• 한국정보통신학회:학술대회논문집
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• 한국해양정보통신학회 2002년도 춘계종합학술대회
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• pp.275-278
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• 2002

MOSFET의 게이트 길이가 50nm이하로 작아지면 소자를 설계함에 있어 고려해야 하는 많은 문제점들이 존재하게 된다. 본 논문에서는 MOSFET 소자에 대한 문턱 전압 특성을 조사하였다. 소자에 대한 스케일링은 generalized scaling을 사용하였고 게이트 길이 100nm에서 30nm까지 시뮬레이션 하였다. 이때 나노 구조 MOSFET에 대한 스케일링의 한계를 볼 수 있었다. 문턱 전압을 구하는 방법으로는 선형 추출 방법을 사용하였다.

• 대한음성학회지:말소리
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• 제59호
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• pp.13-25
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• 2006

In previous study, the linlog(linear log) RASTA(J-RASTA) approach based on PLP was proposed to deal with both the channel effect and the additive noise. The extraction of PLP required generally more steps and computation than the extraction of widely used MFCC. Thus, in this paper, we apply the linlog function to the MFCC for investigating the possibility of simple compensation method that removes both distortion. With the experimental results, the proposed method shows the similar tendency to the linlog RASTA-PLP_ When the J value is set to le-6, the best ERR(Error Reduction Rate) of 33% is obtained. For applying the linlog function to the feature extraction process, the J value plays a very important role in compensating the corruption. Thus, the study for the adaptive J or noise dependent J estimation is further required.