• 제목/요약/키워드: LCD Defect Inspection

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액정 표시 장치 표면 영상에서 히스토그램 비대칭도 기반의 적응적 결함 검출 (Adaptive Defect Detection Method based on Skewness of the Histogram in LCD Image)

  • 구은혜;박길흠
    • 전자공학회논문지
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    • 제53권1호
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    • pp.107-117
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    • 2016
  • TFT-LCD 영상에서 평균과 표준편차를 이용한 STD 결함 검출 방법은 실제 많은 검사 시스템에 활용되고 있다. STD방법은 문턱 값에 따라 검출 결과가 매우 의존적인 문제가 있다. 본 논문에서는 신뢰도 높은 결함 검출을 위해 영상에 따른 적응적 문턱 값을 사용한 STD 방법을 제안한다. 제안 방법에서는 문턱 값을 영상의 휘도 분포와 정규 분포의 유사도를 나타내는 비대칭도(Skewness)를 이용하여 적응적으로 결정한다. 실험을 통해 적응적 문턱 값을 사용한 STD 방법은 다양한 결함을 포함한 영상에 대해 일관성 있는 검출 결과를 나타내어 제안한 방법의 타당성을 확인할 수 있었다.

A Study on an Inspection System of Repeated Pattern in PDP panel

  • Jung, Ji-Hun;Nam, Sang-woon;Hwang, Yong-Ha;Park, Yong-June;Kang, Tea-Kyu;Jeong, Dea-Hwa
    • 제어로봇시스템학회:학술대회논문집
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    • 제어로봇시스템학회 2004년도 ICCAS
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    • pp.126-131
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    • 2004
  • The popularity of flat-panel display(FPD), including plasma display panel(PDP) and liquid-crystal display(LCD), has given rise to the need to streamline their production. In these days, PDP is one of the most popular display devices because of its expansion of manufacturing process and simplicity. Bus electrodes, sustain electrodes, barrier ribs and RGB phosphors are patterned on PDP panel to display an image. Since a minute damage on the pattern can cause a serious defect to display, it is important to inspect the pattern precisely. In this paper, an automatic inspection system of repeated pattern in PDP panel has been introduced to find the defect, such as open, short, dirt, island, and so on. And the inspection system has been operated in the mass production line of PDP.

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Rapid Defect Inspection of Display Device with Optical Spatial Filtering

  • Yoon, Dong-Seon;Kim, Seung-Woo
    • International Journal of Precision Engineering and Manufacturing
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    • 제1권1호
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    • pp.56-61
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    • 2000
  • We present a fast inspection method of machine vision for in-line quality assurance of liquid crystal displays(LCD) and plasma display panels(PDP). The method incorporates an optical spatial filter in the Fourier plane of the imaging optics to block the normal periodic pattern, extracting only defects real time without relying on intensive software image process. Special emphasis is on designing a collimated white light source to provide high degree of spatial coherence for effective real time Fourier transform. At the same time, a low level of temporal coherence is attained to improve defect detection capabilities by avoiding undesirable coherent noises. Experimental results show that the proposed inspection method offers a detection accuracy of 15% tolerance, which is sufficient for industrial applications.

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3차원 모델링과 반복비교를 통한 TFT-LCD 패널의 결점 검출 (Defect Inspection of TFT-LCD Panel using 3D Modeling and Periodic Comparison)

  • 이경민;장문수;박부견
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 심포지엄 논문집 정보 및 제어부문
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    • pp.149-150
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    • 2007
  • In this paper, we propose a novel defects inspection algorithm for TFT-LCD panels. We first compensate the distorted image caused by the camera distortion and the uneven illumination environment using the least squares method and the bezier surface. We find a starting point of each pattern. The reference frame, made by subtract method using several clean patterns, is compared to each pattern to find defects. The simulation example shows that our algorithm not only inspects the defects well, but also is robust to the 1-pixel error.

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히스토그램의 통계적 모멘트를 이용한 편광필름 결함 검출 방법 (A defect inspection method for the LCD ploarizer film using statistical moment of histogram)

  • 윤희상;박태형
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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    • pp.1760-1761
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    • 2007
  • 액정 디스플레이(LCD)의 핵심 재료인 편광필름은 제조 과정이나 운반 과정에서 실오라기 같은 이물 및 찍힘 등의 결함이 발생하며 이를 사람이 육안으로 검사하고 있다. 본 논문에서는 이런 편광필름의 결함을 자동으로 검출하기위한 방법으로 히스토그램의 통계적 모멘트를 사용하여 주변 밝기에 따라 검사 영역의 밝기의 기울기를 구하고, 이를 통해 결함의 유무를 판단하는 편광필름 검사 방법을 제안한다.

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LCD 생산공정의 전게이트 시각 검사를 위한 공정 제어장치 개발 (Development on the Process Control System for Full Gate Visual Test of LCD Manufacturing Process)

  • 박형근
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제10권7호
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    • pp.1725-1728
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    • 2009
  • 본 연구개발에서는 정해진 환경에서 최대의 불량검출 능력을 발휘할 수 있도록 공정을 개선하기 위하여 전게이트 시각검사에 필수적인 FGV 패턴발생 장치와 공정제어 장치를 개발하였다. 본 연구개발을 통하여 접촉손실(Tact Loss)을 0에 근접 한 수준으로 유지할 뿐만 아니라 손실 및 에러 발생시 신속한 대처가 가능하여 모듈의 수율을 향상시킬 수 있을 것으로 기대된다. 또한 세부 동작 시퀀스를 제어하기 위한 H/W와 S/W 시스템을 생산라인에 실장하고 성능점검 및 인증을 수행한 결과 Tact에 의한 Pixel 불량의 경우는 98.1%, Line 불량의 경우는 99.1%의 검출율을 나타내었으며, Gate 및 Visual 레벨 테스트를 포함한 모듈공정 전체의 수율이 98.3%까지 증가하였다.

모폴로지(Morphology)를 이용한 TFT-LCD 셀 검사 알고리즘 연구 (On the TFT-LCD Cell Defect Inspection Algorithm using Morphology)

  • 김용관;유상현
    • 조명전기설비학회논문지
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    • 제21권1호
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    • pp.19-27
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    • 2007
  • 본 논문에서는 모폴로지 기법을 이용한 TFT-LCD 셀의 라인 결함과 픽셀 결함을 검사할 수 있는 알고리즘을 개발하였다. 이때 LCD 셀의 브라이트 라인 결함, 다크 라인 결함, 브라이트 픽셀 결함, 다크 픽셀 결함들을 검출하기 위하여, 셀의 크기 특성을 고려한 모폴로지 연산자의 모양을 결정하고, 팽창 연산, 침식 연산 및 차분 기법을 이용하여 결함 정보를 추출하였다. 이후 다양한 실험을 통하여 결정된 적절한 임계값을 이용한 최적의 이진화 알고리즘을 적용하였다. 마지막으로 결함정보의 인식을 위한 라벨링 과정을 통하여, 결함들을 검출하였다. TFT-LCD 판넬의 다양한 검사 실험을 통하여, 본 논문에서 제안하는 알고리즘의 결함정보 검출 성능이 매우 우수함을 확인하였다.

회귀분석을 이용한 ITO 코팅유리기판의 표면균일도와 운전변수의 상관관계 분석 (Relationship between Working Parameter and Surface Nniformity of ITO coated Glass Substrate using Regression Analysis)

  • 김면희;이상룡;이태영;배준영
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2004년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.1353-1356
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    • 2004
  • In recent year, OLED(organic light emitted display) is used as the next generation device of FPD. OLED have been replacing the flat panel display device such as LCD, STN-LCD and TFT because this device is more efficient, economic and simple than those FPD devices, and this need not backlight system for visualization. The performance and efficiency of OLED is related with surface defect of ITO coated glass substrate. The typical surface defect of glass substrate is nonuniformity and bad surface roughness. ITO coated glass substrate is destroied for inspection about surface roughness and non-uniformity. Generally detection of the defects in the surface for ITO coated glass substrate is dependent on operator's experience. In this research, relationship between working parameter and surface non-uniformity is studied using regression analysis.

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비젼 시스템을 이용한 LCD용 편광 필름의 결함 검사에 관한 연구 (A study on the defect inspection on the LCD polarizer film using the Vision system)

  • 박종성;정규원;강찬구
    • 한국공작기계학회:학술대회논문집
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    • 한국공작기계학회 2002년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.164-169
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    • 2002
  • Recently, LCD(Liquid Crystal Display) is the display product widely used on various fields of industry. This is generally composed of many parts. Among many parts, polarizer film control the intensity of the transmitted light according to the degree of rotation of the polarizer axis. Therefore, this film must be free from defects. But it contains many defects such as the defects caused by dust or different thing, adhesive badness, scratch. Presently, the inspection of these defects is depending on the sight of operator. In this paper, we propose the vision system composed of telecentric lens and optical mirror. This system use the coaxial illumination and the light is specularly reflected on the optical mirror. And we develop the image processing algorithm using the threshold and morphological technique.

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TFT-LCD용 TFT기판에서 저에너지 전자빔을 이용한 전기적 결함 검출 메카니즘 분석 (Analysis of the Electrical Defect Detection Mechanism using a Low Energy Electron Beam on the TFT Substrate for TFT-LCDs)

  • 오태식;김호섭;김대욱;안승준;이건희
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제12권4호
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    • pp.1803-1811
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    • 2011
  • TFT-LCD용 TFT기판 상에서 저에너지 마이크로 컬럼을 이용하는 전기적인 결함 검출 메카니즘을 분석하였다. 본 연구에서는 고진공 챔버 내에서 7인치 TFT 기판에 저에너지 전자빔을 주사하여 여러 가지 불량 화소에 대한 SEM 이미지를 획득하였다. 더불어 각각의 불량 화소에서 나타나는 현상과 전기적인 거동과의 연관성을 분석하여 검출 메카니즘을 해석하였다. 그 결과로서 저에너지 초소형 전자 컬럼을 이용하는 저에너지 전자빔에 의한 SEM 이미지는 전자간 반발효과에 크게 영향을 받는 일관성 있는 결과를 확인하였다.