• 제목/요약/키워드: Film Information

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차등 $3\omega$ 기법을 이용한 다층 유전체 박막의 열전도도 측정 및 검증 (Measurement and Verification of Thermal Conductivity of Multilayer Thin Dielectric Film via Differential $3\omega$ Method)

  • 신상우;조한나;조형희
    • 정보저장시스템학회논문집
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    • 제2권1호
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    • pp.85-90
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    • 2006
  • In this study, measurement of thermal conductivity of multilayer thin dielectric film has been conducted via differential $3\omega$ method. Also, verification of differential $3\omega$ method has been accomplished with various proposed criteria. The target film for the measurement is 300 nm thick silicon dioxide which is covered with upper protective layer of various thicknesses. The upper protective layer is inserted between the target film and the heater line for purpose of electrical insulator or anti-oxidation barrier since the target film may be a good electrical conductor or a well-oxidizing material. Since the verification of differential $3\omega$ method has not been conducted yet, we have shown that the measurement of thermal conductivity of thin films with upper protective layer via differential $3\omega$ method is verified to be reliable as long as the proposed preconditions of the samples are satisfied. Experimental results show that the experimental errors tend to increase with aspect ratio between thickness of the upper protective layer and width of the heater line due to heat spreading effect.

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영화의 선호도 유창성에 영향을 미치는 영화의 처리 유창성 요인에 관한 연구 (The Study on the Factors of film's Processing Fluency Inducing Film's Preference Fluency)

  • 최낙환;임아영
    • Asia Marketing Journal
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    • 제13권4호
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    • pp.29-54
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    • 2012
  • 본 연구는 영화 관람과정에서 이루어지는 관객의 정보처리 용이성과 선호도 유창성의 관계를 살펴보기 위한 것이다. 따라서 본 연구는 영화에 대한 정보처리의 유창성 정도가 영화의 선호도 결정 용이성에 영향을 주다고 가정하고, 선행연구를 토대로 영화의 처리 유창성을 물리적 특성의 식별 용이성인 영화의 지각적 유창성과 표적에 대한 의미 처리 용이성을 의미하는 개념적 유창성으로 구분하였다. 그리고 영화를 구성하는 표현 요소들을 지각적 유창성요인과 개념적 유창성요인으로 구분하여 이들의 영향 관계를 탐색하였다. 본 연구의 결과, 첫째, 영화의 개념적 유창성과 지각적 유창성은 모두 영화의 선호도 유창성에 영향을 주는 것으로 나타났다. 둘째, 소리 표현의 식별성과 배우의 역할 표현 식별성은 영화의 지각적 유창성에 영향을 주지만, 영상 표현의 식별성은 유의하지 않은 것으로 탐색되었다. 마지막으로, 대사 표현의 적합성과 스토리 구성력은 영화의 개념적 유창성에 영향을 주는 것으로 탐색되었다.

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고분자 완충층을 이용한 유기박막트랜지스터 (Organic Thin-Film Transistors with Polymer Buffer Layer)

  • 최학범;형건우;박일홍;황선욱;김영관
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 Vol.9
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    • pp.182-183
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    • 2008
  • We fabricated a pentacene thin film transistor with Poly-vinylalcohol (PVA) as a dielectric. And we used Poly(9-vinylcarbazole) (PVK) as a buffer layer to improve the electrical characteristics. PVK is a material used often host material for OLED device, as it has good film forming properties, large HOMO-LUMO(highest occupied molecular orbital-lowest unoccupied molecular orbital) bandgap. The performance of a OTFT device with PVA gate dielectric was improved by using the PVK. Field effect mobility, threshold voltage, and on-off current ratio of device with PVK layer were about 0.6 $cm^2$/Vs, -17V, and $5\times10^5$, respectively.

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Annealing Effects of Laser Ablated PZT Films

  • Rhie, Dong-Hee;Jung, Jin-Hwee;Cho, Bong-Hee;Ryutaro Maeda
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2000년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.528-531
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    • 2000
  • Deposition of PZT with UV laser ablatio was applied for realization of thin film sensors and actuators. Deposition rate of more than 20nm/min was attained by pulsed KrF excimer laser deposition, which is fairly better than those obtained by the other methods. Perovskite phase was obtained at room temperature deposition with Fast Atom Beam(FAB) treatment and annealing. Smart MEMS(Micro electro-mechanical system) is now a suject of interest in the field of micro optical devices, micro pumps, AFM cantilever devices etc. It can be fabricated by deposition of PZT thin films and micromachining. PZT films of more than 1 micron thickness is difficult to obtain by conventional methods. This is the reason why we applied excimer laser ablation for thin film deposition. The remanent polarization Pr of 700nm PZT thin film was measured, and the relative dielectric constant was determined to about 900 and the dielectric loss tangent was also measured to be about 0.04. XRD analysis shows that, after annealing at 650 degrees C in 1 hour, the perovskite structure would be formed with some amount of pyrochlore phase, as is the case of the annealing at 750 degrees C in 1 hour.

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Relationship between Secondary Electron Emissions and Film Thickness of Hydrogenated Amorphous Silicon

  • Yang, Sung-Chae;Chu, Byung-Yoon;Ko, Seok-Cheol;Han, Byoung-Sung
    • KIEE International Transactions on Electrophysics and Applications
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    • 제4C권4호
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    • pp.185-189
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    • 2004
  • The temporal variation of a secondary electron emission coefficient (${\gamma}$ coefficient) of hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) was investigated in a dc silane plasma. Estimated ${\gamma}$ coefficients have a value of 2.73 ${\times}$ 10$^{-2}$ on the pure aluminum electrode and 1.5 ${\times}$ 10$^{-3}$ after 2 hours deposition of -Si:H thin films on a cathode. It showed an abrupt decrease for about 30 minutes before saturation. The variation of the ${\gamma}$ coefficient was estimated as a function of the thin film thickness, and the film thickness was about 80 nm after 30 minutes deposition time. These results are compared with the results of a computer simulation for ion penetration into a cathode.

박막형 FBAR 공진기 설계 및 제작 (FBAR devices for RF bandpass filter applications)

  • Yoon, Gi-Wan;Park, Sung-Chang
    • 한국정보통신학회논문지
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    • 제5권7호
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    • pp.1321-1325
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    • 2001
  • 본 논문에서는 압전박막 및 이들의 FBAR소자 응용에 대한 연구를 발표 한다. FBAR소자는 상부 및 하부 전극 사이에 압전체가 삽입되어 있는 공진부와 SiO2/W 이 여러층으로 적층되어 있는 음향반사층부분 크게 두 부분으로 구성되어 있다. 시뮬레이션 및 측정을 통하여 제작된 여러가지 FBAR 소자들을 평가하였다. 실험결과 우수한 삽입손실, 반사손실 및 풀질계수가 얻어졌다. 따라서 FBAR 기술은 RF 대역 필터 응용을 위해서 대단히 유망한 기술로 생각된다.

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전극에 따른 유기박막트랜지스터 소자의 전기적 특성 연구 (Study on Organic Thin-Film Transistors(OTFTs) Devices with Gold and Nickel/Silver electrodes)

  • 황선욱;형건우;박일홍;최학범;김영관
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 Vol.9
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    • pp.271-272
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    • 2008
  • We fabricated a pentacene thin-film transistor with Ni/Ag source/drain electrodes. Also, we obtained similar electrical characteristics as compared with source/drain electrode with Au. This device was found to have a field-effect mobility of about 0.021 $cm^2$/Vs, a threshold voltage of -5, -7 V, an subthreshold slope of 2.0, 4.5 V/decade, and an on!off current ratio of $3.6\times10^5$, $2.0\times10^6$.

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고분자 기판 상에 제작된 극저온 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에 관한 연구 (Fabrication of Ultra Low Temperature Poly crystalline Silicon Thin-Film Transistors on a Plastic Substrate)

  • 김영훈;김원근;문대규;한정인
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2005년도 하계학술대회 논문집 Vol.6
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    • pp.445-446
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    • 2005
  • This letter reports the fabrication of polycrystalline silicon thin-film transistors (poly-Si TFT) on flexible plastic substrates using amorphous silicon (a-Si) precursor films by sputter deposition. The a-Si films were deposited with mixture gas of argon and helium to minimize the argon incorporation into the film. The precursor films were then laser crystallized using XeCl excimer laser irradiation and a four-mask-processed poly-Si TFTs were fabricated with fully self-aligned top gate structure.

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PLT(28) 박막의 제작과 전기적 특성에 관한 연구 (Preparation and Electrical properties of the PLT(28) Thin Film)

  • 강성준;정양희
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2002년도 추계종합학술대회
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    • pp.784-787
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    • 2002
  • Sol-gel 법으로 PLT(28) 박막을 제작하여, 박막의 구조적 및 전기적 특성을 조사하였다. XRD와 AFM 관찰결과, $650^{\circ}C$에서 annealing 된 박막은 완전한 perovskite 구조를 가지며 표면거칠기도 22$\AA$ 으로 양호한 값을 나타내었다. Pt/TiO$_{x}$SiO2/Si 기판위에 PLT(28) 박막을 증착시켜 planar 형태의 캐패시터를 제작하여 전기적 특성을 조사하였다. 그 결과, PLT(28) 박막은 상유전상을 가지며,10kHz에서 비유전률과 유전손실은 761 과 0.024 이었다. 또, 5V에서 전하축적 밀도와 누설전류밀도는 각각 134fC/$\mu$m2 과 1.01 $\mu$A/cm2 이었다. 이로부터, PLT(28) 박막이 차세대 DRAM 용 캐패시터 절연막으로 사용될 수 있는 유망한 재료라고 생각된다.다.

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근적외선 반사 박막 특성 연구 (Study on characteristics of thin films for reflection of near infrared light)

  • 정연길;박현식
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제16권6호
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    • pp.4121-4124
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    • 2015
  • 에너지 절감 유리창에서는 근적외선 차단 기능이 요구되고 있다. 본 연구에서는 근적외선 반사를 위한 광학 박막의 설계, 제작 및 광학적 특성이 연구 되었다. 광학 박막은 저굴절률막과 고굴절률막의 적층 박막 구조로 설계하였다. 설계구조에 따라 RF 스퍼터링 방법을 이용한 $SiO_2$$TiO_2$ 박막의 증착 실험이 수행되었고 파워에 따른 증착 조건 파라미터에 따라서 제작된 스퍼터링 박막의 특성이 분광타원기, 원자현미경, 분광기로 분석되었다. 적층박막 구조의 설계는 $SiO_2$$TiO_2$의 고굴절률 박막/저굴절률 박막/고굴절률 박막의 적층 구조로서 근적외선 차단 다층막이 설계되었고 시뮬레이션 되었다. 시뮬레이션 결과 파장대역 930nm에서 1682nm의 범위에서 반사율30%이상이 관찰되었다. 시뮬레이션 결과를 토대로 제작된 삼층 구조의 박막은 파장 대역이 930nm에서 1525nm범위 대역에서 반값 전폭의 반사율 33%이상을 구현할 수 있었다.