Passive sensors such as Laser Range Finder(LRF) and Forward Looking Infrared(FLIR) camera frequently used for tracking aircraft landing produce the measurements of elevation angle contaminated by large noise due to the exhaust plume disturbance. This results in poor tracking performance if the extended Kalman filter is used for estimation of the range and elevation which are corrupted by the non-Gaussian noise such as plume disturbance. In this paper, an adaptive estimation filter and the extended Kalman filter is combined to produce a combination-type filter. In this approach the adaptive filter is used for the plume-type disturbance noise and the extended Kalman filter is utilized for the measurement of Gaussian type. The proposed combination filter is effective for the trajectory estimation of landing aircraft under the influence of unknown bias and numerical simulations illustrate the performance of the proposed filter.
Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers
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v.51
no.4
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pp.49-58
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2014
A low-swing differential near-ground signaling (NGS) transceiver for low-power high-speed mobile I/O interface is presented. The proposed transmitter adopts an on-chip regulated programmable-swing voltage-mode driver and a pre-driver with asymmetric rising/falling time. The proposed receiver utilizes a new multiple gain-path differential amplifier with feed-forward capacitors that boost high-frequency gain. Also, the receiver incorporates a new adaptive bias generator to compensate the input common-mode variation due to the variable output swing of the transmitter and to minimize the current mismatch of the receiver's input stage amplifier. The use of the new simple and effective impedance matching techniques applied in the transmitter and receiver results in good signal integrity and high power efficiency. The proposed transceiver designed in a 65-nm CMOS technology achieves a data rate of 13 Gbps/channel and 0.3 pJ/bit (= 0.3 mW/Gbps) high power efficiency over a 10 cm FR4 printed circuit board.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.48
no.6
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pp.410-415
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1999
$Ba_{1-x}Sr_xTiO_3$ thin films with various ratio of Sr (X = 0.4, 0.5, 0.6) were grown $Pt/TiN/SiO_2/Si$ subastrate by RF magnetron sputtering deposition. As, Ag, and Cu films were deposited on $Ba_{1-x}Sr_xTiO_3$ thin films as top electrodes by using a thermal evaporator. The electrical properties of $Ba_{1-x}Sr_xTiO_3$ thin films for various compositions were characterized and the physical properties at interface between $Ba_{1-x}Sr_xTiO_3$ thin films and top electrodes were evaluated in terms of the work function difference. At x =0.5, the degradation of capacitance is lower to the other compositions. As negative biasapplied, the specimen with Cu top electrode has board saturation region and low leakage current since work function of Cu is bigger than other electrodes.$ Ba_{0.5}Sr_{0.5}TiO_3$ thin films with Cu top electrode, the dielectric constant was measured to the value of 354 at 1 kHz and the leakage current was obtained to the value of $5.26\times10^{-6}A/cm2$ at the forward bias of 2 V.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.15
no.5
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pp.577-584
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2015
A photovoltaic (PV) system generates electricity by installing a solar energy array; therefore, the photovoltaic system can be easily exposed to external factors, which include environmental factors such as temperature, humidity, and radiation. These factors-as well as shading, in particular-lead to power degradation. When there is an output loss in the solar cell of a PV module package, the output loss is partly controlled by the bypass diode. As solar cells become highly efficient, the characteristics of series resistance and parallel resistance improve, and the characteristics of reverse voltage change. A bypass diode is connected in parallel to the string that is connected in series to the PV module. Ideally, the bypass diode operates when the voltage is -0.6[V] around. This study examines the bypass diode operating time for different types of crystalline solar cells. It compares the reverse voltage characteristics between the single solar cell and polycrystalline solar cell. Special modules were produced for the experiment. The shading rate of the solar cell in the specially made solar energy module was raised by 5% each time to confirm that the bypass diode was operating. The operation of the bypass diode is affected not only by the reverse voltage but also by the forward bias. This tendency was verified as the number of strings increased.
Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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v.21
no.10
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pp.1827-1832
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2017
To observe the characteristics to be a resistive memory of $V_2O_5$ deposited by oxygen various gas flows and annealed, the hysteresis curves of $V_2O_5$ were analyzed. The good resistive memory was obtained from the electrical characteristics of $V_2O_5$ films with the Schottky contact as a result of electron-hole pair, and the oxygen vacancy generated from the annealing process contributes the high quality of Schottky contact and the formation of resistive memories. The balanced Schottky contacts owing to the oxygen vacancy effect as the result of an ionic reaction were formed at the $V_2O_5$ film annealed at $150^{\circ}C$ and $200^{\circ}C$ and the balanced Schottky contact with negative to positive voltages enhanced the electrical operation with write/erase states according to the forward or reverse bias voltages for the resistive memory behavior due to the oxygen vacancy.
A spherical $Sr_4Al_{14}O_{25}:Eu^{2+}$ phosphor for use in white-light-emitting diodes was synthesized using a liquid-state reaction with two precipitation stages. For the formation of phosphor from a precursor, the calcination temperature was $1,100^{\circ}C$. The particle morphology of the phosphor was changed by controlling the processing conditions. The synthesized phosphor particles were spherical with a narrow size-distribution and had mono-dispersity. Upon excitation at 395 nm, the phosphor exhibited an emission band centered at 497 nm, corresponding to the $4f^65d{\rightarrow}4f^7$ electronic transitions of $Eu^{2+}$. The critical quenching-concentration of $Eu^{2+}$ in the synthesized $Sr_4Al_{14}O_{25}:Eu^{2+}$ phosphor was 5 mol%. A phosphor-converted LED was fabricated by the combination of the optimized spherical phosphor and a near-UV 390 nm LED chip. When this pc-LED was operated under various forward-bias currents at room temperature, the pc-LED exhibited a bright blue-green emission band, and high color-stability against changes in input power. Accordingly, the prepared spherical phosphor appears to be an excellent candidate for white LED applications.
ZnO thin-films are grown on a p-Si(111) substrate by RF sputtering. The effects of growth temperature and $O_2$ mixture ratio on the ZnO films are investigated by scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD), and room-temperature photoluminescence (PL) measurements. All the grown ZnO thin films show a strong preferred orientation along the c-axis, with an intense ultraviolet emission centered at 377 nm. However, when $O_2$ is mixed with the sputtering gas, the half width at half maximum (FWHM) of the XRD peak increases and the deep-level defect-related emission PL band becomes pronounced. In addition, an n-ZnO/p-Si heterojunction diode is fabricated by photolithographic processes and characterized using its current-voltage (I-V) characteristic curve and photoresponsivity. The fabricated n-ZnO/p-Si heterojunction diode exhibits typical rectifying I-V characteristics, with turn-on voltage of about 1.1 V and ideality factor of 1.7. The ratio of current density at ${\pm}3V$ of the reverse and forward bias voltage is about $5.8{\times}10^3$, which demonstrates the switching performance of the fabricated diode. The photoresponse of the diode under illumination of chopped with 40 Hz white light source shows fast response time and recovery time of 0.5 msec and 0.4 msec, respectively.
Seo, Jae Won;Oh, Hwa Sub;Kang, Ki Man;Moon, Seong Min;Kwak, Joon Seop;Lee, Kuk Hwe;Lee, Woo Hyun;Park, Young Ho;Park, Hae Sung
Korean Journal of Metals and Materials
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v.46
no.10
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pp.683-690
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2008
In order to develop transparent electrodes for high efficiency GaN-based light emitting diodes (LEDs), the electrical and optical properties of the electron beam evaporated ITO contacts have been investigated as a function of the deposition temperature and flow rate of oxygen during the deposition. As the deposition temperature increases from $140^{\circ}C$ to $220^{\circ}C$, the resistivity of the ITO films decreases slightly from $4.0{\times}10^{-4}{\Omega}cm$ to $3.3{\times}10^{-4}{\Omega}cm$, meanwhile the transmittance of the ITO films significantly increases from 67% to 88% at the wavelength of 470 nm. When the flow rate of oxygen during the deposition increases from 2 sccm to 4 sccm, the resistivity of the ITO films increases from $3.6{\times}10^{-4}{\Omega}cm$ to $7.4{\times}10^{-4}{\Omega}cm$, meanwhile the transmittance of the ITO films increases from 86% to 99% at 470 nm. Blue LEDs fabricated with the electron beam evaporated ITO electrode show that the ITO films deposited at $200^{\circ}C$ and 3 sccm of the oxygen flow rate give a low forward-bias voltage of 3.55 V at injection current of 20 mA with a highest output power.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2009.06a
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pp.327-327
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2009
ZnO with a large band gap (~3.37 eV) and exciton binding energy (~60 meV), is suitable for optoelectronic applications such as ultraviolet (UV) light emitting diodes (LEDs) and detectors. However, the ZnO-based p-n homojunction is not readily available because it is difficult to fabricate reproducible p-type ZnO with high hall concentration and mobility. In order to solve this problem, there have been numerous attempts to develop p-n heterojunction LEDs with ZnO as the n-type layer. The n-ZnO/p-GaN heterostructure is a good candidate for ZnO-based heterojunction LEDs because of their similar physical properties and the reproducible availability of p-type GaN. Especially, the reduced lattice mismatch (~1.8 %) and similar crystal structure result in the advantage of acquiring high performance LED devices. In particular, a number of ZnO films show UV band-edge emission with visible deep-level emission, which is originated from point defects such as oxygen vacancy, oxygen interstitial, zinc interstitial[1]. Thus, defect-related peak positions can be controlled by variation of growth or annealing conditions. In this work, the undoped ZnO film was grown on the p-GaN:Mg film using RF magnetron sputtering method. The undoped ZnO/p-GaN:Mg heterojunctions were annealed in a horizontal tube furnace. The annealing process was performed at $800^{\circ}C$ during 30 to 90 min in air ambient to observe the variation of the defect states in the ZnO film. Photoluminescence measurements were performed in order to confirm the deep-level position of the ZnO film. As a result, the deep-level emission showed orange-red color in the as-deposited film, while the defect-related peak positions of annealed films were shifted to greenish side as increasing annealing time. Furthermore, the electrical resistivity of the ZnO film was decreased after annealing process. The I-V characteristic of the LEDs showed nonlinear and rectifying behavior. The room-temperature electroluminescence (EL) was observed under forward bias. The EL showed a weak white and strong yellowish emission colors (~575 nm) in the undoped ZnO/p-GaN:Mg heterojunctions before and after annealing process, respectively.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.8
no.4
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pp.640-644
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1998
We have fabricated Sb/SiC(4H) Schottky barrier diode (SBD) of which characteristics compared with that of Ti/SiC(4H) SBD. The donor concentration of the n-type SiC(4H) obtained by capacitance-voltage (C-V) measurement was about $2.5{\times}10 ^{17}{\textrm}cm^{-3}$. The ideality factors of 1.31 was obtained from the slope of forward current-voltage (I-V) characteristics of Sb/SiC(4H) SBD at low current density. The breakdown field of Sb/SiC(4H) SBD under the reverse bias voltage was about $4.4{\times}10^2V$/cm. The built-in potential and the Schottky barrier height (SBH) of Sb/SiC(4H) SBD were 1.70V and 1.82V, respectively, which were determined by the analysis of C-V characteristics. The Sb/SiC(4H) SBH of 1.82V was higher than Ti/SiC(4H) SBH of 0.91V. However, the current density and reverse breakdown field of Sb/SiC(4H) were low as compared with those of Ti/SiC(4H). The Sb/SiC(4H), as well as the Ti/SiC(4H), can be utilized as the Shottky barrier contact for the high-power electronic device.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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