Journal of the Korean Data and Information Science Society
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제19권2호
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pp.609-620
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2008
There may be several parallel equipments having the same function in a multi-stage manufacturing process, which affect the product quality differently and have significant differences in defect rate. The product quality may depend on what equipments it has been processed as well as what process variable values it has. Applying one model ignoring the presence of different equipments may distort the prediction of defect rate and the identification of important quality variables affecting the defect rate. We propose a procedure for data segmentation when constructing models for predicting the defect rate or for identifying major process variables influencing product quality. The proposed procedure is based on the principal component analysis and the analysis of variance, which demonstrates a better performance in predicting defect rate through a case study with a PDP manufacturing process.
It is clear that monocrystalline Silicon (Si) ingots are the key raw material for semiconductors devices. In the present industries markets, most of monocrystalline Silicon (Si) ingots are made by Czochralski Process due to their advantages with low production cost and the big crystal diameters in comparison with other manufacturing process such as Float-Zone technique. However, the disadvantage of Czochralski Process is the presence of impurities such as oxygen or carbon from the quartz and graphite crucible which later will resulted in defects and then lowering the efficiency of Si wafer. The heat transfer plays an important role in the formation of Si ingots. However, the heat transfer generates convection in Si molten state which induces the defects in Si crystal. In this study, a crystal growth simulation software was used to optimize the Si crystal growth process. The furnace and system design were modified. The results showed the melt-crystal interface shape can affect the Si crystal growth rate and defect points. In this study, the defect points and desired interface shape were controlled by specific crystal growth rate condition.
ICT 기술의 발전에 따라 제조 산업은 공정 상에서 생성되는 제조 데이터를 분석하여 효율을 높이고자 많은 노력을 하고 있다. 본 논문에서는 스마트 공장의 일환으로 의사결정나무 알고리즘(CHAID)을 이용한 데이터 마이닝 기반 제조공정을 제안한다. 약 5개월간 수집된 실제 제조 공정의 432개 센서 데이터를 활용하여 불량률이 낮은 안정적인 공정 기간과 불량률이 높은 불안정한 공정 기간 간에 유의미한 차이를 보이는 변수를 찾아냈다. 선정된 최종 변수가 불량률 개선에 실제로 효과가 있는지를 측정하기 위해 해당 변수의 안정 값 범위를 설정하여 14일 간 공정에서 해당 센서가 안정 값의 범위를 벗어나지 않도록 공정 설정 값을 조절했고, 불량률 개선의 효과를 측정하였다. 이를 통해 제조 산업에서 생성되는 공정 센서 데이터를 활용 및 분석하여 불량률을 개선할 수 있는 실증적인 가이드라인을 제시할 수 있을 것으로 기대한다.
Kusukawa and Ohta presented the $CS_{CQ-r}$ chart to monitor the process defect $rate{\lambda}$ in high-yield processes that is derived from the count of defects. The $CS_{CQ-r}$ chart is more sensitive to $monitor{\lambda}$ than the CQ (Cumulative Quantity) chart proposed by Chan et al.. As a more superior chart in high-yield processes, we propose a Synthetic chart that is the integration of the CQ_-r chart and the $CS_{CQ-r}$chart. The quality characteristic of both charts is the number of units y required to observe r $({\geq}2)$ defects. It is assumed that this quantity is an Erlang random variable from the property that the quality characteristic of the CQ chart follows the exponential distribution. In use of the proposed Synthetic chart, the process is initially judged as either in-control or out-of-control by using the $CS_{CQ-r}$chart. If the process was not judged as in-control by the $CS_{CQ-r}$chart, the process is successively judged by using the $CQ_{-r}$chart to confirm the judgment of the $CS_{CQ-r}$chart. Through comparisons of ARL (Average Run Length), the proposed Synthetic chart is more superior to monitor the process defect rate in high-yield processes to the stand-alone $CS_{CQ-r}$ chart.
Through process quality information, the time required for process quality analysis has been drastically shortened, the process defect rate has been reduced, and the manufacturing lead time has been shortened and the on-time delivery rate has been improved. Therefore, The purpose of this study is to develop a quality information analysis system model that effectively shortens the time required for process quality analysis in automobile safety belt parts manufacturing process. As a result of experiments on communication operation between manufacturing execution system (MES) quality server, injection machine control computer, injection machine programmable logic controller (PLC) and terminal, in analyzing quality information, the conventional handwriting input method took an average of 20 minutes, but the new multi-network method took about 2 minutes on average. In addition, the process defect rate was reduced by 13% and the manufacturing lead time was shortened from 28 hours to 20 hours. The delivery compliance rate improved from 96 to 99%.
Defect dispute in apartment building has become a debating social issue. The system of defect lawsuit and the conciliation process are applicable to solve defect problems in South Korea. Among various defects, painting work defect is a critical issue because it requires large area works and entails a lot of cost. Accordingly, disputes on work procedure and cost calculation are argued oftenly between residents and housing providers. This study reviewed detailed main issues of painting work and propose relevant systems and standards. In this analysis, the main issues are categorized into pre-works, main work, and others. The most recent cases are compared and analyzed for each issue. After the analysis, following conclusions are obtained, (1) In defect lawsuit system, even though surface treatment work in pre-work step is part of main work, it has been separated and regarded as a separate work. (2) Although the main painting work are not significantly different from two systems, it is still necessary to achieve a consensus to close the gap in the methodology of painting area calculation and determining whole painting or partial painting. (3) In addition, unlike the profit rate of general construction works, that of painting work remained the maximum rate and additional charge rate for works carried out in higher place are different among cases. Therefore, it is determined that establishing consistent standards is urgent.
In the case of a die-casting process, defects that are difficult to confirm by visual inspection, such as shrinkage bubbles, may occur due to an error in maintaining a vacuum state. Since these casting defects are discovered during post-processing operations such as heat treatment or finishing work, they cannot be taken in advance at the casting time, which can cause a large number of defects. In this study, we propose an approach that can predict the occurrence of casting defects by defect type using machine learning technology based on casting parameter data collected from equipment in the die casting process in real time. Die-casting parameter data can basically be collected through the casting equipment controller. In order to perform classification analysis for predicting defects by defect type, labeling of casting parameters must be performed. In this study, first, the defective data set is separated by performing the primary clustering based on the total defect rate obtained during the post-processing. Second, the secondary cluster analysis is performed using the defect rate by type for the separated defect data set, and the labeling task is performed by defect type using the cluster analysis result. Finally, a classification learning model is created by collecting the entire labeled data set, and a real-time monitoring system for defect prediction using LabView and Python was implemented. When a defect is predicted, notification is performed so that the operator can cope with it, such as displaying on the monitoring screen and alarm notification.
Journal of the Korean Data and Information Science Society
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제18권3호
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pp.773-782
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2007
The statistical process control charts are very extensively used for monitoring of process mean, deviation, defect rate or reject rate. In this paper we consider a control chart to monitor the process reject rate in the high yield process, which is based on the observed cumulative probability of the number of items inspected until r defective items are observed. We first propose selection of the optimal value of r in the CPC-r charts, and also consider the usefulness of the chart in high yield process such as semiconductor or TFT-LCD manufacturing process.
In this study, effect of welding parameters on the defect density in the weldments produced by high frequency electric resistance welding process. The defect density measured by X-ray radiography showed a W-type curve as a function of heat input rate. The mechanisms of the such behavior were discussed based on the chemical compositions of the oxides formed at the weldments.
플라스틱 소재 자동차 부품의 도장 공정에서 불량은 다양한 원인과 현상으로 기인하는데, 온도, 습도, 미세먼지 등 기상환경 조건의 변화에 따라 불량률이 변화하는 연관성을 분석하였다. 실제 도장업체에서 1년 동안 수집한 종류별, 원인별 불량률과 기상환경의 상관성을 머신러닝 기법에 의해 학습하고 시험하여 특정의 기상환경에서 불량률을 예측하였다. 그 결과 실먼지로 인한 불량은 98%, 흐름에 대한 불량은 90%의 불량을 예측하여 모델의 성능을 입증하였다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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