• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권11호
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• pp.115-121
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• 2004

본 논문에서 구현한 GenJTAG은 웹기반 경계 주사 회로 자동 생성기이다. GenJTAG은 경계 주사 기법의 공개 명령어를 모두 지원하고 다른 테스트 용이화 기법을 위한 특수 명령어를 지원할 수 있는 경계 주사 회로를 생성하여 준다. 생성된 경계주사 회로는 행위 수준 verilog-HDL 코드로 기술되므로 요구 사항이 변경될 경우 사용자가 용이하게 수정할 수 있다. 특히, GenJTAG은 웹을 통하여 사용할 수 있으므로 누구나 쉽게 경계 주사 회로를 생성할 수 있는 이점이 있다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2003년도 하계학술대회 논문집 D
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• pp.2756-2758
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• 2003

ARM CORE용 칩으로 철도 종합 제어 부분에 이용될 수 있는 main processor 부분을 설계하고, JTAG 기술을 이용하여 그 안정성과 틸팅 기술에 이용될 수 있는 process를 사전 단계에서 bebugging 해보고, 이에 따른 신호 및 성능을 JTAG(Boundary Scan)을 이용하여 시스템의 신호와 파형을 시험 평가한다. 또한 예비 단계로의 JTAG 검증 가능성 여부를 알아보고자 한다. 철도 종합 제어 시스템의 신호 및 정확성을 측정해 보기 위한 선행 연구라 할 수 있다.

• 전기학회논문지
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• 제56권5호
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• pp.980-986
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• 2007

Boundary scan test structure(JTAG IEEE 1149.1 standard) that supports an internal scan chain is generally being used to test CUT(circuit under test). Since the internal scan chain can only have a single scan-in port and a single scan-out port; however, existing boundary test methods can not be used when multiple scan chains are present in CUT. Those chains must be stitched to form a single scan chain as shown in this paper. We propose an efficient boundary scan test structure that adds a circuit called Clock Group Register(CGR) for multiple clocks testing within the design of multiple scan chains. The proposed CGR has the function of grouping clocks. By adding CGR to a previously existing boundary scan design, the design is modified. This revised scan design overcomes the limitation of supporting a single scan-in port and out port, and it bolsters multiple scan-in ports and out ports. Through our experiments, the effectiveness of CGR is proved. With this, it is possible to test more complicated designs that have high density with a little effort. Furthermore, it will also benefit in designing those complicated circuits.

• 한국통신학회논문지
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• 제27권1A호
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• pp.66-72
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• 2002

본 논문에서 구현한 GenJTAG은 기판 수준의 테스팅을 위한 정보와 BIST(Built-In Self Test)에 대한 정보를 입력으로 받아 verilog-HDL 코드로 기술된 경계 주사 회로를 자동 생성해 주는 설계 자동화 툴이다. 대부분이 상용 툴들은 생성된 회로를 게이트 수준의 회로로 제공하기 때문에 사용자가 선택적으로 사용할 수 있는 BIST 관련 명령어를 회로에 추가하기가 어려운데 반해, 본 논문에서 구현한 툴은 사용자가 정의한 정보에 의해 BIST 관련 명령어를 지원할 수 있는 behavioral 코드의 경계 주사 회로를 생성하여 준다. 또한 behavioral 코드를 제공함으로써 사용자에 의한 수정을 용이하도록 하였다.

• 대한전자공학회:학술대회논문집
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• 대한전자공학회 2002년도 하계종합학술대회 논문집(2)
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• pp.329-332
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• 2002

The traditional debug tools for chip tests and software developments need a huge investment and a plenty of time. These problems can be overcome by Embedded Debugger based the JTAG boundary Scan Architecture. Thus, the IEEE 1149.1 standard is adopted by ASIC designers for the testability problems. We designed the RED(Reusable Embedded Debugger) using the JTAG boundary Scan Architecture. The proposed debugger is applicable for not a chip test but also a software debugging. Our debugger has an additional hardware module (EICEM : Embedded ICE Module) for more critical real-time debugging.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제41권8호
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• pp.85-92
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• 2004

본 논문에서는 IEEE 1149.1 표준인 JTAG 기반 테스트 성능향상을 위한 Preceding instruction decoding module(PIDM)을 제안하였다. PIDM은 test access port(TAP) 명령어 디코딩과정을 TAP 제어회로(TAP-controller) 이전에 수행하여 클럭회수를 최소화하였으며 테스트 타겟 안에서 test mode select(TMS) 같은 신호를 생성할 수 있게끔 설계되었다. CORDIC 프로세서의 테스트 시뮬레이션 결과 PIDM은 non-PIDM에 비해 15% 정도의 성능향상을 나타내었으며 TAP 제어회로의 게이트 수는 기존에 비해 48% 이상 감소하였다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
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• 대한전기학회 2004년도 하계학술대회 논문집 D
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• pp.2625-2627
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• 2004

ARM CORE용 칩으로 틸팅 제어 부분에 이용될 수 있는 main processor 부분을 설계하고, JTAG 기술을 이용하여 그 안정성과 틸팅 기술에 이용될 수 있는 process를 사전 단계에서bebugging 해보고, 이에 따른 신호 및 성능을 JTAG(Boundary Scan)을 이용하여 시스템의 신호와 파형을 시험 평가한다. 또한 예비 단계로의 JTAG 검증 가능성 여부를 알아보고자 한다. 철도 종합 제어 시스템의 신호 및 정확성을 측정해 보기 위한 선행 연구라 할 수 있다.

• 한국정보처리학회:학술대회논문집
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• 한국정보처리학회 2008년도 추계학술발표대회
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• pp.810-813
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• 2008

본 논문에서 연구하고 구현된 JTAG(Joint Test Action Group) Writer는 하나의 SoC(System On a Chip)만 지원하도록 설계된 기존 제품의 단점을 보완할 수 있도록 각 SoC의 제조 회사에서 제공하는 BSDL(Boundary Scan Description Language)을 이용하여 여러 가지 SoC에 쉽게 사용할 수 있도록 모듈화 했다. 그리고 기존 제품들이 사용하고 있는 직렬 포트나 병렬 포트 대신 안정적이고 편리한 USB(Universal Serial Bus) 접속규격을 지원하도록 개선했다.