In this paper we proposed a new Bragg grating waveguide in order to improve reflectivity and to achieve compactness. Bragg gratings with various thicknesses were engraved in the middle of the core layer with a length of 3 mm. For the sake of cost-effectiveness, the $3^{rd}$ order Bragg grating waveguides were fabricated via conventional photolithography. The maximum reflectivities for the fixed width waveguide of $6{\mu}m$ with the 0.1 and $0.3{\mu}m$-thick Bragg gratings were, -13.14 and -6.25 dB, respectively, and the Bragg wavelengths were 1562.28, 1564.10 nm, respectively. A slight increase in the Bragg grating thickness can result in a remarkable reduction in the length of the Bragg grating waveguide with a fixed reflectivity.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.17
no.9
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pp.994-1000
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2004
We studied the characteristics of annular phase gratings as spatial frequency filters. We first calculated the Fraunhofer diffraction patterns of annular gratings and then got the modulation transfer function (MTF) from the zeroth order Hankel transform of the intensity distribution function. Binaryphase annular grating shows higher diffraction efficiency than binary phase rectangular grating. But the MTF decreases linearly in the low-frequency region as that of rectangular grating does. The diffraction pattern of 4-phase annular grating is similar to that of 2-phase grating and hence MTFs of the two are much alike. For 8-phase annular grating, the 7th order diffracted beam is the lowest one next to the first. Consequently, the diffraction efficiency is very high and the MTF graph is curved upward. The diffracted beams except the first order are negligible and hence the MTF characteristics are more improved in the case of 16-phase grating. But the degree of improvement becomes lowered c(Impaled with 8-phase grating. We made a 16-phase annular grating and measured its MTF. The experimental result agrees well with the calculated one.
One dimensional (1D) grating has been fabricated (using focused ion beam) on 50 nm gold (Au) film deposited on higher refractive index Gallium phosphate (GaP) substrate. The sub-wavelength periodic metal nano structuring enable to couple photon to couple with the surface plasmons (SPs) excited by them. These grating devices provide the efficient control on the SPs which propagate on the interface of noble metal and dielectric whose frequency is dependent on the bulk electron plasma frequency of the metal. For a fixed periodicity (${\Lambda}=700 nm$) and slit width (w = 100 nm) in the grating device, the efficiency of SPP excitation is about 40% compared to the transmission in the near-field. Efficient coupling of SPs with photon in dielectric provide field localisation on sub-wavelength scale which is needed in Heat Assisted Magnetic recording (HAMR) systems. The GaP is also used to emulate Vertical Cavity Surface emitting laser (VCSEL) in order to provide cheaper alternative of light source being used in HAMR technology. In order to understand the underlying physics, far-and near-field results has been compared with the modelling results which are obtained using COMSOL RF module. Apart from this, grating devices of smaller periodicity (${\Lambda}=280nm$) and slit width (w = 22 nm) has been fabricated on GaP substrate which is photoluminescence material to observe amplified spontaneous emission of the SPs at wavelength of 805 nm when the grating device was excited with 532 nm laser light. This observation is unique and can have direct application in light emitting diodes (LEDs).
The Journal of the Institute of Internet, Broadcasting and Communication
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v.24
no.2
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pp.155-160
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2024
The polarization-selective beam splitter grating can be widely used in numerous optical information processing systems. In this paper, to design a high-efficiency plasma polarization beam splitter (PBS), the structure composed of an Ag metal layer in Littrow mounting is implemented. To achieve high diffraction efficiency in the transmitted 0th-order TE polarization and the reflected 0th-order TM polarization, the grating depth and grating ratio of presented PBS is optimized by using rigorous Modal Transmission-Line Theory. From the optimized results, PBS has advantages of wide band properties for incident wavelength and angle, and the efficiency is higher than 95% for both TE and TM polarization. Therefore, this highly efficient PBS wideband grating with high extinction ratio can be used as an excellent optical diffraction device.
Chung, You Kyoung;Jo, Choong-Man;Kim, Seong Kyu;Kim, In Cheol;Park, Do-Hyun;Bae, Hyo-Yook;Kang, Young Il
Journal of the Optical Society of Korea
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v.20
no.6
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pp.669-677
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2016
A miniaturized FTIR spectrometer based on lamellar grating interferometry is being developed for passive remote-sensing. Consisting of a pair of micro-mirror arrays, the lamellar grating can be fabricated using MEMS technology. This paper describes a method to compute the optical field in the interferometer to optimize the design parameters of the lamellar grating FTIR spectrometer. The lower limit of the micro-mirror width in the grating is related to the formation of a Talbot image in the near field and is estimated to be about $100{\mu}m$ for the spectrometer to be used for the wavelength range of $7-14{\mu}m$. In calculating the far field at the detection window, the conventional Fraunhofer equation is inadequate for detection distance of our application, misleading the upper limit of the micro-mirror width to avoid interference from higher order diffractions. Instead, the far field is described by the unperturbed plane-wave combined with the boundary diffraction wave. As a result, the interference from the higher order diffractions turns out to be negligible as the micro-mirror width increases. Therefore, the upper limit of the micro-mirror width does not need to be set. Under this scheme, the interferometer patterns and their FT spectra are successfully generated.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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v.5
no.1
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pp.34-37
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2004
Amorphous chalcogenide thin films, especially a-(Se, S) based films, exhibit a number of photo-induced phenomena. In this study, we make the As$\_$40/Ge$\_$10/Se$\_$15/S$\_$35//Ag thin film and then we measure the holographic diffraction efficiency according to thickness of Ag. And we form the two-dimensional holographic grating. At first, we formed one-dimensional grating and then we form two-dimensional grating by rotate the sample. We found out the most suitable thickness of Ag and in case of As$\_$40/Ge$\_$10/Se$\_$15/S$\_$35//Ag(600${\AA}$), the diffraction efficiency was more higher than other samples. The holographic grating was formed by He-Ne laser(λ=632.8nm). The intensity of incident beam was 2.5mW and incident angle was 20$^{\circ}$. We confirm. the two-dimensional holographic grating by the pattern of diffracted beam and AFM(Atomic Force Microscope) image. We perform the etching process using by 0.26N NaOH in order to confirm clearly two-dimensional grating.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.55
no.9
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pp.423-428
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2006
We have been carried out the two-beam interference method to form the diffraction grating on chalcogenide $AS_{40}Se_{15}S_{35}Ge_{10}$ thin films for Holography Data Storage (HDS). In the present work, we have been formed holographic diffraction gratings using He-Ne laser (632.8nm) under different Polarization state combinations (intensity polarization holography, phase polarization holography). It was obtained the diffraction grating efficiency by 11st order intensity and investigated the formed grating structure using Atomic Force Microscopy (AFM). As the results, it is shown that the diffraction efficiency of (P: P) polarized recording was maximum 2.4% and we found that its value was rather higher than that of other-polarized recordings. From the results, it is confirmed that the efficient holographic grating formation on amorphous chalcogenide $AS_{40}Se_{15}S_{35}Ge_{10}$ films depend on both the spatial variation of intensity and the polarization state of the incident field pattern.
Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics A
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v.31A
no.2
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pp.60-66
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1994
The scattering problem by E-polarized plane wave with oblique incidence on a tapered resistive strip grating with infinite resistivity at strip-edges is analyzed by the method of moments in the spectral domain. Then the induced surface current density is expanded in a series of Ultraspherical polynomials of the zeroth order. The expansion coefficients are calculated numerically in the spectral domain, the numerical results of the geometricoptical reflection coefficient for the tapered resistivity in this paper are compared with those for the existing uniform resistivity. And the position of sharp variation points in the magnitude of the geometric-optical reflection coefficient can be moved by varying the incident angle and the strip spacing. It is found out that these sharp variation points are due to the transition of higher modes between the propagation mode and the evanescent mode.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.13
no.9
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pp.781-785
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2000
Chalcogenide glasses are suggested as a candidate for optical recording. In this study, we have investigated the holography recording and reconstruction of the polarization state in chalcogenide As$_{40}$ Ge$_{10}$Se$_{15}$ S$_{35}$ thin films. We have used a He-Ne laser light(633nm) to probe and record of the grating. Also the polarization state of object beam was modulated with a λ/4 wave plate. The polarization state of the +1st order diffracted beam was generated by readout of the grating with a linearly polarized reference beam. It was the same-handed polarization state as the polarization state of the recording beam. The result is shown that the diffraction efficiency of circularly polarized recording represents higher than other polarization state.ate.e.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.07a
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pp.312-315
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2000
In this study, we have investigated the holography recording and reconstruction of the polarization state in chalcogenide $A_{s40}Ge_{10}Se_{15}S_{35}4 thin films using a He-Ne laser light(633nm). The thickness of thin films is a 8677${\AA}$ and 9093${\AA}$. A He-Ne laser used to probe and record of the grating. Also the polarization state of object beam modulated with a $\lambda/4$ wave plate. The polarization state of the +lst order diffracted beam generated by readout of the grating with a linearly polarized reference beam. It was the same-handed polarization state as the polarization state of the recording beam. The diffraction efficiency of circularly polarized recording represented higher than other polarization state.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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