This study has carried out a performance of dimensionally stable anode for the purpose of disinfection of Legionella pneumophila in water. Three kinds of electrode were prepared by plating and thermal deposition, which were coated by the oxides of Pt, Ru and Ir on Ti metal surface, respectively. The order of disinfection performance for Legionella pneumophila was Ru/Ti > Ir/Ti > Pt/Ti. Free Cl and $ClO_2$ generation of Ir/Ti electrode was higher than that of two electrodes. However, the concentrations of generated $H_2O_2$ and $O_3$ of the Ru/Ti electrode were highest among the three electrodes. The higher NaCl concentration was, the more oxidants was generated and disinfection effect was increased. However, optimum NaCl dosage was 0.0125% due to the regulation on the conductivity and $Cl^-$ concentration for the cooling water quality of air conditioning and refrigeration equipment. With the increase of current, oxidants was more generated and following disinfection effect was increased. The increase of electrode distance reduced oxidants generation due to the low electric power, and their disinfection effect was decreased accordingly.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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1999.07a
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pp.223-223
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1999
PZT(PbZr1-xTixO3) 박막은 고유전율과 같은 remanent polarization을 가져서 고집적 소자의 커패시터 유전율층 또는 비휘발성 메모리 소자의 제조에 이용되고 있으나, fatigue 와 aging 문제로 인하여 새로운 물질의 개발이 필요한데, 그 대표적으로 연구되고 있는 것이 PMN-PT(Pb(Mg1/3Nb2/3)O-PbTiO3) 이다. 본 실험에서는 sol-gel 법에 의하여 제조된 PMN-PT막을 ICP(Inductively coupled plasma)에 의하여 식각하였고 mask층으로는 PR을 사용하였다. 식각 가스로는 Ar, Cl, BCl를 단독 또는 혼합하여 사용하였으며, 식각 특성을 보기 위하여 RF Power, Substrate bias, Operation pressure, Substrate temperature를 변화시켰다. 식각속도는 stylus profiler를 이용하여 측정하였고, 단면 profile은 scanning electron microscopy (SEM)를 이용하여 관찰하였다. 식각 메커니즘을 규명하고자 식각된 박막의 표면을 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)로 관찰하였고, optical emission spectroscopy (OES)로 플라즈마 특성을 규명하고자 하였다. 식각속도는 Ar 또는 Cl2 플라즈마에 BCl3 가스를 혼합하였을 경우 증가되었고, BCl3 가스를 단독으로 사용하여도 높은 식각속도를 나타내었으며, BCl3의 첨가량이 늘어날수록 PR의 식각속도는 감소하여 높은 선택비를 보였다. 90% BCl3/10%Cl2 플라즈마에서 2800$\AA$/min의 식각속도 그리고 1.37:1의 PR 선택비를 얻을 수 있었다. Power나 기판 bias 증가에 따라 식각속도는 증가하였으나 기판 온도변화에는 민감하지 않았다. BCl3 rich에서의 식각속도 증가와 선택비 증가는 B2O3의 형성에 의한 것으로 생각된다.
High-frequency dielectric and microwave absorbing properties have been investigated in ferroelectric materials (BaTiO$_3$(BT), (1-x)Pb$Mg_{\frac{1}{3}}Nb_{\frac{2}{3}}$)O$_3$-xPbTiO$_3$(PMN-PT), (1-x)Pb$Mg_{\frac{1}{3}}Nb_{\frac{2}{3}}$O$_3$-xPb(Zn_{\frac{1}{3}}Nb_{\frac{2}{3}}$)O$_3$(PMN-PZN) for the aim of thin microwave absorbers in the frequency range of mobile telecommunication. The specimenns are prepared by conventional ceramic processing and complex permittivity has been measured by transmission/reflection method. The ferroelectric materials show high dielectric constant and dielectric loss in the microwave range and their domiant loss mechanism is considered to be domain wall relaxation. The microwave absorbance of BT 0.9PMN-0.1PT, and 0.8PMN-0.2PZN specimen (determined at 2) are found to be 99.5% (at a thickness of 4.5 mm), 50% (2.5 mm), and 30% (2.5 mm), respectively. It is suggested that PMN-PT or PMN-PZN ferroelectrics are good candidate materials for the spacer of λ/4 absorber. The use of ferroelectric materials is effective in reducing the thickness of absorber with their advantage of high dielectric constant.
Significant improvements in the switching voltage distribution are required for the development of unipolar resistive memory devices using $MnO_x$ thin films. The $V_{set}$ of the as-grown $MnO_x$ film ranged from 1 to 6.2 V, whereas the $V_{set}$ of the oxygen-annealed film ranged from 2.3 to 3 V. An excess of oxygen in an $MnO_x$ film leads to an increase in $Mn^{4+}$ content at the $MnO_x$ film surface with a subsequent change in the $Mn^{4+}/Mn^{3+}$ ratio at the surface. This was attributed to the change in $Mn^{4+}/Mn^{3+}$ ratios at the $MnO_x$ surface and to grain growth. Oxygen annealing is a possible solution for improving the switching voltage distribution of $MnO_x$ thin films. In addition, crystalline $MnO_x$ can help stabilize the $V_{set}$ and $V_{reset}$ distribution in memory switching in a Ti/$MnO_x$/Pt structure. The improved uniformity was attributed not only to the change of the crystallinity but also to the redox reaction at the interface between Ti and $MnO_x$.
The $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films were fabricated on alumina substrate by screening printing method. The obtained films were sintered at $1400^{\circ}C$ with bottom electrode of Pt for 2 hours. The structural and electrical properties of $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films were compared with pure $BaTiO_3$ and $SrTiO_3$ films. The (Ba,Sr)$TiO_3$ phase was appeared at the $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films. The thickness of $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick film, obtained by one printing, was about $50{\mu}m$. The dielectric constant and dielectric loss of the $BaTiO_3/SrTiO_3$ heterolayered thick films were about 1964, 5.5% at 1KHz, respectively.
Ferroelectric $Bi_{3.35}Sm_{0.65}Ti_{3}O_{12}(BSmT)$ thin films were synthesized by sol-gel process. In this experiments, $Bi(TMHD)_{3},\;Sm_{5}(O^{i}Pr)_{13},\;Ti(O^{i}Pr)_4$ were used as precursors, which were dissolved in 2-methoxyethanol. The BSmT thin films were deposited on the Pt/TiO/SiO/Si substrates by spin-coating. Thereafter, the thin films with the thickness of 240 nm were annealed from 600 to $720^{\circ}C$ in oxygen atmosphere for 1 h, and post-annealed in oxygen atmosphere for 1 h after deposition of Pt electrode to enhance the electrical properties. To investigate the effects of Sm-substitution in the BTO thin films, the BTO and BSmT thin films were prepared, respectively. The remanent polarization and coercive voltage of the BSmT thin films annealed at $720^{\circ}C$ were $19.48{\mu}C/cm^2$ and 3.40 V, respectively.
Kim, Sung-Wook;Choi, Eun-Young;Park, Wooshin;Im, Hun Suk;Hur, Jin-Mok
Journal of Nuclear Fuel Cycle and Waste Technology(JNFCWT)
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v.13
no.3
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pp.229-233
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2015
Developing novel anode materials to replace the Pt anode currently used in electrolytic reduction is an important issue on pyroprocessing. In this study, the electrochemical behavior of TiN was investigated as the conductive ceramic anode which evolves O2 gas during the reaction. The feasibility and stability of the TiN anode was examined during the electrolytic reduction of UO2. The TiN anode could electrochemically convert UO2 to metallic U in a LiCl–Li2O molten salt electrolyte. No oxidation of TiN was observed during the reaction; however, the formation of voids in the bulk section appeared to limit the lifetime of the TiN anode.
The aggressive scaling of dynamic random-access memory capacitors has increased the need to maintain high capacitance despite the limited physical thickness of electrodes and dielectrics. This makes it essential to use high-k dielectric materials. TiO2 has a large dielectric constant, ranging from 30~75 in the anatase phase to 90~170 in rutile phase. However, it has significant leakage current due to low energy barriers for electron conduction, which is a critical drawback. Suppressing the leakage current while scaling to achieve an equivalent oxide thickness (EOT) below 0.5 nm is necessary to control the influence of interlayers on capacitor performance. For this, Pt and Ru, with their high work function, can be used instead of a conventional TiN substrate to increase the Schottky barrier height. Additionally, forming rutile-TiO2 on RuO2 with excellent lattice compatibility by epitaxial growth can minimize leakage current. Furthermore, plasma-enhanced atomic layer deposition (PEALD) can be used to deposit a uniform thin film with high density and low defects at low temperatures, to reduce the impact of interfacial reactions on electrical properties at high temperatures. In this study, TiO2 was deposited using PEALD, using substrates of Pt and Ru treated with rapid thermal annealing at 500 and 600 ℃, to compare structural, chemical, and electrical characteristics with reference to a TiN substrate. As a result, leakage current was suppressed to around 10-6 A/cm2 at 1 V, and an EOT at the 0.5 nm level was achieved.
Volatile organic compounds (VOCs) have been recognized as major contributor to air pollution. Catalytic oxidation in VOCs can give high efficiency at low temperature. In this study, monometallic Pt, Ir and bimetallic Pt-Ir were supported to $TiO_2$. Xylene, toluene and methyl ethyl ketone (MEK) were used as reactants. The monometallic or bimetallic catalysts were prepared by the excess wetness impregnation method and characterized by XRD, XPS and TEM analysis. Result reveal that Pt catalyst has higher conversion than Ir catalyst and Pt-Ir bimetallic catalysts. The existence of multipoint actives in, Pt-Ir bimetallic catalysts gives improved performance for the Pt metalstate. Bimetallic catalysts have higher conversion for VOCs than monometallic ones. The addition, VOCs oxidation follows first order kinetics. The addition of small amount of Ir to Pt promotes oxidation conversion of VOCs.
In this paper Dielectric and strain properties of (1-x-y)PMN-yPT-xST Ceramics have been investigated as a function of the amount of $SrTiO_3(ST)$. The $SrTiO_3$ content is ranged from 0.01-0.06(wt%). As the amount of ST is increased, dielectric constant has a maximum value at 0.05 mol composition. The Curie temperature is decreased linearly with increasing ST composition and Polarization properties have been investigated. Coercive field and ramnant polarization has a maximum value at 0.01mol composition.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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