SPE법을 통해 형성된 $Ge_xSi_{1-x}/Si$ 이종접합 화합물 반도체의 결정분석
(Structural properties of GeSi/Si heterojunction compound semiconductor films by using SPE)
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- 한국정보통신학회논문지
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- 제4권3호
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- pp.713-719
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- 2000