The Ce-doped YAG(Yttrium Aluminum Garnet, $Y_3Al_5O_{12}$) phosphor powders were synthesized by combustion method. The luminescence, formation process and structure of phosphor powders were investigated by means of XRD, SEM and PL. The XRD patterns show that YAG Phase can form through sintering at $1000^{\circ}C$ for 2 h. This temperature is much lower than that required to synthesize YAG phase via the conventional solid state reaction method. There were no intermediate Phases such as YAP(Yttrium Aluminum Perovskite, $YAlO_3$) and YAM(Yttrium Aluminum Monoclinic, $Y_4Al_2sO_9$) observed in the sintering process. The powders absorbed excitation energy in the range $410{\sim}510\;nm$. Also, the crystalline YAG:Ce showed broad emission peaks in the range $480{\sim}600\;nm$ and had maximum intensity at 528 nm.
Ferroelectric Pb(Zr$\sub$0.52/Ti$\sub$0.48/)O$_3$ thin films were fabricated by pulsed laser deposition, mainly varying process conditions such as substrate temperature, oxygen pressure, and laser energy, PZT films annealed at more than 600$^{\circ}C$ were crystallized into pure perovskite phases regardless of deposition temperatures. Lower deposition temperature of 400$^{\circ}C$ accompanied with post-annealing at 650$^{\circ}C$ resulted in denser microstructures with extremely small grains compated to those of thin films annealed at higher deposition temperatures. Hysteresis curves of thin film with small grains exhibitied good squareness and low leakage characteristics.
The(Sr$\sub$0.85/Ca$\sub$0.15/) TiO$_3$(SCT) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/TiN/SiO$_2$/Si) using RF sputtering method. The composition of SCT thin films deposited on Si substrate at room temperature is close to stoichiometry(1.102 in A/B ratio). Also, SCT thin films deposited on Pt-coated electrodes have the cubic perovskite structure and polycrystalline state. The maximum dielectric constant of SCT thin films is obtained by annealing at 600[$^{\circ}C$].The dielectric constant changes almost linearly in temperature ranges of -80~+90[$^{\circ}C$].
$PbTiO_3$ and PZT(52/48) powders, prepared by the sol-gel method, were mixed with an organic vehicle and the PT/PZT(52/40) heterolayered thick films were fabricated by the screen-printing method on Pt/$Al_2O_3$ substrates. The structural properties such as DTA, X-ray diffraction and microstructure, were examined as a amount of the PbO-$PbF_2$ flux. In the X-ray diffraction analysis, PZT(52/48) thick films showed a perovskite polycrystalline structure without a pyrochlore phase.
PZT(20/80) and PZT(80/20) powders, prepared by the sol-gel method, were mixed with an organic vehicle and the PZT(20/80)/PZT(80/20) heterolayered thick films were fabricated by the screen-printing method on Pt/$Al_2O_3$ substrates. The structural properties such as DTA, X-ray diffraction and microstructure, were examined as a amount of the excess PbO. In the DTA analysis, the formation of the polycrystalline perovskite phase was observed at around $880^{\circ}C$. The average thickness of the PZT heterolayered thick films was approximately $80{\mu}m$.
The dielectric properties of PZT(4060)/(6040) multilayered thin films with substrate temperature were investigated. PZT(4060)/(6040) thin films were deposited by RF sputtering method on Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrates with different substrate temperature of $200{\sim}700^{\circ}C$. Increasing the substrate temperature, perovskite structure was increased, and PZT (001), (110), (002), (200) peaks were increased. The relative dielectric constant and dielectric loss of PZT(4060)/(6040) multilayered thin films at the substrate temperature of $700^{\circ}C$ were 843 and 2.45, respectively at 1000(Hz).
$Pr_{0.3}Sr_{0.7}Co_{0.3}Fe_{0.7}O_{3-\delta}$ (PSCF3737) was prepared and characterized as a cathode material for intermediate temperature-operating solid oxide fuel cell (IT-SOFC). X-ray diffraction (XRD), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), extended X-ray absorption fine structure (EXAFS), and electrical property measurement were carried out to study cathode performance of the material. XPS and EXAFS results proved that oxygen vacancy concentration was decreased and lattice constants of the perovskite structure material were increased by doping Fe up to 70 mol% at B-site of the crystal structure, which also extended the distance between oxygen and neighbor atoms. Thermal expansion coefficient (TEC) of PSCF3737 is smaller than that of $Pr_{0.3}Sr_{0.7}CoO_{3-\delta}$(PSC37) due to lower oxygen vacancy concentration. PSCF3737 showed better cathode performance than PSC37. It might be due good adhesion by a smaller difference of TEC between $Gd_{0.1}Ce_{0.9}O_2$ (CGO91) and electrode. Composite material PSCF3737-CGO91 showed better compatibility of TEC than PSCF3737. However, PSCF3737-CGO91 did not represent higher electrochemical property than PSCF3737 due to decreased reaction sites by CGO91.
Lee, Kyoung Jin;Chung, Jae Hun;Lee, Min Jin;Hwang, Hae Jin
한국세라믹학회지
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제56권2호
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pp.160-166
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2019
In this study, we investigated the long-term stability of Nd2NiO4 solid oxide fuel cell (SOFC) cathodes to evaluate their chromium poisoning tolerance. Symmetrical cells consisting of Nd2NiO4 electrodes and a yttria-stabilized zirconia electrolyte were fabricated and the cell potential and polarization resistance were measured at 850 ℃ in the presence of gaseous chromium species for 800 h. Up to 500 h of operation, the cell potential remained constant at 500 mA/㎠. However, it increased slightly over the operation duration of 550-800 h. No appreciable increase was observed in the polarization resistance of the Nd2NiO4 cathode during the entire operation of 800 h. Physicochemical examinations revealed that the gaseous chromium species did not form chromium-related contamination not only in the Nd2NiO4 cathode but also at the cathode/electrolyte interface. The results demonstrated that Nd2NiO4 is resistant to chromium poisoning, and hence is a potential alternative to standard perovskite cathodes.
무기EL 디스플레이는 고체재료에 전계를 가했을 때 발광하는 현상을 이용한소자로서, 급속도로 발전을 거듭하고 있으나, 유전체층에 강한전계를 가하여 발광하여야 하므로 낮은 Breakdown voltage와 효율의 한계로 인하여 휘도가 낮고 풀 컬러화 디스플레이 등 의 응용에는 적용되고 있지 못하는 실정이다. 본 연구에서는 강유전체 Perovskite 구조를 가지는 ABO3 물질 중 PMN(Lead Magnesium niobate) 과 PZT (Lead Zirconate titanate) 후막을 제조하여 Inorganic EL(Electro Luminance)에 적용하고 소자의 광전특성을 평가하였다. 소자에 사용된 기판은 고온소성에 알맞은 알루미나(Al2O3)기판을 채택 하였으며, 그 위 하부전극으로는 고온소성에 따른 화학적 안정성이 우수한 Au전극을 Screen Printing 하였다. 제조 되어진 PMN후막 페이스트는 PMN(Pb(Mg1/2 Nb2/3)O3) + Glass Frit(Pb-Zn-B) + BaTiO3(99.99%) 로 합성되었으며 하부전극위에 인쇄하였다. 그 다음 PZT sol-gel을 Spin coating으로 도포 하였다. 형광체로 ZnS:Cu.Cl 을 Screen Printing을로 형성하였으며, 평탄화를 위하여 유기물 충을 Screen Printing 공정으로 성막 하였다. 상부전극으로는 DC sputter로 ITO를 증착하여 EL소자 완성 후 Spectro - Chroma meter로 소자특성을 측정하였다. 평탄화를 통한 유기물층에 변화되는 Capacitance를 Oscilloscope로 전압 전류 pulse의 변화에 따른 opto-electronic 특성을 평가하였다.
Hussain, Ali;Maqbool, Adnan;Malik, Rizwan Ahmed;Zaman, Arif;Lee, Jae Hong;Song, Tae Kwon;Lee, Jae Hyun;Kim, Won Jeong;Kim, Myong Ho
한국재료학회지
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제25권10호
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pp.566-570
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2015
$Bi_{0.5}Na_{0.5}TiO_3$ (BNT) based ceramics are considered potential lead-free alternatives for $Pb(Zr,Ti)O_3$(PZT) based ceramics in various applications such as sensors, actuators and transducers. However, BNT-based ceramics have lower electromechanical performance as compared with PZT based ceramics. Therefore, in this work, lead-free bulk $0.99[(Bi_{0.5}Na_{0.5})_{0.935}Ba_{0.065}]_{(1-x)}La_xTiO_3-0.01SrZO_3$ (BNBTLax-SZ, with x = 0, 0.01, 0.02) ceramics were synthesized by a conventional solid state reaction The crystal structure, dielectric response, degree of diffuseness and electric-field-induced strain properties were investigated as a function of different La concentrations. All samples were crystallized into a single phase perovskite structure. The temperature dependent dielectric response of La-modified BNBT-SZ ceramics showed lower dielectric response and improved field-induced strain response. The field induced strain increased from 0.17%_for pure BNBT-SZ to 0.38 % for 1 mol.% La-modified BNBT-SZ ceramics at an applied electric field of 6 kV/mm. These results show that La-modified BNBT-SZ ceramic system is expected to be a new candidate material for lead-free electronic devices.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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