With varying rapid thermal annealing (RTA) temperature, luminescence properties of $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ thin film deposited by RF-magnetron sputtering technique were investigated. In this study, $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ thin film phosphor showed more red emission than those of the previous studies when annealed around 600 or $650^{\circ}C$. Although all samples were deposited from identical source composition, a main peak wavelength of photoluminescence spectra of $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ shifted toward shorter wavelengths depending upon increase of RTA temperature. The same dependence of wavelength on RTA temperature was also observed in cathodoluminescence as well as electroluminescence measurements. It was revealed that the change of the luminescence properties were originated from structural changes in $Zn_{0.75}Mg_{0.25}S:Mn$ thin film phosphor from cubic to hexagonal phases analyze using conventional X-ray pole figure mapping. The phase transition would be the origin of luminescence property changes with respect to RTA temperature.
The color shifting from yellow to green of electroluminescent emission from ZnS: Cu alternating current thick film electroluminescent (ACTFEL) devices has been achieved by changing the Mg composition in the phosphor layers. The commission international de l'Eclairge (CIE) color co-ordinates of the ACTFEL devices prepared from these phosphor layers show a shifting from yellow (x=0.45, y=0.52) towards green (x=0.36, y=0.58). The various parameters influencing the emission intensity were also investigated.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2002.07b
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pp.1060-1062
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2002
Spherical and dense BAM phosphor particles were prepared by spray pyrolysis. The key idea of dense BAM particles is to lead gelation in droplets, which was successfully achieved by using the aluminum polycation as the precursor solution for the spray pyrolysis. The BAM phosphor particles prepared by spraying the aluminum polycation solution have completely spherical shape and dense structure. When directly applied to make phosphor film on the glass by the screen-printing method, the prepared spherical BAM phosphor particles showed better packing density and surface morphology than that of commercial one, which has irregular shape and large particle size. It was also found that the thermal degradation in the photoluminescence intensity for dense and spherical BAM particles was less than that of commercial one.
Europium doped yttrium vanadate ($YVO_4$:Eu) phosphor thin films were grown using a pulsed laser deposition (PLD) technique on silicon substrate. The structural characterization carried out on a series of ($YVO_4$:Eu films at post annealing temperature in the range of 550 $^{\circ}C$-1150 $^{\circ}C$ indicating that films were preferentially (200) oriented at post annealing temperature above 950 $^{\circ}C.$ Photoluminescence of thin film increased with the increase of post annealing temperature and ambient oxygen pressure though the thin film has the powder-like surface morphology at oxygen pressure above 200 mTorr. Photoluminescence decay from $^5D_1$ level of $Eu^{3+}$ show the great concentration dependency, which can be used as a good parameter to control the composition of ($YVO_4$:Eu thin film.
$Eu^{3+}$-activated $MgMoO_4$ phosphor thin films were grown at $400^{\circ}C$ on quartz substrates by radio-frequency magnetron sputter deposition from a 15 mol% Eu-doped $MgMoO_4$ target. After the deposition, the phosphor thin films were annealed at several temperatures for 30 min in air. The influence of thermal annealing temperature on the structural and optical properties of $MgMoO_4:Eu^{3+}$ phosphor thin films was investigated by using X-ray diffraction (XRD), photoluminescence (PL), and ultraviolet-visible spectrophotometry. The transmittance, optical band gap, and intensities of the luminescence and excitation spectra of the thin films were found to depend on the thermal annealing temperature. The XRD patterns indicated that all the thin films had a monoclinic structure with a main (220) diffraction peak. The highest average transmittance of 91.3% in the wavelength range of 320~1100 nm was obtained for the phosphor thin film annealed at $800^{\circ}C$. At this annealing temperature the optical band gap energy was estimated as 4.83 eV. The emission and excitation spectra exhibited that the $MgMoO_4:Eu^{3+}$ phosphor thin films could be effectively excited by near ultraviolet (281 nm) light, and emitted the dominant 614 nm red light. The results show that increasing RTA temperature can enhance $Eu^{3+}$ emission and excitation intensity.
CaTiO₃:Pr phosphor thin films were prepared on Si(100), ZnO/glass, Corning glass and ITO/glass by rf magnetron reactive sputtering. The effects of deposition parameters such as oxygen partial pressure, substrate temperature, and annealing conditions on crystallinity and compositional variation of the films were investigated. PL spectra of CaTiO₃:Pr phosphor thin films exhibited red regime peaking at 613 nm and enhanced PL intensity was observed for the film annealed in vacuum atmosphere as compared to the deposit annealed in N₂ environment.
Electroluminescence is occurred when phosphor is located in electric field. In this paper, we made powder electroluminescent device (PELD) with structured ITO film/phosphor/Insulator/silver paste. The transparent electrode was ITO film and green(2704-01) and orange(2702-02) and blue-green(2703-01) were used as phosphor. The insulator was $BaTiO_3$ and $Y_2O_3$, back electrode was silver paste. To investigate electrical and optical properties of PELDs, EL spectrum, Brightness, Transferred charge density using Sawyer-Towers circuit was measured.
Kim, Joo-Won;Han, Sang-Hyuk;Kim, Young-Jin;Chung, Sung-Mook
한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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2004.08a
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pp.657-659
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2004
Trivalent cerium ($Ce^{3+}$) activated yttrium aluminum garnet ($Y_3Al_5O_{12}$, YAG) phosphor thin films were deposited on quartz glass substrates by rf magnetron sputtering. The effects of sputtering parameters and annealing condition on the luminescent properties were investigated. The sputtering parameters were $O_2$/Ar gas ratio, rf power, and deposition time. The films were annealed at 1200 $^{\circ}C$ for 5 hours in $N_2+$vacuum atmosphere. Polycrystalline YAG:Ce thin film phosphor could be obtained with a gas ratio of $O_2$/(Ar+$O_2$)=0.5 after post-annealing. PL spectra excited at 450 nm showed a yellow single band at 550 nm.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1999.05a
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pp.286-290
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1999
Electroluminescence is occurred when phosphor is located in electric field. In this paper, we made powder electroluminescent device (PELD) with structured ITO film/Phosphor/Insulator/Silver paste. The transparent electrode was ITO film and green(2704-01), orange(2702-02) and blue-green(2703-01) were used as phosphor. The insulator was BaTiO$_3$ and $Y_2$O$_3$, back electrode was silver paste. To investigate electrical and optical properties of PELDs, EL spectrum, Brightness, Transferred charge density using Sawyer-Tower\`s circuit was measured.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1999.11a
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pp.582-585
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1999
Electroluminescence is occurred when phosphor is located in electric field. In this paper, we made powder electroluminescent device (PELD) with structured ITO film/Phosphor/Insulator/Silver paste. The transparent electrode was ITO film and green(2704-01) and orange(2702-02) and blue-preen(2703-01) were used as phosphor. The insulator was BaTiO$_3$ and $Y_2$O$_3$, bark electrode was silver paste. To investigate electrical and optical properties of PELDs, EL spectrum, Brightness . Transferred charge density using Sawyer-Towers circuit was measured.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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