• 제목/요약/키워드: IT테스트

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키워드 기반 탐색적 테스트의 실험적 연구 (Experimental Study of Keyword-Based Exploratory Testing)

  • 황준선;최은만
    • 소프트웨어공학소사이어티 논문지
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    • 제29권2호
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    • pp.13-20
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    • 2020
  • 탐색 테스트는 빠른 개발 주기라는 특징으로 바람직한 테스트 방법으로 소개되었으나 적용을 위하여 문서화 및 테스트 범위의 분석이 요구되어 적극적으로 채택하지 않고 있다. 한편 키워드 기반 테스트는 리소스 절약 및 유지 관리를 용이하게 하는 방법으로 소개되었으나 데이터, 설정, 상호 작용, 시퀀스 및 타이밍과 같은 변수가 많아 테스트를 미리 계획하는 것이 쉽지 않다. 하지만 키워드 기반 테스트에서 키워드를 작성하기 위한 명확한 기준과 방법을 제시하고 탐색 테스트 프로세스를 적용하여 키워드를 기반으로 테스트 사례를 만들 수 있다. 이 논문에서는 키워드 기반으로 탐색적 테스트를 자동화 하는 모델을 제안하고 실험한다. 효과를 검증하기 위해 일반 키워드 기반 테스트(KBT)와 탐색적 키워드 기반 테스트(KBET)와 비교하였고 탐색적 정상 테스트 사례(ETC) 및 탐색적 키워드 기반 테스트(KBET)와 비교하였다.

실생활환경 그린IT 직류배전 기술 실증 테스트베드 구축

  • 배현수
    • 전력전자학회지
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    • 제15권5호
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    • pp.23-27
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    • 2010
  • 실생활환경 그린IT 기술 실증 테스트베드는 최근 에너지절감을 위한 하나의 해법으로 논의되고 있는 단위 건물에 대한 직류배전 기술 이외에 건축기술 기반의 공간, 냉난방, 환기, 빛 환경 에너지 성능평가 기술과 주택 유형별, 가구별 전력 에너지 관리 기술, IT기반 기술 등을 활용하여 그린IT기반 요소기술의 성능 검증, 기술개발, 신시장창출을 위한 실증테스트환경 모델과 산업활성화 기반을 구축하는 것이다. 이 중 향후 완성될 실증 테스트베드 건물에 적용하기 위하여 본 기관에서 수행하고 있는 직류배전분야에서의 주요 연구내용 및 연구방향, 고려사항들을 논의하고자 한다.

다중 주사 경로 회로 기판을 위한 내장된 자체 테스트 기법의 연구 (A Study on Built-In Self Test for Boards with Multiple Scan Paths)

  • 김현진;신종철;임용태;강성호
    • 전자공학회논문지C
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    • 제36C권2호
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    • pp.14-25
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    • 1999
  • 인쇄 회로 보드 수준의 테스팅을 위해 제안된 IEEE 표준 1149.1은 보드상의 테스트 지점에 대한 제어용이도와 관측용이도를 향상시켜 보드의 테스트를 용이하게 해준다. 그러나, 경계 주사 환경에서는 테스트 입력과 테스트 결과에 따른 데이터가 하나의 주사 연결에 의해서 직렬로 이동된다. 이는 테스트 적용시간을 증가시키고 따라서 테스트에 드는 비용을 증가시킨다. 테스트에 소모되는 시간을 줄이기 위해 병렬로 다중주사 경로를 구성하는 방법이 제안되었다. 하지만 이는 여분의 입출력 핀과 내선을 필요로 한다. 더구나 IEEE 표준 1149.1은 주사 경로 상에 있는 IC들의 병렬 동작을 지원하지 않기 때문에 표준에 맞게 설계하기가 어렵다. 본 논문에서는 하나의 테스트 버스로 두 개의 주사 경로를 동시에 제안하는 다중 주사 경로 접근 알고리즘에 기초하여 적은 면적 오버헤드를 가지고 빠른 시간 내에 보드를 테스트할 수 있는 새로운 보드수준의 내장된 자체 테스트 구조를 구현하였다. 제안된 내장된 자체 테스트 구조는 두 개의 주사 경로에 대한 테스트 입력과 테스트 결과를 이동시킬 수 있으므로 테스트에 소모되는 시간을 줄일 수 있고 또한 테스트 입력의 생성과 테스트 결과의 분석에 소모되는 비용을 줄일 수 있다.

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SoC환경에서의 저전력 테스트를 고려한 테스트 패턴 압축에 대한 효율적인 알고리즘 (A new efficient algorithm for test pattern compression considering low power test in SoC)

  • 신용승;강성호
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권9호
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    • pp.85-95
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    • 2004
  • 최근 반도체 칩의 집적도가 올라가고 System-on-Chip(Soc)환경이 보편화되면서 Automatic Test Equipment(ATE)를 이용한 테스트 수행시 테스트 패턴의 크기 문제와 스캔체인에서의 전력 소모문제가 크게 부각되고 있다. 또한, 테스트 패턴 크기문제를 해결하기 위해 테스트 패턴을 압축하게 되면 테스트 패턴의 소모하는 전력량이 커지게 되어 저전력 테스트를 수행하는데 어려움이 있어 두 가지 문제를 해결할 수 없었다 본 논문에서는 이러한 문제점들을 동시에 해결하기 위해서 Run-length code를 기반으로 하여 저전력 테스트가 가능하면서 테스트 패턴의 크기도 줄일 수 있는 알고리즘을 제안하였다. 본 논문에서는 기존에 제시되었던 알고리즘과 비교ㆍ분석하는 실험을 통하여 이 알고리즘의 효율성을 보여주고 있다.

안드로이드 앱 GUI 테스트 자동화 툴 개발 방법에 관한 연구 (A Study on the Development Method of Android App GUI Test Automation Tool)

  • 박세준;김규정
    • 한국콘텐츠학회논문지
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    • 제21권8호
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    • pp.403-412
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    • 2021
  • 모바일 앱의 수가 기하급수적으로 늘어남에 따라 앱 개발과정에서 이루어지는 테스트의 자동화가 중요해지고 있다. 앱을 출시하기까지 다양한 유형의 테스트를 통해 반복적인 검증이 이루어지는데, 다양한 유형의 테스트 중 GUI 테스트를 중심으로 본 연구는 진행되었다. 안드로이드의 GUI 테스트 자동화 툴을 개발하기 위해서 안드로이드 앱 테스트의 UI Control 16가지와 Material Design Guideline에 대해서 기초 자료를 수집하였다. 그 후 기존 GUI 테스트 자동화 툴에 대해서 스크린 캡처 테스트 기반 2가지 툴과 소스코드 분석 테스트기반 4가지 툴 분석을 하였다. 분석을 통해 기존의 GUI 테스트 자동화 툴들은 시각적 설계, 인터페이스 사용 용이성, 컴포넌트 배치에 대해서는 고려하지 않고 있다는 점을 파악하였다. 이러한 기존 툴의 미비점을 보완하고자 새로운 GUI 테스트 자동화 툴 개발 방법으로 컴포넌트 선정이나 관리 분석 그리고 컴포넌트별 소스코드 예시로 탐색 메뉴나 버튼, 아이템 그룹화나 리스트에 관한 방법을 제시하였다. 본 연구는 GUI 테스트의 새로운 개발 방향을 제시함으로써 개발사의 안정적인 앱 배포에 기여할 수 있다는 점에서 의의가 있다.

패킷 필터링 기능 테스트를 위한 테스트 도구 개발 (Development of Test Tool for Testing Packet Filtering Functions)

  • 김현수;박영대;국승학
    • 한국정보과학회논문지:컴퓨팅의 실제 및 레터
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    • 제13권2호
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    • pp.86-99
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    • 2007
  • 패킷 필터링이란 악의적인 네트워크 패킷들을 거르는 작업을 말한다. 패킷 필터링의 기능을 테스트하기 위해서는 구축된 보안 정책이 의도했던 대로 정확하게 동작하는가를 검증하여야 한다. 그러나 이런 기능을 테스트하기 위한 도구들은 많지 않으며, 테스트 과정에서 많은 사용자의 노력을 요구한다. 대부분의 보안 관리자들은 보안 정책을 새로 수립하거나 기존의 보안 정책을 수정할 때에 새로운 보안 정책을 체계적으로 테스트하는 것에 부담을 느낀다. 이런 부담을 경감해주기 위해 우리는 사용자의 참여를 최소화하는 새로운 테스트 방법을 제안한다. 제안하는 방법은 테스트 케이스와 테스트 오라클의 생성을 자동화한다. 자동으로 생성된 테스트 케이스는 테스팅 과정의 입력 요소를 선택해야 하는 고민을 덜어주며, 자동으로 생성된 테스트 오라클은 사용자의 도움 없이 테스트 결과에 대한 판단을 가능하게 한다. 우리의 테스트 방법을 구현한 테스트 도구는 테스트 수행의 전체 4단계 중 테스트 준비, 테스트 실행, 테스트 평가의 3단계에 걸쳐 테스트 자동화를 실현하고 있다. 이런 테스트 도구 위에서 테스팅을 수행하게 된다면 결과적으로 테스트 활동의 신뢰도를 보다 높게 향상시킬 수 있다. 이 논문은 우리의 테스트 방법과 테스트 도구의 설계 및 구현에 관한 내용을 기술한다.

IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI/USB 통합 인터페이스 회로의 설계 (Design of PCI/USB Interface Controller with IEEE 1149.1 Test Function)

  • 김영훈;김기태;박성주
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제43권10호
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    • pp.54-60
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    • 2006
  • IEEE 1149.1 바운더리 스캔 칩들로 구성된 보드를 테스트하기 위한 패턴은 반드시 비트 스트림으로 구성되어야 한다. 그러나 이러한 비트 스트림을 생성하는 일은 IEEE 1149.1 표준에 대한 완벽한 지식이 필요하므로, 전문지식이 없는 SoC 설계자에게는 상당히 어려운 일이다. 본 논문에서는 Test Ready PCI 와 Test Ready USB로 정의한 PCI와 USB 장치를 통해 편리하게 테스트를 수행할 수 있게 도와주는 테스트 인터페이스 컨트롤러를 제안한다. 이 제어기는 TI사와 Lucent사에서 명령어 단위의 수준에서 테스트 비트 스트림을 생성하기위해 개발한 테스트 버스 컨트롤러를 기반으로 하여 테스트 전문 지식이 없는 설계자도 쉽게 테스트 패턴을 생성하여 테스트를 수행할 수 있는 장점이 있다.

SAT를 이용한 MC/DC 블랙박스 테스트 케이스 자동 생성 (Automated Black-Box Test Case Generation for MC/DC with SAT)

  • 정인상
    • 정보처리학회논문지D
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    • 제16D권6호
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    • pp.911-920
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    • 2009
  • 항공 소프트웨어가 FAA(미국연방항공청)에 승인받기 위해서는 DO-178B 표준에 따라야 한다. DO-178B에서는 안전 필수 소프트웨어의 단위 테스트가 MC/DC 기준을 만족하기를 요구하고 있다. MC/DC에 따른 테스트는 안전성과 관련된 오류를 효과적으로 찾을 수 있는 수단으로 알려져 있지만 MC/DC를 만족하는 테스트 케이스를 생성하는 작업이 용이하지 않는 것도 사실이다. 이 논문에서는 MD-SAT이라고 명명한 SAT(SATisfiability) 기술을 사용하여 MC/DC를 만족하는 테스트 케이스를 자동으로 생성하는 도구에 대해 소개한다. 이 도구는 결정표 기반 테스트, 인과 그래핑 및 상태 전이 테스트 방법을 구현한 도구에서 보다 다양한 테스트 케이스 생성을 위해 사용될 수 있다.

블랙박스 테스팅을 위한 함수 추상화 기반의 테스트 케이스 생성기법 (Test Case Generation for Black-Box Testing based on Function Abstraction)

  • 류호동;이우진
    • 한국정보처리학회:학술대회논문집
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    • 한국정보처리학회 2013년도 추계학술발표대회
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    • pp.1019-1021
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    • 2013
  • 오늘날 소프트웨어의 복잡화에 따라 그 테스트 방법 또한 다양화 되고 있다. 입력의 따른 결과 값을 비교하여 대상의 내부 구조에 대한 깊은 이해 없이 가능한 블랙박스 테스팅은 오늘날의 복잡한 소프트웨어의 테스팅에 있어 매우 적합한 방법이다. 하지만 이러한 테스트를 위한 테스트 케이스 생성을 위해서는 요구 명세와 더불어 이에 대한 깊은 이해를 필요로 한다. 이러한 문제를 해결하기 최근에는 UML과 같은 정형화된 명세 기반의 테스트 케이스 생성기법이 연구되고 있지만, 모델 기반의 개발 방법이 사용되지 않는 부분에서는 매번 이루어지는 코드 변경에 따라 모델을 다시 수정하는 번거로움이 필요하다. 이에 본 논문에서는 함수 레벨의 블랙박스 테스트를 위하여 코드를 이용하여 테스트 케이스를 생성하는 방법을 제안한다. 이를 위해 먼저 대상 함수를 추상화한 후 함수의 각 인자들을 이용하여 각 조건문 상의 인자의 쓰임을 분석하여 각 조건의 기준 값을 추출하고 이로부터 테스트 케이스를 추출하는 방법을 제안한다. 이러한 방법은 이미 구현되어 있는 코드를 사용함으로써 새로운 요구 명세에 대한 이해의 필요성을 줄이고 더불어 코드 기반의 테스트 케이스의 자동 생성연구의 초석이 된다.

코드 커버리지 테스팅 기법의 금융권 차세대 프로젝트 적용사례 (Code coverage Testing in Next Generation Banking System Project)

  • 김희영;양상태
    • 한국IT서비스학회:학술대회논문집
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    • 한국IT서비스학회 2009년도 추계학술대회
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    • pp.343-350
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    • 2009
  • 대규모 금융권 차세대 프로젝트에서 테스트에 대한 중요성은 재무RISK 관점에서 뿐만 아니라 소프트웨어 품질향상을 위한 결함의 제거 관점에서도 그 의미가 크다. 대규모 차세대 프로젝트는 일반 프로젝트에 비하여 개발되는 소프트웨어의 양이 방대하고 개발참여인원도 일반적인 관리수준을 넘어 수작업에 의한 테스트만으로는 충분한 품질을 보장하지 못한다. 또한 테스트를 수행한 이후에도 지속적으로 변경이 발생하고 이를 반영하는 과정에서 많은 결함이 유입되는 현재의 SI 프로젝트 특성상 지속적인 테스트 및 반복적인 검증만이 소프트웨어의 품질을 보장할 수 있다. 본 논문에서는 code coverage testing기법을 활용하여 동적 테스트 수행결과를 log로 도출하고, log 분석 결과를 통해 소프트웨어 품질의 향상을 기대할 수 있는 방안을 제시한다.

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