The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers P
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v.51
no.3
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pp.120-125
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2002
The switching-mode power converter has been widely used because of its features of high efficiency and small weight and size. These features are brought by the ON-OFF operation of semiconductor switching devices. However, this switching operation causes the surge and EMI(Electromagnetic Interference) which deteriorate the reliability of the converter themselves and entire electronic systems. This problem on the surge and noise is one of the most serious difficulties in AC-to-DC converter. In the switching-mode power converter, the output voltage is generally controlled by varying the duty ratio of main switch. When a converter operates in steady state, duty ratio of the converter is kept constant. So the power of switching noise is concentrated in specific frequencies. Generally, to reduce the EMI and improve the immunity of converter system, the switching frequency of converter needs to be properly modulated during a rectified line period instead of being kept constant. Random Pulse Width Modulation (RPWM) is performed by adding a random perturbation to switching instant while output-voltage regulation of converter is performed. RPWM method for reducing conducted EMI in single switch three phase discontinuous conduction mode boost converter is presented. The more white noise is injected, the more conducted EMI is reduced. But output-voltage is not sufficiently regulated. This is the reason why carrier frequency selection topology is proposed. In the case of carrier frequency selection, output-voltage of steady state and transient state is fully regulated. A RPWM control method was proposed in order to smooth the switching noise spectrum and reduce it's level. Experimental results are verified by converter operating at 300V/1kW with 5%~30% white noise input. Spectrum analysis is performed on the Phase current and the CM noise voltage. The former is measured with Current Probe and the latter is achieved with LISN, which are connected to the spectrum analyzer respectively.
To understand the defect chemistry of multiferroic $BiFeO_3-based$ systems, we synthesized nonstoichiometric $Bi_{1+x}FeO_{3{\pm}{\delta}}$ ceramics by conventional solid-state reaction method and studied their structural, dielectric and high-temperature charge transport properties. Incorporation of an excess amount of $Bi_2O_3$ lowered the Bi deficiency in $BiFeO_3$. Polarization versus electric field (P-E) hysteresis loop and dielectric properties were found to be improved by the $Bi_2O_3$ addition. To better understand the defect effects on the multiferroic properties, the high temperature equilibrium electrical conductivity was measured under various oxygen partial pressures ($pO_2{^{\prime}}s$). The charge transport behavior was also examined through thermopower measurement. It was found that the oxygen vacancies contribute to high ionic conduction, showing $pO_2$ independency, and the electronic carrier is electron (n-type) in air and Ar gas atmospheres.
Density functional theory (DFT) and time-dependent DFT (TD-DFT) calculations have been employed to investigate the molecular structures and absorption spectra of two dyes containing diphenylaniline and 4-diphenylamino-diphenylaniline as donor moiety (TPA1 and TPA3). The geometries indicate that the strong conjugation is formed in the dyes. The electronic structures suggest that the intramolecular charge transfer from the donor to the acceptor occurs, and the electron-donating capability of 4-diphenylamino-diphenylaniline is stronger than that of diphenylaniline. The computed highest occupied molecular orbital (HOMO) energy levels are -5.31 and -4.90 eV, while the lowest unoccupied molecular orbital (LUMO) energies are -2.29 and -2.26 eV for TPA1 and TPA3, respectively, revealing that the interfacial charge transfer between the dyes and the semiconductor electrode are electron injection processes from the photon-excited dyes to the semiconductor conduction band. Furthermore, all the experimental absorption bands of TPA1 and TPA3 have been assigned according to the TDDFT calculations.
The composition of the base glass was determined to be $Na_2O$ 15, $Fe_2O_3$ 35, $B_2O_3$ 0~20, $P_2O_5$ 30~50 by mole percent. The heating temperature for nucleation was determined by means of thermal expansion curve. Crystalline phases were investigated by X-ray diffraction method and I.R Spectra. Electrical conductivities of glass spec-imens were observed in the temperature range 25~20$0^{\circ}C$ The activation energies of these specimens were caculated. The results obtained were as follows : 1) The limit composition of the melts 15mol% $Na_2O$ 35mole% $Fe_2O_5$ 20mole% $B_2O_3$ 30mole% $P_2O_5$ was able to be formed into desired shapes during cooling, . 2) In the measurement of d. c conductivity($\delta$) on the glasses in the system $15Na_2O-35Fe_2O_3$-$B_2O_3$-(50-x) $P_2O_5$ the values decreased by replacing 5 mole% $P_2O_5$ with $B_2O_3$ 3) The d. c conducties of heat treated samples were increased by replacing $P_2O_5$ with $B_2O_3$ 4) $B_2O_3$ contributed to precipitate crystals such as${\gamma}$-$Fe_2O_3$$Fe_3O_4$ which had the advantage of electronic conduction in heat treated samples. 5) The slope plotted Log($\delta$) versus 1/T in this glass system was linear in the measured temperature range.
Interest in the integrated capacitors, which make it possible to reduce the size of and to obtain improved electrical performance of an electronic system, is expanding. In this study, $Ta_2$O\ulcorner thin film capacitors for MCM integrated capacitors were fabricated on a Upilex-S polymer film by DC magnetron reactive sputtering and the effects of low temperature annealing at various atmospheres and substrate surface morphology on the capacitor characteristics were discussed. The low temperature($150^{\circ}C$) annealing produced improved capacitor yield irrespective of the annealing at mosphere. But the leakage current of the $O_2$-annealed film was larger than that of any other films. This is presumably mosphere. But the leakage current of the $O_2$-annealed film was larger than that of any other films. This is presumably due to the change of the $Ta_2$O\ulcorner film surface by oxygen, which was explained by conduction mechanism study. Leakage current and breakdown field strength of the capacitors fabricated on the Upilex-S film were 7.27$\times$10\ulcornerA/$\textrm{cm}^2$ and 1.0 MV/cm respectively. These capacitor characteristics were inferior to those of the capacitors fabricated on the Si substrate but enough to be used for decoupling capacitors in multilayer package. Roughness Analysis of each layer by AFM demonstrated that the properties of the capacitors fabricated on the polymer film were affected by the surface morphology of the substrate. This substrate effect could be classified into two factors. One is the surface morphology of the polymer film and the other is the surface morphology of the metal bottom electrode determined by the deposition process. Therefore, the control of the two factors is important to obtain improved electrical of capacitors deposited on a polymer film.
The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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v.17
no.1
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pp.58-67
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1992
Optical absorption and photoluminescences(PL) of MgGa2Se4 and MgGa2Se4 : Co2+ single crustals were guown by the Bridgman method have been investigated in the visible and near-in frared regions. The optical absorption spectrum showed three absorption peak at 760 nm(13158nm, -1, 1.63eV), 1640nm(6097cm-1, 0.75eV).and 2500nm(4000cm-1,0.49eV) which are assigned the electronic transitions between the ground state and excited states of Co2+ ions with Td sym-metry in MgGa2Se4 host lattice. In PL spectrum the visible emission bands as well as the infrared emission band in these single cuystals are obserned. The visible emission bands are explained due to the radiative transitions of electrons from quasi continusly distributed tarps below the bottom of the conduction band to acceptor levels above the top of the valence band in the proposed energy level scheme. At the same time, it is considered that the infrated emission bands are attributed to electron transitions from the deep levels to the acceptor levels. The mechanism of the optical transition os well explained in terms of the energy diagram of MgGa2Se4.
Composite electrodes for redox supercapacitor were prepared potentiodynamically by the deposition of $RuO_2$ and the co-deposition of Ru-Co mixed oxide on the surface of single-walled carbon nanotube. Electrode of Ru-Co mixed oxide, in which Ru(13.13 wt%) and Co(2.89 wt%) were deposited on the carbon nanotube, exhibited a similar specific capacitance(${\sim}620\;F\;g^{-1}$) with $RuO_2$ electrode at a low potential scan rate($10\;mV\;s^{-1}$), but showed a superior one ($570\;F\;g^{-1}$) at a high scan rate($500\;mV\;s^{-1}$) than that of $RuO_2$($475\;F\;g^{-1}$). Such increase in the specific capacitance at high scan rate by the co-deposition of Ru and Co species was due to the structural support of Co species to provide the electronic conduction through Ru species.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2011.02a
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pp.207-207
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2011
Amorphous transparent oxide semiconductors (a-TOS) have been widely studied for many optoelectronic devices such as AM-OLED (active-matrix organic light emitting diodes). Recently, Nomura et al. demonstrated high performance amorphous IGZO (In-Ga-Zn-O) TFTs.1 Despite the amorphous structure, due to the conduction band minimum (CBM) that made of spherically extended s-orbitals of the constituent metals, an a-IGZO TFT shows high mobility.2,3 But IGZO films contain high cost rare metals. Therefore, we need to investigate the alternatives. Because Aluminum has a high bond enthalpy with oxygen atom and Alumina has a high lattice energy, we try to replace Gallium with Aluminum that is high reserve low cost material. In this study, we focused on the electrical properties of IZO:Al thin films as a channel layer of TFTs. IZO:Al were deposited on unheated non-alkali glass substrates (5 cm ${\times}$ 5 cm) by magnetron co-sputtering system with two cathodes equipped with IZO target and Al target, respectively. The sintered ceramic IZO disc (3 inch ${\phi}$, 5 mm t) and metal Al target (3 inch ${\phi}$, 5 mm t) are used for deposition. The O2 gas was used as the reactive gas to control carrier concentration and mobility. Deposition was carried out under various sputtering conditions to investigate the effect of sputtering process on the characteristics of IZO:Al thin films. Correlation between sputtering factors and electronic properties of the film will be discussed in detail.
The Journal of Korean Medicine Ophthalmology and Otolaryngology and Dermatology
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v.30
no.3
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pp.62-75
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2017
Objectives : The aim of this study is to evaluate possibility of DITI as prognosis evaluation tool of facial palsy. Methods : We investigate prognosis of facial palsy through EMR(Electronic Medical Record) of inpatient from December 2016 to June 2017. We evaluated the sex, age distribution, length of hospital stay, paralysis site, number of treatment after discharge, change of H-B Grade at entrance and exit, temperature difference of both sides of DITI, and Nerve Conduction Study(NCS) with reference to EMR recorded symptom change. Results : 1. Significant correlations were not found between DITI and House-Brackmann Grade change, NCS(%), the date of admission. 2. There was a negative correlation between NCS(%) and hospitalization period in patients with facial palsy. The higher the NCS, the faster the recovery rate of facial palsy. 3. In patients with facial palsy, the temperature difference between the two sides after the DITI image shows that the affected side tends to be lower than the normal side. Conclusions : In this study, only DITI temperature difference between both sides of face is not significant in determining the prognosis of facial palsy. Further research is needed to conduct DITI at the same time and to improve accuracy through a sufficient assessment of the degree of facial palsy.
The electrolyte is an important component in determining the performance of Fuel Cells. Especially, investigation of the conduction properties of electrolytes plays a key role in determining the performance of the electrolyte. The electrochemical properties of Yttrium stabilized zirconia (YSZ) were measured to allow the use of this material as an electrolyte for solid oxide fuel cells (SOFC) in the temperature range of $700-1000^{\circ}C$ and in $0.21{\leq}pO_2/atm{\leq}10^{-23}$. A Hebb-Wagner polarization experimental cell was optimally manufactured; here we discuss typical problems associated with making cells. The partial conductivities due to electrons and holes for 8YSZ, which is known as a superior oxygen conductor, were obtained using I-V characteristics based on the Hebb-Wagner polarization method. Activation energies for holes and electrons are $3.99{\pm}0.17eV$ and $1.70{\pm}0.06eV$ respectively. Further, we calculated the oxygen ion conductivity with electron, hole, and total conductivity, which was obtained by DC four probe conductivity measurements. The oxygen ion conductivity was dependent on the temperature; the activation energy was $0.80{\pm}0.10eV$. The electrolyte domain was determined from the top limit, bottom limit, and boundary (p=n) of the oxygen partial pressure. As a result, the electrolyte domain was widely presented in an extensive range of oxygen partial pressures and temperatures.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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