SPM(Scanning Probe Microscopy)을 이용한 국소영역에서 실리콘 나노크리스탈의 전기적 특성 분석 (Electrical property analysis of Si nanocrystal by SPM(Scanning Probe Microscopy) on insulating substrate)
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- 대한전기학회:학술대회논문집
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- 대한전기학회 2004년도 추계학술대회 논문집 전기물성,응용부문
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- pp.95-97
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- 2004