• Title/Summary/Keyword: Reason's Accident Causation

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A study for safety-accident analysis pattern extract model in semiconductor industry (반도체산업에서의 안전사고 분석 패턴 추출 모델 연구)

  • Yoon Yong-Gu;Park Peom
    • Journal of the Korea Safety Management & Science
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    • v.8 no.2
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    • pp.13-23
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    • 2006
  • The present study has investigated the patterns and the causes of safety -accidents on the accident-data in semiconductor Industries through near miss report the cases in the advanced companies. The ratio of incomplete actions to incomplete state was 4 to 6 as the cases of accidents in semiconductor industries in the respect of Human-ware, Hard- ware, Environment-ware and System-ware. The ratio of Human to machine in the attributes of semiconductor accident was 4 to 1. The study also investigated correlation among the system related to production, accident, losses and time. In semiconductor industry, we found that pattern of safety-accident analysis is organized potential, interaction, complexity, medium. Therefore, this study find out that semiconductor model consists of organization, individual, task, machine, environment and system.

첨단산업에서의 안전 사고 분석 패턴 추출 모델 연구

  • Yun, Yong-Gu;Park, Beom
    • Proceedings of the Safety Management and Science Conference
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    • 2005.11a
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    • pp.74-82
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    • 2005
  • 안전사고 원인에 대하여 Near-Miss Report 분석을 근거로 하여, 재해원인에 대하여 접근해 보고, 이 Data를 참고로 첨단산업에서의 재해 유형을 분석해보고, 유형에 따른 기여인자를 기존 Human-ware, Hard-ware, System-ware를 구성요소로 해서 첨단산업에서의 각각의 수행인자의 비율 분석을 통한 판단한 결과는 Human-ware와 Hard-ware 비율은 4:1로 나타났고, 첨단사업장에서의 5년간의 사고건수를 근거로 원인에 대한 수행인자의 ANOVA로 분석하여 4개인자에 대한 분산 분석을 도출하였고 이에따른 Loss와 Time과 Accident 관계와 Effect of Intervention관계와 Reason's Accident Causation Model과 Perrow's Normal Accident Theory Model를 연관시켜서 첨단산업에서의 사고이론 Model를 추출해서 첨단산업에서의 안전사고에 대한 유형을 분석해서 사고를 사전에 제거키 위한 새로운 모델을 제시하고자 한다.

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