• 한국초전도ㆍ저온공학회논문지
• /
• 제21권1호
• /
• pp.31-35
• /
• 2019

The lumped-parameter circuit model for a no- insulation (NI) high temperature superconductor (HTS) magnet has been well understood after many experimental and analytic studies over a decade. It successfully explains the non-linear charging behaviors of NI magnets. Yet, recently, multiple groups reported that the post-quench electromechanical behaviors of an NI HTS magnet may not be well explained by the lumped circuit model. The characteristic resistance of an NI magnet is one of the key parameters to characterize the so-called "NI behaviors" of an NI magnet and recently a few groups reported a potential that the characteristic resistance of an NI magnet may substantially vary during a quench. This paper deals with this issue, the increment of contact resistance of the no-insulation (NI) REBCO magnet during a quench and its impact on the post-quench behaviors. A 7 T 78 mm NI REBCO magnet that was previously built by the MIT Francis Bitter Magnet Laboratory was chosen for our simulation to investigate the increment of contact resistance to better duplicate the post-quench coil voltages in the simulation. The simulation results showed that using the contact resistance value measured in the liquid nitrogen test, the magnitude of the current through the coil must be much greater than the critical current. This indicates that the value of the contact resistance should increase sharply after the quench occurs, depending on the lumped circuit model.

• 한국의학물리학회지:의학물리
• /
• 제11권2호
• /
• pp.123-130
• /
• 2000

전리계의 성능은 방사선 선량측정의 정확도와 정밀도에 직접적으로 영향을 준다. 본 연구에서는 전리계의 성능을 유지하기 위한 정도관리의 항목들을 제시하고 구체적인 성능검사를 시행하고자 한다. 선정된 성능평가 항목들은 적절한 인가전압, 예열 및 고전압 후의 평형시간, 누설에 의한 상쇄 전류, 방사선 측정 전후의 영점이동 (배경전류), 장시간 안정성, 선형성, 외부조건의 영향 등이었다. 전리계에 연결된 자루가 단단한 전리함과 방사선원으로 스트론티움-90이 내장된 검사기가 성능검사용으로 이용되었다. 인가전압의 측정은 전리함의 입력단자에서 직접 측정하였고 평형시간의 측정은 전리계에 전원을 연결한 후와 인가전압을 바꾼 후 검사기에 연결된 전리함의 반응이 안정을 가져오는 시간으로 측정하였다. 누설은 전리계가 안정된 후 방사선을 조사하지 않은 상태에서 전리계의 측정값이 영점에서 이동하는 것으로 나타냈으며 배경전류는 안정된 전리계의 영점을 조정하고 전리계에 연결된 검사기에서 전리함을 10분 조사한 후 영점의 변화로 나타냈다. 장시간의 안정성 3개월에 걸쳐 측정되었으며 이때 검사기의 측정값을 온도-기압에 대한 보정을 한 후 그 값을 비교하였다. 선형성은 전리계에 연결된 전리함을 n번 연속하여 조사하여 그 전체의 측정값과 초기값을 n번 곱한 값을 비교하였다. 외부조건의 영향은 인위적으로 외부온도를 17-34 $^{\circ}C$ 로 변화시켜서 환경변화에 의한 전리계의 영점이동으로 나타냈다. 인가전압의 측정에서 명목상의 인가전압 300, 500V에 대한 측정값은 각각 2.5%와 5.8% 작게 나타났다. 전원을 연결한 후 전리계가 실제로 평형에 도달하는 시간은 20분으로 이는 전리계의 안정성 표시기보다 9분 지연되었으며 인가전압을 바꾼 경우에는 1분 이내에 평형에 도달하였다. 전리계의 누설의 측정에서 영점의 이동은 0.002(스케일)/15분이었고 10분 조사 후 영점의 이동은 발견되지 않았다. 전리계는 3개월 동안 99.4%의 안정성을 유지하였다. 스케일 영역 0.000-9.991 에서 전리계의 선형성에서의 이탈은 0.9% 이었다. 온도 범위 17 - 34 $^{\circ}C$ 에서 전리계의 영점이동은 0.2% 이내였다. 본 연구에서는 임상에서 사용하고 있는 전리계에 대한 성능을 평가하는 항목을 제시하고 이를 전리계의 정도관리에 이용하도록 하였다. 이러한 프로그램의 운용을 통하여 전리계에 의한 오차를 줄임으로써 방사선측정에서의 정확도와 정밀도를 향상시킬 수 있을 것으로 사료된다.

• 한국산학기술학회논문지
• /
• 제17권7호
• /
• pp.86-91
• /
• 2016

가공배전선에 의하여 통신선에 유도되는 전압을 계산하는데에 있어서 기존의 중성선 차폐계수를 단일의 값으로 사용함으로 인한 과다 오차 발생 문제를 해결하기 위하여 실제 배전 구간의 전주 접지 마다 발생하는 누설전류에 의한 대지귀로전류의 영향이 반영된 일반식이 개발된 바 있다. 각 전주 접지에서 발생하는 누설전류의 근원은 중성선에 유입되는 불평형전류이다. 그러므로 누설전류와 그 합인 대지귀로전류는 이 불평형전류에 대한 각 전주 위치에서의 누설율들의 합성적 인수 관계로 표현이 가능하다. 본 논문에서는 결국 원래의 일반식을 누설율의 관점에서 전개하여 좀더 실용적인 의미를 갖도록 하였다. 이렇게 하면 유도의 원천 전류인 중성선 불평형전류에 대한 누설전류 요율만의 합성 인수로 대체된 중성선 차폐계수 계산식이 도출된다. 이 계산식의 의미는 전 배전 구간에서 중성선에 의한 차폐 효과가 일정한 것이 아니라 유도 구간의 위치에 따라서 원래 유도를 발생시키는 전류인 중성선 불평형전류의 양이 달라지는 요율을 말한다는 것이다. 이와 같은 방식으로 계산하였을 때 기존 방식에 비하여 과소 예측에 대하여는 14% 증진율을, 과다 예측에 대하여는 평균 1/10 수준으로의 감소 효과를 기대할 수 있다.

• 한국정보통신학회논문지
• /
• 제18권7호
• /
• pp.1657-1662
• /
• 2014

본 연구에서는 다중게이트 구조인 n-채널 무접합(junctionless) MuGFET 의 기판 전압이 zero capacitor RAM(Z-RAM) 특성에 미치는 영향에 대하여 실험적으로 분석하였다. 핀 폭이 50nm 이고, 핀 수가 1인 무접합 트랜지스터의 드레인에 3.5V, 기판에 0V 가 인가된 경우, 메모리 윈도우는 0.34V 이며 센싱 마진 은 $1.8{\times}10^4$ 의 특성을 보였다. 양의 기판 전압이 인가되면 충격 이온화가 증가하여 메모리 윈도우와 센싱 마진 특성이 개선되었다. 기판 전압이 0V에서 10V로 증가함에 따라, 메모리 윈도우 값은 0.34V 에서 0.96V 로 증가하였고, 센싱 마진 또한 소폭 증가하였다. 기판 전압에 따른 무접합 트랜지스터의 메모리 윈도우 민감도가 반전 모드 트랜지스터 보다 큰 것을 알 수 있었다. Gate Induced Drain Leakage(GIDL) 전류가 작은 무접합 소자의 경우 반전모드 소자에 비해서 보유시간 특성이 좋을 것으로 사료된다. Z-RAM의 동작 신뢰도 평가를 위해서 셋/리셋 전압 및 전류의 변화를 측정하였다.

• Korean Circulation Journal
• /
• 제48권11호
• /
• pp.1002-1011
• /
• 2018

Background and Objectives: The prognostic impact of left axis deviation (LAD) on clinical outcomes in acute heart failure syndrome (AHFS) with left bundle branch block (LBBB) is unknown. The aim of this study was to determine the prognostic significance of axis deviation in acute heart failure patients with LBBB. Methods: Between March 2011 and February 2014, 292 consecutive AHFS patients with LBBB were recruited from 10 tertiary university hospitals. They were divided into groups with no LAD (n=189) or with LAD (n=103) groups according to QRS axis <-30 degree. The primary outcome was all-cause mortality. Results: The median follow-up duration was 24 months. On multivariate analysis, the rate of all-cause death did not significantly differ between the normal axis and LAD groups (39.7% vs. 46.6%, adjusted hazard ratio, 1.01; 95% confidence interval, 0.66, 1.53; p=0.97). However, on the multiple linear regression analysis to evaluate the predictors of the left ventricular ejection fraction (LVEF), presence of LAD significantly predicted a worse LVEF (adjusted beta, -3.25; 95% confidence interval, -5.82, -0.67; p=0.01). Right ventricle (RV) dilatation was defined as at least 2 of 3 electrocardiographic criteria (late R in lead aVR, low voltages in limb leads, and R/S ratio <1 in lead V5) and was more frequent in the LAD group than in the normal axis group (p<0.001). Conclusions: Among the AHFS with LBBB patients, LAD did not predict mortality, but it could be used as a significant predictor of worse LVEF and RV dilatation (Trial registry at KorAHF registry, ClinicalTrial.gov, NCT01389843).