• 제목/요약/키워드: SiH4/O2

검색결과 1,355건 처리시간 0.038초

Fluorine 첨가에 의한 F-doped SiOC : H 박막의 저 굴절률 특성 (Refractive index control of F-doped SiOC : H thin films by addition fluorine)

  • 윤석규;강삼묵;정원석;박우정;윤대호
    • 한국결정성장학회지
    • /
    • 제17권2호
    • /
    • pp.47-51
    • /
    • 2007
  • 저굴절 재료인 F-doped SiOC : H 박막을 Si 웨이퍼와 유리기판위에 rf power, 기판온도, 그리고 가스유량($SiH_4,\;CF_4$ and $N_2O$)을 변수로 하여 PECVD법으로 증착하였다. 기판 온도와 rf power증가에 따라 F-doped SiOC : H 박막의 굴절률은 감소하는 경향을 보였다. $N_2O$ 가스 유량이 감소함에 따라 증착된 박막의 굴절률은 감소하였으며, rf power가 180W 기판온도 $100^{\circ}C$, 그리고 $N_2O$ 가스를 첨가하지 않은 조건에서 증착한 박막은 최소 굴절률인 1.3778을 갖는 것을 알 수 있었다. Rf power 60W에서 180W로 증가시킴에 따라 증착된 박막의 불소 함량은 1.9at%에서 2.4at%로 증가하였으며 이러한 이유로 박막의 굴절률은 감소하는 경향을 나타냈다.

Simultaneous Monitoring of KVN 4 Bands toward Evolved Stars

  • Cho, Se-Hyung
    • 천문학회보
    • /
    • 제39권2호
    • /
    • pp.112.2-112.2
    • /
    • 2014
  • We propose simultaneous monitoring observations of 22 GHz $H_2O$ and 43/86/129 GHz SiO masers toward ~15 evolved stars in order to investigate spatial structure and dynamical effect from SiO to $H_2O$ maser regions including mass-loss process and development of asymmetry in circumstellar envelopes. We also aim at investigating mutual association and difference between SiO and $H_2O$ masers for establishing SiO and $H_2O$ maser models coupled to hydrodynamical model of circumstellar envelope. In addition, the correlation and difference of SiO maser properties among J=1-0, J=2-1, and J=3-2 transition masers are traced according to different type of stars for constraining SiO pumping models. These scientific goals and target sources were determined based on KVN single dish and VLBI feasibility test observations at 4 bands. As a total observing time of every 2 month monitoring, about 90 and 360 hours (in average per year) are required for single dish and VLBI observations, respectively. From the 2014B observing season, these monitoring observations will be derived as one of KVN key science programs.

  • PDF

결정성 아날심(|Na0.94(H2O)|[Si2.06Al0.94O6]-ANA)의 합성 및 단결정구조: 양이온 및 물 분자의 위치, Si/Al 비의 결정 (Synthesis of Single Crystalline Analcime and Its Single-crystal Structure, |Na0.94(H2O)|[Si2.06Al0.94O6]-ANA: Determination of Cation Sites, Water Positions, and Si/Al Ratios)

  • 서성만;서정민;고성운;임우택
    • 대한화학회지
    • /
    • 제55권4호
    • /
    • pp.570-574
    • /
    • 2011
  • 최대 0.20 mm 크기를 가진 아날심 단결정은 $3.00SiO_2$ : $1.50NaAlO_2$ : 8.02NaOH : $454H_2O$ : 5.00TEA의 겔 조성으로부터 합성되어졌다. $Na^+$ 이온으로 완전히 이온교환 된 아날심은 0.1 M 농도의 NaCl 수용액으로부터 준비하였다(이온교환용액의 pH는 NaOH 용액을 첨가하여 6에서 11로 맞추었다). $|Na_{0.94}(H_2O)|[Si_{2.06}Al_{0.94}O_6]-ANA(a=13.703(3){\AA})$의 분자식을 가지는 수화된 아날심 단결정의 구조는 294 K에서 Ibca의 orthorhombic 공간군으로 단결정 X-선 회절기법에 의해 결정되었다. 결정 구조의 최종 에러값은 $R_1/wR_2$= 0.054/0.143에 수렴되었다. 약 15개의 $Na^+$ 이온이 팔면체 배위로 3군데의 비동등한 위치에서 발견되었다. 합성된 아날심의 화학적 조성은 $Na_{0.94}(H_2O)Si_{2.06}Al_{0.94}O_6$ 확인되었으며, Si/Al 비는 단결정 구조 정밀화를 통하여 찾은 양이온의 점유수인 14.79개에 의해 2.19로 결정되었다.

$N_2H_4-H_2O$용액의 {100} Si에 대한 최적식각조건의 설정과 전기화학적 식각에의 응용 (Establishment of Optimal {100} Si Etching Condition for $N_2H_4-H_2O$ Solutions and Application to Electrochemica Etching)

  • 주병권;이윤호;김병곤;오명환
    • 대한전자공학회논문지
    • /
    • 제26권11호
    • /
    • pp.1686-1690
    • /
    • 1989
  • Using the anisotropic etching characteristics of N2H4-H2O solutions, Si diaphragm was fabricated for the integrated sensors. The optimal composition and temperature of the etching solution in (100) Si etching process was established to be 50mol% N2H4 in H2O at 105\ulcorner\ulcorner for both higher etch rate (=2.6\ulcorner/min) and better surface quality of etched (100) planes. Based on the above optimal etching condition, the electrochemical etch-stop technique was employed to form n-type Si diaphragm having a thickness of 20\ulcorner and the thickness of diapragm could exactly be controlled to 20\ulcorner\ulcorner.

  • PDF

삼중접합 실리콘 박막 태양전지 고효율화를 위한 a-$SiO_x$ 상부전지 특성 연구

  • 이지은;조준식;박상현;윤경훈;송진수;김동환;이정철
    • 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
    • /
    • 한국신재생에너지학회 2010년도 춘계학술대회 초록집
    • /
    • pp.63.2-63.2
    • /
    • 2010
  • 삼중접합 태양전지에 상부전지로 이용되는 a-SiO:H 태양전지는 PECVD(Plasma Enhanced Chemical Vapour Deposition)을 이용하여 증착하였다. i a-SiO:H는 $CO_2/SiH_4$ 비율을 변화하여 밴드갭을 조절하였다. $CO_2/SiH_4$가 0에서 0.43으로 증가 할수록 밴드갭이 1.74 eV에서 1.94 eV로 증가하는 경향을 보였다. 이는 FTIR에서 나타난 결과인 Si-O-Si 결합의 증가 때문인 것으로 판단한다. 그에 반해서 광 전도도는 감소하는 경향을 보였다.그러나 암전도도와 광전도도의 비율인 광민감도는 $10^5$에서 $10^4$의 값으로 비정질 태양전지에 적용가능한 값을 보였다. 이러한 박막 특성을 가진 i a-SiO:H를 이용하여 비정질 실리콘 태양전지를 제작한 결과 $CO_2/SiH_4$의 비율이 증가함에 따라 태양전지의 $V_{oc}$가 0.8 V에서 0.5 V로 현저하게 감소하였고, $J_{sc}$와 FF 역시 11 $mA/cm^2$에서 4 $mA/cm^2$, 69%에서 50%로 감소하였다. 단위박막 결함을 측정하는 CPM(Constant Photocurrent Method)을 이용하여 i a-SiO:H 내부에 $10^{16}cm^{-3}$ 정도의 내부 결함을 관찰하였고 이는 태양전지의 특성 감소와 관련이 있는 것으로 판단한다.

  • PDF

P형 4H-SiC 기판에 형성된 ZnO 박막/나노선 가스 센서의 300℃에서 CO 가스 감지 특성 (CO Gas Sensing Characteristic of ZnO Thin Film/Nanowire Based on p-type 4H-SiC Substrate at 300℃)

  • 김익주;오병훈;이정호;구상모
    • 한국전기전자재료학회논문지
    • /
    • 제25권2호
    • /
    • pp.91-95
    • /
    • 2012
  • ZnO thin films were deposited on p-type 4H-SiC substrate by pulsed laser deposition. ZnO nanowires were formed on p-type 4H-SiC substrate by furnace. Ti/Au electrodes were deposited on ZnO thin film/SiC and ZnO nanowire/SiC structures, respectively. Structural and crystallographical properties of the fabricated ZnO thin film/SiC and ZnO nanowire/SiC structures were investigated by field emission scanning electron microscope and X-ray diffraction. In this work, resistance and sensitivity of ZnO thin film/SiC gas sensor and ZnO nanowire/SiC gas sensor were measured at $300^{\circ}C$ with various CO gas concentrations (0%, 90%, 70%, and 50%). Resistance of gas sensor decreases at CO gas atmosphere. Sensitivity of ZnO nanowire/SiC gas sensor is twice as big as sensitivity of ZnO thin film/SiC gas sensor.

CH4 농도 변화가 저유전 SiOC(-H) 박막의 유전특성에 미치는 효과 (Effect of CH4 Concentration on the Dielectric Properties of SiOC(-H) Film Deposited by PECVD)

  • 신동희;김종훈;임대순;김찬배
    • 한국재료학회지
    • /
    • 제19권2호
    • /
    • pp.90-94
    • /
    • 2009
  • The development of low-k materials is essential for modern semiconductor processes to reduce the cross-talk, signal delay and capacitance between multiple layers. The effect of the $CH_4$ concentration on the formation of SiOC(-H) films and their dielectric characteristics were investigated. SiOC(-H) thin films were deposited on Si(100)/$SiO_2$/Ti/Pt substrates by plasma-enhanced chemical vapor deposition (PECVD) with $SiH_4$, $CO_2$ and $CH_4$ gas mixtures. After the deposition, the SiOC(-H) thin films were annealed in an Ar atmosphere using rapid thermal annealing (RTA) for 30min. The electrical properties of the SiOC(-H) films were then measured using an impedance analyzer. The dielectric constant decreased as the $CH_4$ concentration of low-k SiOC(-H) thin film increased. The decrease in the dielectric constant was explained in terms of the decrease of the ionic polarization due to the increase of the relative carbon content. The spectrum via Fourier transform infrared (FT-IR) spectroscopy showed a variety of bonding configurations, including Si-O-Si, H-Si-O, Si-$(CH_3)_2$, Si-$CH_3$ and $CH_x$ in the absorbance mode over the range from 650 to $4000\;cm^{-1}$. The results showed that dielectric properties with different $CH_4$ concentrations are closely related to the (Si-$CH_3$)/[(Si-$CH_3$)+(Si-O)] ratio.

TiO2-SiO2 및 H2SO4으로 개질된 TiO2-SiO2의 촉매특성과 산 성질 (Catalytic and Acidic Properties of TiO2-SiO2 Unmodified and Modified with H2SO4)

  • 손종락;장향자
    • 공업화학
    • /
    • 제1권1호
    • /
    • pp.35-43
    • /
    • 1990
  • 일련의 $TiO_2-SiO_2$촉매를 $TiCl_4$$Na_2SiO_3$혼합용액을 공침전시켜 제조하였으며 이중 일부의 촉매는 1N $H_2SO_4$로 처리하여 촉매표면을 개질하였다. 개질된 촉매의 촉매활성은 개질 안된 촉매보다 높은 촉매활성을 나타내었으며 cumene dealkylation 반응에서 보다 2 - propanol dehydration 반응에서 더욱 효과가 크게 나타났다. 개질 안된 촉매의 상기 두 반응에 대한 촉매활성은 산의 양과 관계가 있었다. $TiO_2-SiO_2$촉매는 비교적 많은 양의 약한 산자리와 작은 양의 강한 산자리를 가졌기 때문에 cumene dealkylation 반응에서 보다 2 - propanol dealkylation 반응에 더 높은 촉매활성을 나타내었다. 촉매활성에 미치는 $H_2SO_4$의 개질효과는 $TiO_2$ 함량에 비례하였으며 $92-TiO_2-SiO_2/SO_4^2$가 2 - propanol dealkylation 반응에 가장 큰 촉매활성의 증가를 나타내었다.

  • PDF

NF3 / H2O 원거리 플라즈마 건식 세정 조건 및 SiO2 종류에 따른 식각 이방 특성 (Etching Anisotropy Depending on the SiO2 and Process Conditions of NF3 / H2O Remote Plasma Dry Cleaning)

  • 오훈정;박세란;김규동;고대홍
    • 반도체디스플레이기술학회지
    • /
    • 제22권4호
    • /
    • pp.26-31
    • /
    • 2023
  • We investigated the impact of NF3 / H2O remote plasma dry cleaning conditions on the SiO2 etching rate at different preparation states during the fabrication of ultra-large-scale integration (ULSI) devices. This included consideration of factors like Si crystal orientation prior to oxidation and three-dimensional structures. The dry cleaning process were carried out varying the parameters of pressure, NF3 flow rate, and H2O flow rate. We found that the pressure had an effective role in controlling anisotropic etching when a thin SiO2 layer was situated between Si3N4 and Si layers in a multilayer trench structure. Based on these observations, we would like to provide further guidelines for implementing the dry cleaning process in the fabrication of semiconductor devices having 3D structures.

  • PDF

PECVD법에 의해 증착된 SiO2 후막의 광학적 성질 및 구조적 분석 (Optical Properties and Structural Analysis of SiO2 Thick Films Deposited by Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)

  • 조성민;김용탁;서용곤;윤형도;임영민;윤대호
    • 한국세라믹학회지
    • /
    • 제39권5호
    • /
    • pp.479-483
    • /
    • 2002
  • 저온($320^{\circ}$C)에서 $SiH_4$$N_2O$ 가스의 혼합을 통해 플라즈마화학기상증착(PECVD)법을 이용하여 실리카 광도파로의 클래딩막으로 사용되는 $SiO_2$ 후막을 제조하였으며, 공정변수로는 $N_2O/SiH_4$ 유량비와 RF power에 변화를 주었다. 증착된 시편은 $N_2$ 분위기의 열처리로에서 $1050{\circ}$에서 2시간동안 열처리하였다. $N_2O/SiH_4$ 유량비가 증가함에 따라 증착속도는 $9.4~2.9{\mu}m /h$까지 감소하였으며, RF power가 증가함에 따라 증착속도는 $4.7~6.9{\mu}m /h$까지 증가하였다. 두께 및 굴절률은 Prism Coupler를 이용하여 분석하였다. 화학적 성질 및 구조적 성질은 X-ray Photoelectron Spectroscopy(XPS)와 Fourier Transform-Infrared Spectroscopy(FT-IR)를 이용하여 분석하였으며, Scanning Electron Microscopy(SEM)를 이용하여 시편의 단면을 관찰하였다.