• Title/Summary/Keyword: Ion Bem Sputtering(IBS) Method

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$Bi_2Sr_2Ca_1Cu_2O_x$ 조성으로 제작된 박막의 결정상에 대한 고용비 해석 (Analysis of the Staking Fault in Crystalline Phase of Thin Films Fabricated by $Bi_2Sr_2Ca_1Cu_2O_x$ Composition)

  • 양승호;이호식;박용필
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2007년도 춘계종합학술대회
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    • pp.524-527
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    • 2007
  • 이온 빔 스퍼터법을 이용하여 저속성장으로 동시 증착에 의해 $Bi_2Sr_2Ca_{n-1}Cu_nO_x$(n=0, 1, 2) 박막을 제작하였다. Bi 2212 상은 기판온도 $750\sim795^{\circ}C$의 범위에서 나타났으며, $750^{\circ}C$보다 저온 측에서는 Bi 2201의 단일강이 존재하였나. 그러나, 조성과 관계되는 $PO_3$에 대해서 크게 변하지 않았다. 그리고 임계온도(Tc)가 $45\sim90K$ 가지는 c축 배향한 고품질의 Bi 2212 박막을 얻었다. 소수의 박막에서는 소량의 CuO가 불순물로 관찰되었으며, 얻어진 모든 박막에서 $CaCuO_2$의 불순물 상은 관찰되지 않았다.

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결정상에 대한 고용체가 $Bi_2Sr_2Ca{_{n-1}}Cu_nO_x$(n=0,1,2) 박막의 특성에 미치는 영향 (Influence of the Solid Solution for Crystalline Phase on the Characterization of $Bi_2Sr_2Ca{_{n-1}}Cu_nO_x$(n=0,1,2) Thin Films)

  • 양승호;이호식;박용필
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제11권6호
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    • pp.1115-1121
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    • 2007
  • 이온 빔 스퍼터법을 이용하여 저속성장으로 동시 증착에 의해 $Bi_2Sr_2Ca{_{n-1}}Cu_nO_x$(n=0,1,2) 박막을 제작하였다. Bi 2212 상은 기판온도 $750{\sim}795^{\circ}C$의 범위에서 나타났으며, $750^{\circ}C$보다 저온 측에서는 Bi 2201의 단일상이 존재하였다. 그러나, 조성과 관계되는 $PO_3$은 압력 변화에 대해서는 관찰되지 않았다. 그리고 $45{\sim}90K$의 임계온도(Tc)를 갖는 c축 배향한 고품질의 Bi 2212 박막을 얻었다. 소수의 박막에서는 소량의 CuO가 불순물로 관찰되었으며, 얻어진 모든 박막에서 $CaCuO_2$ 의 불순물 상은 관찰되지 않았다.