A method to quantitatively analyze the defects formed by the hydrogen evolution during electroplating was suggested based on the theoretical approach of the small angle neutron scattering technique. In case of trivalent chrome layers, an isolated defect size due to the hydrogen evolution was about 40 nm. Direct and pulse plating conditions gave the average defect size of about 4.9 and $4.5{\mu}m$ with rod or calabash shape, respectively. Current density change of the pulse plating from $1.5A/dm^2$ to $2.0A/dm^2$ enlarged the average defect size from 3.3 to $7.8{\mu}m$. The defect morphology like rod or calabash was originated by inter-connecting the isolated defects. Small angle neutron scattering was useful to quantitatively evaluate defect morphology of the deposit.
The size and number of nano-size defects of thin trivalent chrome layers were determined by small angle neutron scattering (SANS) without breaking the thin chrome layers. Most of defect size of the trivalent chromium prepared in this test conditions is in the range of about 40nm. The number of nano-size defects less than about 40nm of the trivalent chromium layer increases with plating voltage at constant current density From this study, SANS is proved as one of useful techniques to evaluate nano-size defects of thin film layer.
소각중성자산란 (Small-angle neutron scattering, SANS)은 물질의 내부 나노구조 분석에 매우 중요한 실험방법론이다. 본 논문에서는 30MW HANARO 연구용 원자로의 냉중성자 연구시설에 설치하기 위하여 한국과학기술원과 한국원자력연구소가 공동으로 개발 중인 40m SANS장치의 개념설계 결과를 보고한다. 장치의 설계 최적화를 위한 전산모사를 수행하였으며, 이를 바탕으로 40m SANS 장치의 주요설계 인자를 결정하였다. 40m SANS 장치의 가능한 Q-range는 $0.0005\;\AA^{-1}-1.0\AA^{-1}$ 이며, 이는 세계 최고 수준의 SANS Q-range에 해당된다. 각 Q-range에 따른 시료위치에서의 중성자 속을 계산하였으며 전산모사에 사용된 냉중성자원이 구현될 시 세계적 수준의 값을 얻을 수 있을 것으로 예상된다.
The quantitative analysis of polymer micelles consisting of amphiphilic block copolymers was carried out by small-angle neutron scattering (SANS). The block copolymers, made of poly(2-ethoxyethyl vinyl ether-b-2-hydroxyethyl vinyl ether)(poly(EOVE-b-HOVE)), exhibited a sharp morphological transition from a homogeneous solution to a micelle structure with increasing temperature. This transition is accompanied by a formation of spherical domains of poly(EOVE) with a radius around 200 $\AA$. The variations of the size and its distribution of the domains were investigated as a function of polymer concentration and temperature. The validity of SANS analysis, including the wavelength- and incident-beam-smearing effects of the SANS instrument, was examined with a pre-calibrated polystyrene latex.
모델 고분자 미셀(서로 결합하거나, 결합하지 않는 두 경우)의 구조를 분석하기 위해 중성자 소각 산란(small angle neutron scattering)법을 이용하였다. 소수성 결합체의 응집수와 농도의 증가에 따른 정렬상태의 변화를 폴리에틸렌글라이콜(PEG, 6 K나 10 K고몰 분자량) 끝에 불화알킬그룹(pefluoroalkyl groups $(-(CH_2)_2C_OnF_{2n+1}$, (n = 6, 8,혹은 10)이 붙은 고분자용액을 이용하여 분석하였다. 결합체의 응집수는 소수성 말단기의 길이에 의해서만 주로 결정이 되고, 고분자의 농도나 온도에 의해 영향을 받지 않는다. 또한, 서로 결합하는 고분자 미셀과, 서로 결합하지 않는 고분자 미셀간에도 결합수에는 차이가 없다. 이러한 모델계는 농도가 증가함에 따라서 체심 입방구조로 정렬된다.
나노기공물질은 특정 기반물질(matrix) 내부에 대략 나노미터크기의 기공을 함유하고 있는 물질이며 나노기공물질의 특성은 기반물질의 특성과 더불어 기공의 형태, 크기, 분포에 의해서 결정된다. 나노기공물질의 기공에 대한 정보를 측정하는 방법으로는 TEM, 흡착법, FE-SEM과 더불어 중성자 또는 X-ray 빔의 산란을 이용하는 소각중성자산란 (Small-Angle Neutron Scatering, SANS), 소각 X-ray 산란 (Small-Angle X-ray Scattering, SAXS), 중성자반사율측정 (Neutron Relfectimetry, NR), X-ray 반사율측정 (X-Ray Reflectometry, XRR) 등이 사용되고 있다. 본 발표는 대략 1 nm - 100 nm 영역의 bulk 구조와 층상구조를 측정할 수 있는 소각 중성자 산란과 중성자 반사율 측정기법을 이용한 나노기공 측정기술을 다룬다.
The morphology of the $D_2O$-induced reverse micellar structure of an amphiphilic block copolymer of poly( ethylene oxide )-b-poly(propylene oxide )-b-poly( ethylene oxide )($EO_{76}PO_{29}EO_{76}$) was investigated in hydrophobic media by small angle neutron scattering (SANS). Increasing $D_2O$ in the styrene/divinylbenzene solution of $EO_{76}PO_{29}EO_{76}$ led to a change in morphology of the reverse micelles from a short range ordered molecular aggregate to a hexagonally arranged micelle, and further to a spherical micelle.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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