Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.37
no.6
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pp.313-318
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2004
Vertically-aligned and uniformly-distributed CuO nanowires were formed on copper-coated Si substrates by wet chemical process, immersing them in a hot alkaline solution. The effects of hydrogen plasma treatment on the field emission characteristics of CuO nanowires were investigated. It was found that hydrogen plasma treatment enhanced the field emission properties of CuO nanowires by showing a decrease in turn-on voltage, and an increase in emission current density, and stability of current-voltage curves. However, the excessive hydrogen plasma treatment made the I-V curves unstable. It was confirmed by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis that hydrogen plasma treatment deoxidized CuO nanowires, thereby the work function of the nanowires decreased from 4.35 eV (CuO) to 4.1 eV (Cu). It is thought that the decrease in the work function enhanced the field emission characteristics. It is well-known that the lower the work function, the better the field emission characteristics. The results suggest that the hydrogen plasma treatment is very effective in achieving enhanced field emission properties of the CuO nanowires, and there may exist an optimal hydrogen plasma treatment condition.
MOCVD is one of the major deposition techniques for Cu thin films and Ta-Si-N is one of promising barrier metal candidates for Cu with high thermal stability. Effects of hydrogen plasma pretreatment of the underlying Ta-Si-N film surface on the Cu nucleation in Cu MOCVD were investigated using scanning electron microscopy, X-ray photoelectron spectroscopy and Auger electron emission spectrometry analyses. Cu nucleation in MOCVD is enhanced as the rf-power and the plasma exposure time are increased in the hydrogen plasma pretreatment. The optimal plasma treatment process condition is the rf-power of 40 Wand the plasma exposure time of 2 min. The hydrogen gas flow rate in the hydrogen plasma pretreatment process does not affect Cu nucleation much. The mechanism through which Cu nucleation is enhanced by the hydrogen plasma pretreatment of the Ta-Si-N film surface is that the nitrogen and oxygen atoms at the Ta-Si-N film surface are effectively removed by the plasma treatment. Consequently the chemical composition was changed from Ta-Si-N(O) into Ta-Si at the Ta-Si-N film surface, which is favorable for Cu nucleation.
We have investigated the effects of hydrogen injection via in-situ gas addition ($O_2$, $H_2$, or $O_2$ + $H_2$ gas) and plasma post-treatment (Ar or Ar + H plasma) on material properties of ZnO that is considered to be as a channel layer in transparent thin film transistors. The variations in the electrical resistivity, optical transmittance and bandgap energy, and crystal quality of ZnO thin films were characterized in terms of the methods and conditions used in hydrogen injection. The resistivity was significantly decreased by injection of hydrogen; approximately $10^6\;{\Omega}cm$ for as-grown, $1.2\;{\times}\;10^2\;{\Omega}cm$ for in-situ with $O_2/H_2\;=\;2/3$ addition, and $0.1\;{\Omega}cm$ after Ar + H plasma treatment of 90 min. The average transmittance of ZnO films measured at a wavelength of 400-700 nm was gradually increased by increasing the post-treatment time in Ar + H plasma. The optical bandgap energy of ZnO films was almost monotonically increased by decreasing the $O_2/H_2$ ratio in in-situ gas addition or by increasing the post-treatment time in Ar + H plasma, while the post-treatment using Ar plasma hardly affected the bandgap energy. The role of hydrogen in ZnO was discussed by considering the creation and annihilation of oxygen vacancies as well as the formation of shallow donors by hydrogen.
Proceedings of the Korea Association of Crystal Growth Conference
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1999.06a
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pp.337-350
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1999
Thick diamond film having ~700${\mu}{\textrm}{m}$ thickness was deposited on polycrystalline molybdenum (Mo) substrate using high power (4kW) microwave plasma enhanced chemical vapor deposition (MPECVD) system. We could achieve free-standing diamond film via detaching as-deposited diamond film from the substrate by rapid cooling them under vacuum. We investigated the variation of photoconductivity after exposing the film surface to either oxygen or hydrogen plasma. At as-grown state, the growth side (the as-grown surface of the film) showed noticeable photoconductivity. The oxygen plasma treatment of this side led to the insulator. After exposing the film surface to hydrogen plasma, on the other hand, we could observe the reappearing of photoconductivity at the growth side. Based on these results, we suggest that the hydrogen plasma treatment may enhance the photoconductivity of free-standing diamond film.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.9
no.4
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pp.441-445
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1999
Thick diamond film having $~700\mu\textrm{m}$ thickness was deposited on polycrystalline molybdenum(Mo) substrate using high power (4 kW) microwave plasma-enhanced chemical vapor depostion (MPECVD) system. We could achieve free-standing diamond film via detaching as-deposited diamond film from the substrate by rapid cooling them under vacuum. We investigated the variation of photoconductivity after exposing the film surface to either oxygen or hydrogen plasma. At as-grown state, the growth side (the as-grown surface of the film) showed noticeable photoconcuctivity. The oxygen plasma treatment of this side led to the insulator. After exposing the film surface to hydrogen plasma, on the other hand, we could observe the reappearing of photoconductivity at the growth side. Based on these results, we suggest that the hydrogen plasma treatment may enhance the photoconductivity of free-standing diamond film.
We have investigated the effects of hydrogen plasma treatment by PECVD (Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition) in the back channel region, the method for reducing the off state leakage current which increases with the short channel length of a-Si:H TFTs. To improve the off current characteristics, we analyzed the hydrogen plasma treatment with various RF power and plasma treatment times of PECVD. As the result of hydrogen plasma treatment in the back channel region it was remarkably reduced the off current level of 2um channel length TFT.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.20
no.11
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pp.943-947
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2007
The effect of hydrogen and oxygen plasma treatments on the structural properties of carbon nanotube(CNT) has been systematically investigated. As the plasma power was increased, nano particles were appeared at the surface of CNTs. At high plasma power(300 Watt), the structure of CNT was changed from nanotube type to nano particles. However, in case of hydrogen plasma treatment, there was no change in microstructure of CNT. From the Raman analysis, the crystallinity of CNT was deteriorated by the plasma treatment, regardless of gas types.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2007.06a
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pp.164-165
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2007
The effect of hydrogen and oxygen plasma treatments on the structural properties of carbon nanotubes (CNTs) has been systematically investigated. The plasma treatment resulted in the removal of the amorphous carbon particles. As the plasma treatment time was longer, the CNT diameter was reduced, regardless of gas types. Especially, for the sample treated in hydrogen plasma, the catalyst metal on the tip of CNTs was eliminated.
Kim Dong-Won;Park Jeong-Won;Kim Sang-Ho;Park Jong-Su
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.37
no.5
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pp.243-248
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2004
A palladium-nikel(Pd-Ni) alloy composite membrane has been fabricated on microporous nickel support formed with nickel powder. Plasma surface treatment process is introduced as pre-treatment process instead of HCI activation. Pd coating layer was prepared by dc magnetron sputtering deposition after $H_2$ plasma surface treatment. Palladium-nickel alloy composite layer had a fairly uniform and dense surface morphology. The membrane was characterized by permeation experiments with hydrogen and nitrogen gases at temperature of 773 K and pressure of 2.2psi. The hydrogen permeance was 6 ml/minㆍ$\textrm{cm}^2$ㆍatm and the selectivity was 120 for hydrogen/nitrogen($H_2$/$N_2$) mixing gases at 773 K.
This study evaluated whether fluoride treatment can affect recovery of the irregularity of enamel surface after tooth whitening with a high concentration of hydrogen peroxide (HP) activated by plasma arc light. A total of 36 bovine teeth stained with coke were used in this experiment. The specimens were classified into following three groups (two different commercial plasma arc groups and a control group without light curing source): (1) 35% HP gel only, (2): 35% HP gel and Plasma arc A, and (3) 35% HP gel and Plasma arc B. To measure color changes and surface morphologies before and after the bleaching, colorimeter and scanning electron microscopy were used, respectively. When the specimens were bleached with hydrogen peroxide and plasma arc lights, the bleaching effect was greater than when only hydrogen peroxide gels were used (Kruskal-Wallis test, p<0.05). In addition, plasma arc B showed the more color changes than plasma arc A (Bonferroni post-hoc test, p<0.05). The surfaces of the teeth treated with fluoride gel after the whitening treatment came to be smooth. Therefore, the results of this study suggested that the fluoride application for patients who got tooth whitening therapy with a high concentration of hydrogen peroxide gels activated by plasma arc light will be effective to recover rough enamel surfaces.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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