• Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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• 2003.05a
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• pp.696-699
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• 2003

In this study, we suggested the model to precisely evaluate the ferroelectric hysteresis loop, using the modified Sawyer-Tower circuit and the ferroelectric capacitor with a MDFM(Metal-Dielectric-ferroelectric-Metal) structure. The mathematical expression of dipole polarization is applied to the numerical integration algorithm, and the fatigue property can be considered including the dielectric layer between ferroelectrics and bottom electrode. The validity of our model is proved comparing the estimated value of our model and the measured results of PLT(10) thin film.

• Korean Journal of Crystallography
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• v.12 no.2
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• pp.65-91
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• 2001

Errors and its compensation in the measurement of dielectric hysteresis in ferroelectric by using Sawyer-Tower circuit were discussed. When ferroelectrics are lossy, remanent polarization and coercive field are likely to be over-estimated. As the DC conductivity and measuring time increases, measurement errors in ferroelectric properties increase. Current hysteresis measurement was suggested for compensation such errors.

• Journal of the Microelectronics and Packaging Society
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• v.12 no.3 s.36
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• pp.219-226
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• 2005

When a ferroelectric film has an inhomogeneous distribution of charged defects, a voltage shift in the polarization curve is induced by the internal field generated in the film. The direction and the magnitude of voltage shift in the P-V hysteresis curves obtained by the Sawyer-Tower method are different from those obtained by the virtual ground method. In this study, the asymmetric behavior in the P-V hysteresis curves of inhomogeneous ferroelectric films was investigated with a physical model and the polarization curves obtained by the Sawyer-Tower and the virtual ground methods are compared.

• Journal of the Korean Ceramic Society
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• v.38 no.7
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• pp.667-671
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• 2001

Sawyer-tower 회로를 이용한 강유전 이력곡선의 측정과정에서의 주요 오차 원인을 살펴보고 이에 대한 대안을 제시해 보았다. 강유전체 시편에 존재하는 직류 누설성분에 의해 잔류분극과 항전계는 과대평가될 수 있는 위험성이 항상 있음을 알 수 있었으며 이러한 오차의 보정에 대하여 논의하였다. 또한 강유전 이력곡선의 측정에서 측정하는 시간이 증가되면서 시편의 발열로 인해서 시편의 온도가 증가하게 되어 잔류분극 값과 항전계 값이 감소하는 경향으로 나타남을 관찰하였고, 그 대책을 제안하였다.

• Korean Journal of Materials Research
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• v.6 no.2
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• pp.221-227
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• 1996

60Hz의 교류전계를 사용하는 종래의 Sawyer-Tower회로를 응용하여 0.1Hz의 직류 개념(quasi-DC)의 전계를 이용한 polarization과 strain의 동시 측정을 실시하였다. 측정의 대상으로는 강유전체로서 압전변형을 보이는 재료 중 가장 대표적인 PZT 계와 완화형 강유전체로서 전왜변형을 보이는 재료 중 가장 대표적인 PZT계와 완화형 강유전체로서 전왜변형을 보이는 재료 중 가장 대표적인 PMN계로 하였다. 0.1Hz한 주기의 전계 인가로 이력곡선을 측정할 수 있어서 시편의 발열을 크게 억제할 수 있었고 정확한 온도에서의 측정이 가능하였다. 또한 양방향 전계뿐 아니라 단방향 전계, 바이어스 전계도 인가할 수 있기 때문에 종래의 Sawyer-Tower 방법에서는 얻을 수 없는 강유전성에 관한 다양한 정보를 얻을 수 있었다. 이 방법은 또한 0.1Hz의 전계 하에서 얻을 수 없는 강유전성에 관한 다양한 정도를 얻을 수 있었다. 이 방법은 또한 0.1Hz의 전계 하에서 이력곡선이 측정되는 한 주기 동안에 시편에 부착된 스트레인 게이지를 통해 전계인가에 따른 strain 변화를 동시에 측정할 수 있기 때문에 strain과 polarization의 상관관계를 정확히 조사할 수 있다는 장점이 있다. PMN계에서 인가되는 전계의 넓은 범위에서 전왜정수 Q값을 연속적으로 구할 수 있었다.

• Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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• v.25 no.6
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• pp.239-244
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• 2015

Lead zirconate titanate (PZT) thick films with thickness of $10{\sim}20{\mu}m$ were fabricated on silicon substrate by aerosol deposition method. As-deposited films on silicon were annealed at the temperatures of $700^{\circ}C$. The electrical properties of films deposited by PZT powders were characterized using impedance analyzer and Sawyer-Tower circuit. The PZT powder was prepared by both conventional solid reaction process and sol-gel process. The remanent polarization, coercive field, and dielectric constant of the $10{\mu}m$ thick film with solid reaction process were $20{\mu}C/cm^2$, 30 kV/cm and 1320, respectively. On the other hand, the PZT films by sol-gel process showed a poor dielectric constant of 635. The reason was probably due to the presence of pores produced from organic residue during annealing.

• Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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• 1994.11a
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• pp.81-82
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• 1994

히토류 불화물인 SmF$_3$, PrF$_3$, 및 TbF$_3$를 ZnS 모체에 첨가한 박막 EL소자를 Fig.1과 같이 제작하고 발광중심의 농도변화, 열철, 증착시의 기판온도, 증착되는 막의 두께 등의 조건을 변화시켜서 각 조건에 의존하는 소자의 특성을 X-선회절분석과 분광 스펙트럼 분석으르 바탕으로 해석했다. 광학적 스펙트럼은 발광중심과 모체에 의존하며 기판온도의 변화는 발광층의 결정성 향상에 기여한다는 것을 알았다. 기판 온도의 변화에 의한 막의 결정성 향상과 열처리에 의한 발광중신의 모체내 열확산에 따른 재결정화나 비 방사성이완(non-radiative relaxation)을 일으키는 격자결함의 감소는 EL소자의 발광층내 전도전자에 영향을 미쳐 휘도와 효율의 개선이 이루어짐을 알았다. 소자의 발광층에 흐르는 전도전류와 이동전하량을 각각 Chen-Krupka회로와 Sawyer-Tower회로로 측정했다

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 1999.05a
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• pp.286-290
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• 1999

Electroluminescence is occurred when phosphor is located in electric field. In this paper, we made powder electroluminescent device (PELD) with structured ITO film/Phosphor/Insulator/Silver paste. The transparent electrode was ITO film and green(2704-01), orange(2702-02) and blue-green(2703-01) were used as phosphor. The insulator was BaTiO$_3$ and $Y_2$O$_3$, back electrode was silver paste. To investigate electrical and optical properties of PELDs, EL spectrum, Brightness, Transferred charge density using Sawyer-Tower\`s circuit was measured.

• Electrical & Electronic Materials
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• v.8 no.6
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• pp.752-758
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• 1995

Red emitting CaS:Eu,S electroluminescent(EL) device prepared at 550.deg. C by an electron-beam evaporation technique, demonstrated luminance of 175cd/m$\^$2/ and efficiency of 0.311m/W with 3kHz drive. Luminance was increased with the increase of applied voltage and frequency. From the results of the PL spectrum and the EL spectrum, the CaS:Eu, S device showed emission peak near 640nm resulted from the transition of EU$\^$2+/ 4f$\^$6/5d.rarw.4f$\^$7/. The capacitance of the phosphor layer from the Sawyer-Tower circuit was 10.5nF/cm$\^$2/.

• Electrical & Electronic Materials
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• v.11 no.10
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• pp.53-59
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• 1998

Paraelectric lead landthanum titanate(PLT) thin films have been prepared by a reactive dc magnetron sputtering system using a multicomponent metal target. The surface area control of each element on the target markedly facilitates the fabrication of thin films of complex ceramic compounds. A postdeposition heat-treatment was applied to all as-deposited PLT thin films at annealing temperatures up to 75$0^{\circ}C$ for crystalization. The composition of the PLT(28) thin filmannealed at $650^{\circ}C$ was: Pb, 0.73; La, 0.28; Ti, 0.88; O, 2.9. The dielectric constant and dissipation factor of the thin film(200 nm) at low filed measurements (500 Vcm-1) are 1216 and 0.018, respectively. The charge storage density using a typical Sawyer-Tower circuit with a 500 Hz sine wave was 12.5 $\mu$Ccm-2 at the electric field of 200 kVcm-1.