Visualization of the tissue loss tangent property can provide distinct contrast and offer new information related to tissue electrical properties. A method for non-invasive imaging of the electrical loss tangent of tissue using magnetic resonance imaging (MRI) was demonstrated, and the effect of loss tangent was observed through simulations assuming a hyperthermia procedure. For measurement of tissue loss tangent, radiofrequency field maps ($B_1{^+}$ complex map) were acquired using a double-angle actual flip angle imaging MRI sequence. The conductivity and permittivity were estimated from the complex valued $B_1{^+}$ map using Helmholtz equations. Phantom and ex-vivo experiments were then performed. Electromagnetic simulations of hyperthermia were carried out for observation of temperature elevation with respect to loss tangent. Non-invasive imaging of tissue loss tangent via complex valued $B_1{^+}$ mapping using MRI was successfully conducted. Simulation results indicated that loss tangent is a dominant factor in temperature elevation in the high frequency range during hyperthermia. Knowledge of the tissue loss tangent value can be a useful marker for thermotherapy applications.
The standard capacitor must have not only precise value of the capacitance but also the basic properties of low dielectric loss tangent. In the reforming process of capacitors, the dielectric loss tangent must be also reformed. In this paper, the development of standard capacitors of 10 and 100pF for the dielectric loss tangent standard using $Al_{2}O_{3}$ Crystal and the measurement of dielectric loss tangent are discussed. The dielectric loss tangent depends upon the surface between electrode and dielectric in capacitor. With using the Electric Field Simulator, precise design values of electrode are simulated. For the purpose of measuring capacitance effect just in the dielectric, 3-Terminal and 4-Terminal Pair configuration are applied respectively at the electrode and the connector for the measuring equipment. As stated above method, the standard capacitors of 10 and l00pF for the establishment of the dielectric loss tangent standard using the $Al_{2}O_{3}$ Crystal are made with low dielectric loss tangent less than 10-4.
The standards of the capacitance arc measured and analyzed by the dry nitrogen or mica film as a dielectric. In this paper, respectively the standard capacitors of 10 pF and 100 pF for the establishment of the dielectric loss tangent are made by $Al_{2}O_{3}$ crystal disc with the low dielectric loss tangent, and then measured the dielectric loss tangent with precision. To regard for the existence of capacitances just in the dielectric, 3-terminal configuration electrode is used. With using the 2D electric field simulator, precise design values are derived in addition to stray capacitance. As stated above method, respectively the standards of the capacitances with 10 pF and 100 pF arc made with the low dielectric loss tangent less than $10^{-4}$.
In this study, microwave properties with compositions and frequency of the $Ba_3Co_2Fe_{24}O_{41}$ ceramics with Zn substitution for Co were investigated. From the XRD patterns, hexagonal structure of Z-type phase was existed as main phase. Diffraction peaks of Z-type phase were shifted to lower angle by Zn substituted for Co site. The permittivity was increased with Zn additions. In all composition, loss tangent of permittivities were increased with frequency. Permeability and magnetic resonance frequency were increased with Zn additions. Permeability was increased and loss tangent of permeability was decreased rapidly over 600 MHz~800 MHz. The loss tangent of permeability did not changed with composition ratio. In the case of $Ba_3Co_{1.6}Zn_{0.4}Fe_{24}O_{41}$ ceramics sintered at $1250^{\circ}C$ for 3 hours, the permittivity, loss tangent of permittivity, permeability and loss tangent of permeability were 28.277, 0.193, 22.992 and 0.065 at 310 MHz, respectively.
고무인상재의 유변학적 특성은 높은 정확성을 가진 인상체의 채득에 중요한 역할을 한다. 그러나 국산 고무인상재의 유변학적 특성에 관한 연구가 거의 이루어지지 않았다. 이 연구는 국산 및 수입 고무 인상재의 유변학적 특성을 측정, 연구함으로써 임상적 과정에서 정확성 높은 인상채득에 도움이 되고자 함이다. 시판중인 Type 3 점성을 가진 6종의 고무인상재의 유변학적 특징을 측정하였다. 2종의 국산 폴리비닐실록산, 3종의 수입 폴리비닐실록산, 1종의 폴리이써, 1종의 폴리썰파이드에 대하여 plate 대 plate 형의 rotational rheometer인 HAAKE RHEOSTRESS $1^{(R)}$ 이용하여 Mixing 후 900초간 G′, Loss tangent 값을 측정하였다. 각 제품 당 3회씩 측정 후 통계분석하였다. 국산 PVS, 수입 PVS, Polyether, Polysulfide 모두 G′의 S자형 증가와, Loss tangent 값의 S자형 감소를 보였다. 경화 후 G′ 값의 최대치는 Polyether였으며, 최소치는 Polysulfide였다. Loss tangent의 초기값은 폴리이써 인상재에서 가장 높았으며 국산 폴리비닐실록산 인상재에서 가장 낮았다. 같은 점조도를 가진 국산 PVS 와 수입 PVS의 G′ 값은 유의한 차이가 없었으나, 초기 Loss tangent 값에서 유의한 차이가 나타났다.
보강성 충전제가 첨가된 고무블렌드의 물리적 특성을 조사하기 위해 카본블랙이 첨가된 유화중합 고무블렌드와 실란이 커플링된 실리카가 첨가된 용액중합 고무블렌드의 가황특성, 점탄성특성, 내마모 및 고무보강성 평가하였다. 유화중합 고무블렌드는 가장 높은 총결합고무량을 나타냈으나, 용액중합 고무블렌드는 고무블렌드 비율에 관계없이 일정한 총결합고무량을 나타내었다. 고무의 미세구조중 비닐 및 스틸렌 함량이 낮을수록, 배합고무중 총결합고무량이 높을수록 가황속도는 빠르게 나타났으며, 고무보강성 지표인 모듈러스는 총결합고무량과 선형적인 관계를 나타냈다. 많은 PICO 손실량은 고무의 미세구조중 비닐 및 스틸렌 함량이 증가할 때 나타났으나, 적은 PICO 손실량은 실란이 커프링된 실리카를 함유한 용액중합 고무블렌드에서 부타디엔의 비율이 증가할 때 관측되었다. 용액중합 고무블렌드는 유화중합 고무블렌드에 비해 $0^{\circ}C$에서 높은 손실계수, $60^{\circ}C$에서는 낮은 손실계수를 나타내었다.
The sintering and high frequency electro-magnetic properties of Ba-hexagonal ferrite were investigated. All samples of the Ba-hexagonal ferrite were prepared by the conventional mixed oxide method and sintered at $1150^{\circ}C$~$1400^{\circ}C$. From the X-ray diffraction patterns of sintered Ba-hexagonal ferrite, the $Ba_3Co_2Fe_{24}O_{41}$ phase was represented as main phase in the almost sintering conditions. The bulk densities with sintering temperature and decreased at $1400^{\circ}C$. The permittivity ($\varepsilon$') and loss tangent of permittivity ($\varepsilon$"/$\varepsilon$') of $Ba_3Co_2Fe_{24}O_{41}$ ceramics increased and decreased with sintering temperature, respectively. The permeability of $Ba_3Co_2Fe_{24}O_{41}$ ceramics decreased with sinteirng temperature. The loss tangent of permeability was not changed compared each other with sintering temperature. The bulk density of $Ba_3Co_2Fe_{24}O_{41}$ ceramics sintered at $1300^{\circ}C$ was 4.79 g/$cm^3$. The permittivity, loss tangent of permittivity and permeability, loss tangent of permeability were 19.896, 0.1718 and 14.218, 0.2046 at 210 MHz, respectively.
We have investigated dielectric polarization in organic light-emitting diodes using 8-hydroxyquinoline aluminum($Alq_3$) as an electron transport and emissive material. We analyzed the dielectric polarization of organic light-emitting diodes using characteristics of impedance and equivalent circuit of $ITO/Alq_3/Al$. Impedance characteristics was measured complex impedance Z and phase ${\theta}$ in the frequency range of $1{\times}40Hz\;to\;1{\times}10^8Hz$. We obtained complex electrical conductivity, dielectric constant, and loss tangent(tan${\delta}$) of the device at room temperature. And, we obtained the equivalent circuit of $ITO/Alq_3/Al$ through analyzing dielectric constant and dielectric loss tangent. From these analyses, we could interpret a conduction mechanism and dielectric polarization.
Plasma polymerized hexamethyldisiloxane thin film was fabricated by employing an inter-electrode capacitively coupled type apparatus under the following conditions : carrier gas flow rate of 11 sccm, reaction pressure of 0.1 torr, discharge frequency of 13.56 MHz and discharge power of 30∼90 W. Polymerization rate of thin film fabricated at the discharge power of 90W is 32.5nm/min. Relative dielectric constant and dielectric loss tangent of thin film shows 3.2∼3.8 and 2.6x10$\^$-3/∼4.51x10$\^$-3/ respectively in the frequency range of 1 kHz∼1 MHz. As the annealing temperature is increased, the relative dielectric constant gradually decreases while the dielectric loss tangent increases. The current density increase gradually with increasing annealing temperature and electric field. The electric conduction of the heaxamethyldisiloxane thin film shows Schottky effect.
Journal of electromagnetic engineering and science
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제14권4호
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pp.382-386
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2014
The knowledge of substrate material properties is important in antenna design. We present a technique to accurately characterize the dielectric constant and loss tangent of an antenna substrate based on the measurements of antenna's reflection coefficient and bandwidth. In this technique, an error function is formulated by combinations of the reflection coefficient and bandwidth of measured and simulated data, and then an optimization technique is used to efficiently search for the substrate properties that minimize the error function. The results show that the method is effective in retrieving the dielectric constant and loss tangent of the antenna substrate without the need of additional test fixtures as in conventional substrate characterization methods.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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