The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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v.41
no.6
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pp.620-627
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2016
This paper proposes an advanced detection technique for cable fault by eliminating the sign of reference signal in STDR(sequence time-domain reflectometry) and SSTDR(spread-spectrum time-domain reflectometry). The proposed fault-detection technique can eliminate the reference signal more effectively than the conventional one since the sign detector can approximately recover the distorted reference signal by cable and connector, and consequently, can detect the reflected signal by fault more effectively than the conventional one. Especially, it is shown that the error rate of proposed technique can be significantly lower than the conventional one in the case of far fault simulation.
It is a well known fact that LCD is a central part of the IT industry which is important in the present and the future. But the biggest problem of LCD manufacturing is maintaining a cleaning room environment and administration. Therefore the purpose of this study is to first, prevent the yield depreciation and damage of products, and second, protect the worker ftom accidental electrostatic discharge during LCD manufacture. The soft x-ray ionizer is a type of electrostatic reducer device. It protects against electrostatic discharge in the cleaning room environment and is a necessary environmental factor during LCD production. The positive aspects of the soft x-ray are its shorter time and wider angle of exposure. But the negative aspect of the soft x-ray is its need for several shielding of protection from the harmful x-ray exposure. On this study, the development of the Air Nozzle-type ionizer to amend and refine some problems. For example, examined the electrostatic reduce device of a soft x-ray type and discovered the ion did not go inside well. also workers to be free from danger. An Air Nozzle-type ionizer is comprised of soft x-ray radiation and ionized air production. Air is injected through the nozzle after being ionized from radiation. It supplies air keeping the same pressure into the end foundation of ion production. The soft x-ray is the structure which radiates ionized air through the nozzle (21 holes) having micro holes of the ionizable radiation after ionizing the inside air by the ion production. A worker does not need a cover to protect against x-rays and the Air Nozzle-type ionizer is easy to set up and is more effective at eliminating electrostatic.
Although the removal efficiency of residual pesticides using tap water were ranged from -1.25 to $13.27\%$, the removal efficiencies of residual pesticides using both powder CaO and liquid CaO were $5.16\~l7.61,\;8.7\~41.59\%$, respectively. And those results showed much higher residual effect of the CaO washing than tap water washing. Natural CaO made by burning of scallop-shell considered to be a good reducing agent for pesticides. Furthermore, liquid CaO showed much higher removal efficiency than powder CaO. However, powder CaO also can be used as a good natural eliminator of pesticides in Mini-Tomato.
This study was conducted to examine the adsorption capacity of $NH_4\;^+-N$ by natural zeolite for the purpose of investigating the possibility for $NH_4\;^+-N$ eliminator of Korean natural zeolite. The dominant clay minerals of zeolite were clinoptilolite and mordenite. The reaction of $NH_4\;^+-N$ adsorption by zeolite reached equilibrium after 4hrs. The amount of $NH_4\;^+-N$ adsoption by zeolite was not significantly affected by the particle size of zeolite. The order of $NH_4\;^+-N$ adsorption by zeolite according to exchangeable cations was Na-> Ca> K-saturated zeolite. The amount of $NH_4\;^+-N$ adsorption by zeolite was increased with increasing pH of solution and the ratio of zeolite to the volume of solution. The isothermal curvel of $NH_4\;^+-N$ adsorption by zeolite was conformed to Langmuir equation.
The Transactions of the Korean Institute of Power Electronics
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v.11
no.4
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pp.340-348
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2006
This paper proposes an inrush current control technique of matching transformer for configuration of dynamic voltage restorer(DVR). The DVR system consist of PWM inverter to inject arbitrary voltage, LC low pass filter as harmonic eliminator and matching transformer for isolation. However, the matching transformer has an excess of inrush current by magnetic flux saturation in the core. Due to this inrush current, the rating of matching transformers is double for needed nominal rating for protection of DVR. Therefore, in this paper, the modeling method of magnetic flux saturation is used to analyze a magnitude of inrush current, and additional current controller is used for PWM inverter output regulation. Simulation and experimental results are provided to demonstrate the validity of the proposed control method.
It is necessary to eliminate the electric static for the prevention of disasters by electric static discharge, the improvement of production efficiency, the protection of a sensitive electronic devices in the variable manufacturing processes. Then it is handled for elimination of electric static in the painting plant, the film manufacturing plant, the producing semi-conductor factory. This study described on the ideal condition of electric static elimination efficiency by changing of the length of voltage input type eliminator's bar, the length of copper pipe and the gap of electrode and the existence of explosion by inflammable gas with that conditions. As the result, the electric static elimination efficiency has the most ideal value at the 8-11(mm) gap of the earth electrode and needle type electrode each elimination bar and there is not explode at the explosive experiment of inflammable gas with the ideal elimination bar. We can consider that there are some data which are needed for elimination efficiency and it will be able to protect the occurrence of explosion accident inflammable nas in the industrial fields.
Lee, Dong Hoon;Jeong, Phil Hoon;Lee, Su Hwan;Kim, Sanghyo
Journal of the Korean Society of Safety
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v.31
no.3
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pp.42-46
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2016
In LCD Display or semiconductor manufacturing processes, the anti-static technology of glass substrates and wafers becomes one of the most difficult issues which influence the yield of the semiconductor manufacturing. In order to overcome the problems of wafer surface contamination various issues such as ionization in decompressed vacuum and inactive gas(i.e. $N_2$ gas, Ar gas, etc.) environment should be considered. Soft X ray radiation is adequate in air and $O_2$ gas at atmospheric pressure while UV radiation is effective in $N_2$ gas Ar gas and at reduced pressure. At this point of view, the "vacuum ultraviolet ray ionization" is one of the most suitable methods for static elimination. The vacuum ultraviolet can be categorized according to a short wavelength whose value is from 100nm to 200nm. this is also called as an Extreme Ultraviolet. Most of these vacuum ultraviolet is absorbed in various substances including the air in the atmosphere. It is absorbed substances become to transit or expose the electrons, then the ionization is initially activated. In this study, static eliminator based on the vacuum ultraviolet ray under the above mentioned environment was tested and the results show how the ionization performance based on vacuum ultraviolet ray can be optimized. These vacuum ultraviolet ray performs better in extreme atmosphere than an ordinary atmospheric environment. Neutralization capability, therefore, shows its maximum value at $10^{-1}{\sim}10^{-3}$ Torr pressure level, and than starts degrading as pressure is gradually reduced. Neutralization capability at this peak point is higher than that at reduced pressure about $10^4$ times on the atmospheric pressure and by about $10^3$ times on the inactive gas. The introductions of these technology make it possible to perfectly overcome problems caused by static electricity and to manufacture ULSI devices and LCD with high reliability.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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