• Title/Summary/Keyword: ITA(Interface Test Adapter)

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Dynamic Pattern 기법을 이용한 주문형 반도체 결함 검출에 관한 연구 (A Study on the Fault Detection of ASIC using Dynamic Pattern Method)

  • 심우제;정해성;강창훈;지민석;안동만;홍교영;홍승범
    • 한국항행학회논문지
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    • 제17권5호
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    • pp.560-567
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    • 2013
  • 본 논문에서는 일반적으로 사용되고 있는 개발 및 분석용 프로그램을 이용하여 시험요구서가 개발되지 않은 ASIC을 대상으로 결함을 검출하는 방법을 제안한다. 시험요구서가 없는 경우, 회로의 동작을 파악하기 힘들어 어떤 칩에서 결함이 발생하였는지 발견하기 어렵다. 따라서 ASIC의 로직 데이터를 분석하여 결함 검출을 위한 시험요구서를 작성하고, 시험요구서에 따라 제작된 Dynamic Pattern 신호를 이용하여 게이트 레벨에서 입출력 핀 신호 제어를 통해 고장진단을 한다. 실험결과 제안된 기법을 비메모리 회로에 적용하여 우수한 결함 검출능력을 확인하였다.