• 한국정보처리학회논문지
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• 제4권5호
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• pp.1211-1220
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• 1997

다수 공급에 의해 제공되는 여러 구현들간의 상호운용성 시험은 비용을 초래할 뿐아니라 실제 상황에서 때로는 그 자체가 불가능하다. 적합성 시험이나 적합성 시험을 확정한 방법들 만으로는 효과적으로 상호운용성을 보장할 수 없다 본 논문 에서는 실시간 시스템인 통신망의 구성 요소들을 매우 훌륭하게 추상화 할 수 있는 실시간 객체 모형을 기반으로 한 프로토콜 상호운용성 시험 방법을 제시한다. 이 방법 에서는 RTO.k 객체 모형을 이용하여 IUT(lmplementation Under Test)와 시험 환경을 추상화하고 그 결과 얻어진 객체들을 실행 환경인 DREAM 커널 상에 지역 모니터와 전역 모니터를 두어 수행시킨다. 지역 모니터는 관찰과 제어를 주요 임무로 하고 전역 모니터는 시험 과정을 주관한다. 시험 방법의 검증을 위하여 B-ISDN UNI Q.2931 의 예를 들어 호 연결 제어 프로토콜 상호운용성 시험을 실험야 하였다. 이 방법으로 높은 결함 발견율을 얻을 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제45권6호
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• pp.43-48
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• 2008

일반적으로 자체 테스트 동작은 입력 벡터들 사이에 상호 연관성이 없기 때문에 더 많은 전력을 소비하는 것으로 알려져 있다. 이러한 점은 회로에 손상을 유발할 뿐 아니라 배터리 수명에도 악영향을 미치기 때문에 반드시 해결되어야 할 과제 중 하나이다. 이를 위해 본 논문에서는 새로운 방식의 BIST(Built-In Self Test) 구조를 제안하여 테스트 동작에서의 천이를 감소시키고, 이를 통해 전력소모를 줄이고자 한다. 제안하는 구조에서는 LFSR(Linear Feedback Shift Register)을 통해 생성되는 pseudo-random 테스트 벡터가 스캔 경로로 들어가기 전에 3 bit씩 모아 더 적은 천이를 가지는 4 bit의 패턴으로 변형한다. 이러한 변형과 그에 대한 복원 과정은 기존의 스캔 BIST 구조에서 Bit Generator와 Bit Dropper라는 모듈을 추가하여 간단히 구현하였다. 제안하는 구조를 ISCAS'89 benchmark 회로에 적용한 결과 약 62%의 천이 감소를 확인하였고 이를 통해 제안하는 구조의 효율성을 검증하였다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제40권9호
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• pp.692-701
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• 2003

본 논문에서는 저 전력소모와 높은 테스트용이성을 동시에 고려하기 위한 새로운 게이트 레벨 논리변환 방법을 제안한다. 주출력에서 관측될 확률이 낮은 CFF(Compact Fanout Free)를 찾아내고, 해당 CFF가 모든 주출력에서 관측불가능한 조건에서는 리던던트 연결을 첨가하여 내부에서 발생하는 스위칭 동작을 제거한다. 일반적으로 논리 변환된 회로의 테스트 용이성은 떨어지는 경향이 있다. 그러나 제안된 방법에서 첨가된 리던던트 연결은 테스트 모드에서 테스트 포인트로 동작하며 CFF의 제어도와 관측도를 동시에 향상시키게 된다. 따라서 논리 변환된 회로는 정상 모드에서는 전력 손실이 매우 낮으며, 테스트 모드에서는 높은 테스트용이성을 갖는다. 제안하는 논리 변환 방법의 효율성을 보이기 위하여 MCNC 벤치마크 테스트 회로에 대하여 실험을 수행하였다. 실험 결과로부터 변환된 회로의 전력소모는 최대 13%정도 감소하며, 고장 검출율은 오히려 증가함을 확인할 수 있다.

• 대한전자공학회논문지SD
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• 제47권8호
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• pp.29-35
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• 2010

본 논문에서는 내장된 자체 테스트 기법 (BIST, Built-In Self Test)을 적용 할 때 저전력 테스트가 가능한 패턴 생성기를 제안하였다. 테스트 시 WSA (Weighted Switching Activity)가 많이 발생하는 노드인 heavy nodes의 선택 알고리듬을 제안하였으며, heavy nodes에 천이를 발생시키는 입력부 곧 heavy inputs을 찾는 알고리듬을 나타내었다. 고장 검출율을 높이는 최적의 heavy nodes의 수를 결정하고 선택된 입력부에 변형된 LFSR의 출력을 인가하여 테스트 시 발생하는 천이를 줄였다. 제안하는 패턴 생성기는 몇 개의 AND 게이트와 OR 게이트를 LFSR에 추가하여 적은 하드웨어 오버헤드로 간단히 구현된다. ISCAS 벤치 회로에 적용한 실험을 통해 제시하는 방법이 기존의 기법에 비해 평균 소비 전력을 감소시키면서 고장 검출율을 상승시키는 것을 검증하였다.

• 전기전자학회논문지
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• 제5권1호
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• pp.43-51
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• 2001

메모리의 집적도가 올라갈수록 원치 않는 셀간의 간섭과 동시에 bit-line간의 상호 노이즈도 증가하게 된다. 그리고 높은 고장 검출율을 요구하는 고집적 메모리의 테스트는 많은 테스트 백터를 요구하게 되거나 비교적 큰 추가 테스트 회로를 요구하게 된다. 지금까지 기존의 테스트 알고리즘은 이웃 bit-line의 간섭이 아니라 이웃 셀에 중점을 두었다. 본 논문에서는 NPSFs(Neighborhood Pattern Sensitive Faults)를 기본으로 한 NBLSFs(Neighborhood Bit-Line Sensitive Faults)를 위한 새로운 테스터 알고리즘을 제안한다. 그리고 제안된 알고리즘은 부가 회로를 요구하지 않는다. 메모리 테스트를 위해 기존의 5개의 셀 레이아웃이나 9개의 셀 레이아웃을 사용하지 않고 NBLSF 검출에 최소한 크기인 3개의 셀 레이아웃을 이용하였다. 더구나 이웃 bit-line에 의한 최대의 상호잡음을 고려하기 위해 테스트 동작에 refresh 동작을 추가하였다(예 $write{\rightarrow}\;refresh{\rightarrow}\;read$). 또한 고착고장, 천이고장, 결합고장, 기존의 pattern sensitive 고장, 그리고 이웃 bit-line sensitive 고장 등도 검출될 수 있음을 보여준다.

• Journal of Information Processing Systems
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• 제8권2호
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• pp.213-240
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• 2012

Safety critical systems, real time systems, and event-based systems have a complex set of events and their own interdependency, which makes them difficult to test ma Safety critic Safety critical systems, real time systems, and event-based systems have a complex set of events and their own interdependency, which makes them difficult to test manually. In order to cut down on costs, save time, and increase reliability, the model based testing approach is the best solution. Such an approach does not require applications or codes prior to generating test cases, so it leads to the early detection of faults, which helps in reducing the development time. Several model-based testing approaches have used different UML models but very few works have been reported to show the generation of test cases that use events. Test cases that use events are an apt choice for these types of systems. However, these works have considered events that happen at a user interface level in a system while other events that happen in a system are not considered. Such works have limited applications in testing the GUI of a system. In this paper, a novel model-based testing approach is presented using business events, state events, and control events that have been captured directly from requirement specifications. The proposed approach documents events in event templates and then builds an event-flow model and a fault model for a system. Test coverage criterion and an algorithm are designed using these models to generate event sequence based test scenarios and test cases. Unlike other event based approaches, our approach is able to detect the proposed faults in a system. A prototype tool is developed to automate and evaluate the applicability of the entire process. Results have shown that the proposed approach and supportive tool is able to successfully derive test scenarios and test cases from the requirement specifications of safety critical systems, real time systems, and event based systems.

• 대한전자공학회논문지TC
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• 제44권6호
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• pp.31-39
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• 2007

본 논문에서는 코드분할다중접속방식을 사용하는 이동통신 시스템에서 기지국의 순방향 송신전력 및 파일롯 전력 등 RF 파라미터를 실시가 또는 주기적으로 측정하여 분석함으로써 시스템의 장애를 미연에 방지하고 셀커버리지 확대, 가입자 수용용량 증가 등 최적의 서비스 품질을 확보하고 투자효율을 극대화하기 위한 방안을 제시하였다. 순방향 전력 측정에서는 디텍터 내의 국부발진기 주파수를 가변함으로써 모든 채널의 송신출력을 측정할 수 있도록 하였다. 채널전력의 측정에 의하여 통화량 증가에 따른 송신출력의 변화를 관찰할 수 있으며, 순방향 $E_c/I_o$ 와의 비교를 통하여 파일롯 채널의 전력을 유추함으로써 대전력증폭기 등 송신부 모듈의 열화를 판독할 수 있도록 하였다. 일련의 모든 측정에는 CDMA 레벨디텍터에 의한 정밀 계측에 이은 정확한 분석이 이루어져야 하므로 변조방식 차이에서 오는 Crest factor 가 상이함으로 인한 측정상의 오차를 극복할 수 있도록 설계하였다.

• 디지털콘텐츠학회 논문지
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• 제9권3호
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• pp.471-481
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• 2008

전력소모를 고려한 테스트 스케줄링은 회로의 복잡도가 높은 SoC 시스템을 테스트할 경우 제한된 전력 소모량 내에서 고장 검출율을 높일 수 있고 테스트 시간을 단축 할 수 있는 효과적인 방법이다. 본 논문에서는 제한된 전력소모량 내에서 효율적으로 테스트를 수행하기 위한 테스트 자원의 모델링 방법 및 테스트 스케줄링 알고리듬을 제안하고 그 유효성을 검증한다. 테스트 자원의 모델링 방법으로는 전력사용량의 최고점과 차고점을 이용한 방법 및 소모 전력의 변화량에 따라 테스트 자원을 분할하는 방법을 제시한다. 또한 테스트 자원과 코어의 상관관계를 이용하여 동시 사용가능한 최대 코어 수를 생성하는 확장나무성장 그래프 생성 알고리듬 및 전력의 최적화가 가능한 전력 소모량 변이 그래프 생성 알고리듬으로 구성된 휴리스틱(heuristic) 테스트 스케줄링 알고리듬을 제안하고 이전의 알고리듬과 비교한다.

• 전기학회논문지
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• 제62권1호
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• pp.109-119
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• 2013

This paper presents the design of the Safety Programmable Logic Controller (SPLC) used in the Nuclear Power Plants, an analysis of a reliability for the SPLC using a markov model. The architecture of the SPLC is designed to have the multiple modular redundancy composed of the Dual Modular Redundancy(DMR) and the Triple Modular Redundancy(TMR). The operating system of the SPLC is designed to have the non-preemptive state based scheduler and the supervisory task managing the sequential scheduling, timing of tasks, diagnostic and security. The data communication of the SPLC is designed to have the deterministic state based protocol, and is designed to satisfy the effective transmission capacity of 20Mbps. Using Markov model, the reliability of SPLC is analyzed, and assessed. To have the reasonable reliability such as the mean time to failure (MTTF) more than 10,000 hours, the failure rate of each SPLC module should be less than $2{\times}10^{-5}$/hour. When the fault coverage factor (FCF) is increased by 0.1, the MTTF is improved by about 4 months, thus to enhance the MTTF effectively, it is needed that the diagnostic ability of each SPLC module should be strengthened. Also as the result of comparison the SPLC and the existing safety grade PLCs, the reliability and MTTF of SPLC is up to 1.6-times and up to 22,000 hours better than the existing PLCs.

• 한국정보처리학회논문지
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• 제4권7호
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• pp.1900-1906
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• 1997

본 논문에서는 FPGA에 회로를 설계할 때, 일괄검사가 가능한 BIST의 효율적인 BILBO(이하 EBILBO)를 설계한다. 제안된 일괄검사 알고리즘은 회로의 복잡도와 규모가 큰 회로에서 하나의 핀(pin)으로 정상속도에서 회로검사가 가능하다. BIST 설계에서, 필요한 검사패턴은 의사 랜덤패턴으로 생성하고, 출력은 다중 입력 쉬프트 레지스터에 의한 병렬 신호분석으로 검사하였다. 제안된 알고리즘은 VHDL로 동작적 기술하므로 검사패턴 생성과 응답분석 및 압축에 대한 모델을 용이하게 변경할 수 있다. FPGA상에 설계된 회로에서, 구현된 BIST의 EBILBO의 면적과 성능은 ISCAS89 벤치마크 회로를 통하여 평가하였다. 600 셀(cell) 이상의 회로에서 EBILBO 면적은 30% 이하로 감소하고, 검사패턴은 500K 정도로 신축성 있게 생성되고, 고장검출률의 범위는 88.3%에서 100%임을 확인하였다. 일괄검사의 BIST를 위한 EBILBO 동작은 정상모드와 병행하여 실시간으로 검사모드를 $s+n+(2^s/2^p-1)$시간 내에 동시에 수행할 수 있다.(CUT의 PI 수;n, 레지스터 수;s, p는 다항식의 차수). 제안된 알고리즘은 VHDL 코딩으로 설계와 검사가 병행될 수 있는 라이브러리로 구축되어 DFT에 광범위하게 응용되어질 수 있다.