다.