• 제목/요약/키워드: Pattern inspection

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고해상도 라인 스캔 카메라를 이용한 LCD 점 이물 검출 (Inspection of Point Defects on A LCD panel Using High Resolution Line Cameras)

  • 백승일;곽동민;박길흠
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2003년도 신호처리소사이어티 추계학술대회 논문집
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    • pp.351-354
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    • 2003
  • To inspect point-defect in LCD pannel, calculate period and eliminated pattern. And then find point-defect to compare block image with each period. First processing, Founded over point defects. To reduce wrong point defect. Next, label point-defects and eliminated not surpass fixed limit-size.

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STB 품질검사를 위한 개선된 지역 방향 패턴 기반 비디오 샷 경계 검출 및 자동 동기화 (Enhanced Local Directional Pattern based video shot boundary detection and automatic synchronization for STB quality inspection)

  • 조영탁;채옥삼
    • 융합정보논문지
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    • 제9권3호
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    • pp.8-15
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    • 2019
  • 최근 STB 보급이 증가하면서 제품 출하 전 품질검사의 중요성이 부각되고 있다. 본 논문에서는 STB 영상 신호의 다채널 동시 입력을 통한 품질검사 자동화를 지원하기 위한 방법을 제안한다. 제안 방법은 먼저 색상 정보와 LDP 코드를 결합한 CeLDP를 이용하여 안정적인 비디오 샷 경계 검출 후 영상의 중앙 스캔라인을 이용한 핑거프린트를 추출하여 입력 비디오 채널 간 동기화를 수행한다. 제안하는 방법은 기존 샷 검출 방법과 비교를 통해 더욱 강인한 샷 경계 검출 성능을 보이는 것을 확인하였으며, 실제 환경에 적용한 실험을 통해 STB 품질검사 시 필요한 다채널 입력 간 동기화를 위한 신뢰성 확보 및 실시간 품질검사가 가능함을 입증하였다. 또, 제안된 방법을 바탕으로 향후 대규모 품질검사 방법을 연구하여 보다 효과적인 품질검사 체계를 제안하고자 한다.

LCD 구동 모듈 PCB의 자동 기능 검사를 위한 Emulated Vision Tester (Emulated Vision Tester for Automatic Functional Inspection of LCD Drive Module PCB)

  • 주영복;한찬호;박길흠;허경무
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2008년도 학술대회 논문집 정보 및 제어부문
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    • pp.211-212
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    • 2008
  • 본 논문에서는 LCD 구동 모들 PCB의 기능 검사를 위한 자동 검사시스템인 EVT(Emulated Vision Tester)를 제안하고 구현하였다. 기존의 대표적인 자동검사 방법으로는 전기적 검사나 영상기반 검사방식이 있으나 전기적 검사만으로는 Timing이 주요한 변수가 되는 LED 장비에서는 검출할 수 없는 구동불량이 존재하며 영상기반 검사는 영상획득에 일관성이 결여되거나 Gray Scale의 구분이 불명확하며 검출결과의 재현성이 떨어진다. EVT 시스템은 Pattern Generator에서 인가된 입력 패턴 신호라 구동모듈을 통한 후 출력되는 디지털 신호를 직접 비교하여 패턴을 검사하고 아날로그 신호 (전압, 저항, 파형)의 이상 여부도 신속 정확하게 검사할 수 있는 H/W적인 방법이다. 높은 검출 신뢰도와 빠른 처리 속도 뿐만 아니라 간결한 시스템 구성으로 원가절감 실현 등 많은 장점을 가진다.

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표리한열의 설 특성에 관한 정량적 연구 (Quantitative Study on Tongue Images according to Exterior, Interior, Cold and Heat Patterns)

  • 어윤혜;김제균;유화승;김종열;박경모
    • 대한한의학회지
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    • 제27권2호
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    • pp.134-144
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    • 2006
  • Tongue diagnosis is an important diagnostic method in traditional Oriental medicine. It has been especially accepted that quantitative analysis of tongue images allows the accurate diagnosis of the exterior-interior and cold-heat patterns of a patient. However, to ensure stable and reliable results, the color reproduction of such images must first be error-tree. Moreover, tongue diagnosis is much influenced by the surrounding illumination and subjective color recognition, so it has to be performed objectively and quantitatively using a digital diagnostic machine. In this study, 457 tongue images of outpatients were collected using the Digital Tongue Inspection System. Through statistical analysis, the result shows that the heat and cold patterns can be distinguished clearly based on the hue value of the tongue images. The average hue value (1.00) of the tongue's image in the cold pattern is higher than that in the heat pattern (0.99).

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TFT-LCD의 결함 검출을 위한 원근 변환 기반의 패턴 제거 방법 (Pattern Elimination Method Based on Perspective Transform for Defect Detection of TFT-LCD)

  • 이준재;이광호;정창도;박길흠;박윤범;이병국
    • 한국멀티미디어학회논문지
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    • 제15권6호
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    • pp.784-793
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    • 2012
  • TFT-LCD의 결함은 LCD 패널 자체에 존재하는 패턴으로 인해 원본영상과 입력영상 간의 차영상에 문턱치를 적용하여 검출한다. 그러나 카메라의 특성에 기인한 기하학적인 왜곡에 의해, 패널의 패턴 주기에 해당하는 피치가 영상의 중심에서 멀어질수록 심하게 달라진다. 본 논문에서는 주어진 피치영역의 상하좌우 주변영역과의 비교에 기반한 검출을 제안한다. 이때, 왜곡 보정을 위해 피치계산을 위한 특징점을 추출하고 원근변환을 수행한다. 현장 데이터에 대한 실험을 통해 제안방법의 우수성을 입증한다.

이미지 정합을 이용한 COG 불량 검출 (The Faulty Detection of COG Using Image Registration)

  • 주기세;정종면
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제10권2호
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    • pp.308-314
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    • 2006
  • 수 마이크로 단위로 계측되는 반도체 COG의 검사 정밀도를 높이기 위해서 라인스캔 카메라가 이용된다. 여러 가지 불량 요인 중 이물질 검출은 COG 패턴이 미세하고 복잡하기 때문에 불량 자동 검사 단계에서 가장 어려운 기술이었다. 본 논문에서는 매칭 속도를 높이기 위하여 2단계 영역분할 템플릿 매칭 방법을 제안하였다. 아울러 수 마이크로 단위의 이물짙 검출을 위하여 그라디언트 마스크와 AND 연산을 이용한 새로운 방법을 제안하였다. 제안된 2단계 템플릿 매칭을 사용한 방법은 기존의 상관 계수 이용법 에 비해 0.3-0.4초 매칭 속도를 향상시켰다. 그리고 제안된 마스크 적용 이물질 검출방법은 기존 마스크를 이용하지 않은 방법에 비해 불량 검출률을 $5-8\%$ 향상시켰다.

PDP 패턴검사를 위한 실시간 영상처리시스템 개발 (Real-Time Image Processing System for PDP Pattern Inspection with Line Scan Camera)

  • 조석빈;백경훈;이운근;남기곤;백광렬
    • 전자공학회논문지SC
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    • 제42권3호
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    • pp.17-24
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    • 2005
  • 본 논문에서는 PDP 상판의 패턴결함을 검출하는 영상처리 알고리즘을 제안하고, 이를 실시간으로 처리하기 위한 영상처리 하드웨어의 구현을 나타낸다. 제안된 영상처리 알고리즘은 참조영상의 패턴간격을 이용하여 결함영상을 추출하는 알고리즘이며, 영상처리 시스템은 실시간 구조로 설계된 고속 영상처리 하드웨어와 여러 개의 영상처리 하드웨어 제어를 위한 데이터관리 및 시스템제어 하드웨어에로 나누어 구현하였다. 또한, 본 논문에서는 구현한 영상처리 시스템을 이용하여 실제 PDP 상판의 결함을 검사하는 실험 환경을 구성하여 패턴의 결함을 검사하는 실험을 수행하였다. 그 결과 제안한 알고리즘과 구현한 하드웨어의 우수성을 입증 하였다.