Proceedings of the Korean Nuclear Society Conference
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1997.05a
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pp.489-494
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1997
A comparative transient analyses were performed for oxide and nitride cores or a large (3000 MWt), pool-type, liquid-metal-cooled reactor (LMR). The study was focused on three representative accident initiators with failure to scram : the unprotected loss-of-flow (ULOF), the unprotected transient overpower (UTOP), and the unprotected fast transient overpower (UFTOP). The margins to fuel melting and sodium boiling have been evaluated for these representative transients. The results show that there is an increase in safety margin with nitride core which maintains the physical dimensions of the oxide core.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.12
no.1
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pp.16-19
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2011
The oxide-nitride-oxide (ONO) deposition process was added to the beginning of a 0.25 ${\mu}m$ embedded polysiliconoxide-nitride-oxide-silicon (SONOS) process before all of the logic well implantation processes in order to maintain the characteristics of basic CMOS(complementary metal-oxide semiconductor) logic technology. The system subsequently suffered severe ONO rupture failure. The damage was caused by the ONO implantation and was responsible for the ONO rupture failure in the embedded SONOS process. Furthermore, based on the experimental results as well as an implanted ion's energy loss model, processes primarily producing permanent displacement damages responsible for the ONO rupture failure were investigated for the embedded SONOS process.
Kim Young Jun;Chung Heon Chul;Chung Hun Taeg;Choi Kyu Yoon;Yun Yong Gab;Jang Seon Il
Journal of Physiology & Pathology in Korean Medicine
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v.18
no.5
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pp.1471-1475
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2004
Thuja orientalis extract (TOS) has been used on the hemostatic roborant, sedatives and stressless in oriental countries. We investigate the inhibitory effects on the productions of pro-inflammatory cytokines such as interleukin-1beta (IL-1β), IL-6, tumour necrosis factor alpha (TNF-α), and nitric oxide (NO) and the hair promotiont of TOS in the macrophage celline RAW264.7 or hair loss-induced DBA1J mice. T08 (50-500 ㎍/㎖) per se had no cytotoxic effect non-stimulated cells, but this extracts concentration-dependently reduced the release of NO, (IL-1β), IL-6, and TNF-α in the stimulate RAW264.7 cells with lipopolysaccharide (LPS). Moreover, when applied TOS (500 ㎍/㎖) to DBA 1J/mice, hair growth was promoted remarkably. These data suggest that T08 promotes hair growth on hair loss induced model mice and these properties may contribute to the anti- hair loss activity of the Thuja orientalis.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.14
no.1
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pp.1-5
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2001
STI(shallow trench isolation)-CMP(chemical mechanical polishing) process have been substituted for LOCOS(local oxidation of silicon) process to obtain global planarization in the below sub-0.5㎛ technology. However TI-CMP process, especially TI-CMP with RIE(reactive ion etching) etch back process, has some kinds of defect like nitride residue, torn oxide defect, etc. In this paper, we studied how to reduced torn oxide defects after STI-CMP with RIE etch back processed. Although torn oxide defects which can occur on trench area is not deep and not severe, torn oxide defects on moat area is not deep and not severe, torn oxide defects on moat area is sometimes very deep and makes the yield loss. Thus, we did test on pattern wafers which go through trench process, APECVD process, and RIE etch back process by using an IPEC 472 polisher, IC1000/SUVA4 PAD and KOH base slurry to reduce the number of torn defects and to study what is the origin of torn oxide defects.
A study on the effect of the pH of precipitation on the acid consuming capacity, aging stability, physical and chemical properties of hydrous aluminum oxide prepared by the reaction of aluminum chloride and ammonium hydroxide solution was carried out by means of X-ray diffraction, IR spectra and differential thermal analysis. The results from these experiments are as follows: 1. Hydrous aluminum oxide precipitated at lower pH showed better acid consuming capacity, higher stability and more anion contained in the structure than that prepared at higher pH. 2. The hydrous aluminum oxide prepared at lower pH is amorphous and that prepared at higher pH is crystalline hydrated hydrous aluminum oxide, i.e., Bayerite and these results are conformed to Rhee's hypothesis. 3. The rate of loss of reactivity and the end-point reactivity are related to the pH of precipitation.
The effect of humidity on the aging process of hydrous aluminum oxide prepared by the reaction of aluminum chloride and sodium bicarbonate solution at pH 7.8, which was then kept in various atmosphere under relative humidity at 37.deg. was observed by the measurements of acid consuming capacity, X-ray diffraction and IR absorption. The humidity was one of the important factors influencing the aging process of hydrous aluminum oxide during storage. The higer the humidity, the more was accelerated age, crystalize and loss in acid reactivity. Depending on the humidity, the aging product was different, especially, in the case of up to the relative humidity of 72%, it forming bayerite. On the other hand, the hydrous aluminum oxide aged below the relative humidity of 50% was still amorphous even after 120 days storage. When hydrous aluminum oxide was aged under higher humidity, definite IR absorption bands develop as the hydroxys become part of an ordered structure, and it showed their characteristic absorption band around 1630 and 1060 cm$^{-1}$.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.17
no.1
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pp.33-36
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2016
In the present work, a Ni-doped indium zinc oxide (NIZO) film and its multilayers with Ag layers were investigated as transparent conducting electrodes for liquid crystal display (LCD) applications, as a substitute for indium tin oxide (ITO) electrodes. By interposing the Ag layer between the NIZO layers, the loss of the optical transmittance occurred; however, the Ag layer brought enhancement of electrical sheet resistance to the NIZO/Ag/NIZO multilayer electrode. The twisted nematic cell based on the NIZO/Ag/NIZO multilayer electrode exhibited superior electro-optical characteristics than those based on single NIZO electrode and was competitive compared to those based on the conventional ITO electrode. An LCD-based NIZO/Ag/NIZO multilayer electrode may allow new approaches to conventional ITO electrodes in display technology.
Ha, Tae-Hyun;Bae, Jeong-Hyo;Lee, Hyun-Goo;Kim, Dae-Kyeong;Ha, Yoon-Cheol
Proceedings of the KIEE Conference
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2005.07c
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pp.1873-1875
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2005
The effect of zinc oxide as an inhibitor for the corrosion of steel in concrete environment was studied by weight loss measurements, potential-time behaviour and anodic polarization technique. The salient features of the investigation were: in 100% OPC extracts, the passivity of steel was readily destroyed, however extracts containing various concentration of zinc oxide, the passivity of steel was maintained even in the presence of 30,000 ppm of chloride. Alkalinity of concrete was maintained by the addition of zinc oxide. The efficiency of the inhibitor was found to increase with increasing inhibitor concentration. Addition of zinc oxide in the range 3 to 4% by weight of cement was sufficient to protect the rebars.
Kim, Sang-Yong;Seo, Yong-Jin;Kim, Tae-Hyung;Lee, Woo-Sun;Chung, Hun-Sang;Kim, Chang-Il;Chang, Eui-Goo
Proceedings of the KIEE Conference
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1998.11c
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pp.723-725
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1998
STI CMP process are substituting gradually for LOCOS(Local Oxidation of Silicon) process to be available below sub-0.5um technology and to get planarized. The other hand, STI CMP process(especially STI CMP with RIE etch back process) has some kinds of defect like Nitride residue, Torn Oxide defect, etc. In this paper, we studied how to reduce Torn Oxide defects after STI CMP with RIE etch back process. Although Torn Oxide defects which occur on Oxide on Trench area is not deep and not sever, Torn oxide defects on Moat area is sometimes very deep and makes the yield loss. We did test on pattern wafers witch go through Trench process, APCVD process, and RIE etch back process by using an REC 472 polisher, IC1000/SUV A4 PAD and KOH base slurry to reduce the number of torn defects and to study what is the root causes of torn oxide defects.
Transactions of the Korean hydrogen and new energy society
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v.29
no.6
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pp.627-634
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2018
Gallium-based liquid metal, e.g., eutectic gallium-indium (EGaIn), is highly attractive as an electrode material for flexible and stretchable devices. On the liquid metal, oxide layer is spontaneously formed, which has a wide band-gap, and therefore is electrically insulating. In this paper, we fabricate a capacitor based on eutectic gallium-indium (EGaIn) liquid metal and investigate its cyclic voltammetry (CV) behavior. The EGaIn capacitor is composed of two EGaIn electrodes and electrolyte. CV curves reveal that the EGaIn capacitor shows the behavior of electric double-layer capacitors (EDLC), where the oxide layers on the EGaIn electrodes serves as the dielectric layer of EDLC. The oxide thicker than the spontaneously-formed native oxide decreases the capacitance of the EGaIn capacitor, due to increased voltage loss across the oxide layer. The EGaIn capacitor without oxide layer exhibits unstable CV curves during the repeated cycles, where self-repair characteristic of the oxide was observed. Finally, the electrolyte concentration is optimized by comparing the CV curves at various electrolyte concentrations.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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