• 제목/요약/키워드: Electro-Static Discharge

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해상이동업무용 디지털선택호출 VHF 송수신장치의 EMC 적용에 관한 연구 (A Study on application of EMC to Digital Selective Calling VHF Transceiver for Maritime mobile service)

  • 임종근;이동식;김기문
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2002년도 춘계종합학술대회
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    • pp.529-534
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    • 2002
  • 범세계 해상 조난·안전 시스템(Global Maritime Distress & Safety System: GMDSS)에 따라 DSC(Digital Selective Calling) 전용 수신기, DSC 장치, VHF 송수신기 등이 국제항해에 종사하는 300GT 이상의 모든 선박에 의무적으로 탑재하도록 규정되었다. 또한, 최근에 국제해사기구(International Maritime Organization: IMO)는 GMDSS를 포함한 항해·통신 장비에 EMC 규정을 적용하도록 권고함에 따라 현재 선박에서 사용되는 대부분의 전자가 새로운 규정에 대응해야 하는 문제점에 직면하게 되었다. 본 연구에서는 채널 70 DSC 전용 수신기, DSC 장치, VHF 송수신장치가 집적된 장치에 대하여 예상되는 EMC 규정을 미리 적용 및 분석하여 보고 대처방안을 모색하였다. 시험은 도선 및 방사를 통한 불요파의 측정과 같은 전자파 간섭을 비롯하여 전압, 주파수 변위에 대한 내성과 정전기 방전에 대한 내성을 포함한 다양한 전자파 감응성 시험 등이 적용되었고 이에 따른 국내외 제품의 전원 및 접지에 대한 문제점을 파악할 수 있게 되었다.

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가드링 구조에서 전류 과밀 현상 억제를 위한 온-칩 정전기 보호 방법 (An On-chip ESD Protection Method for Preventing Current Crowding on a Guard-ring Structure)

  • 송종규;장창수;정원영;송인채;위재경
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제46권12호
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    • pp.105-112
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    • 2009
  • 본 논문에서는 $0.35{\mu}m$ Bipolar-CMOS-DMOS(BCD)공정으로 설계한 스마트 파워 IC 내의 가드링 코너 영역에서 발생하는 비정상적인 정전기 불량을 관측하고 이를 분석하였다. 칩내에서 래치업(Latch-up)방지를 위한 고전압 소자의 가드링에 연결되어 있는 Vcc단과 Vss 사이에 존재하는 기생 다이오드에서 발생한 과도한 전류 과밀 현상으로 정전기 내성 평가에서 Machine Model(MM)에서는 200V를 만족하지 못하는 불량이 발생하였다. Optical Beam Induced Resistance Charge(OBIRCH)와 Scanning Electronic Microscope(SEM)을 사용하여 불량이 발생한 지점을 확인하였고, 3D T-CAD 시뮬레이션으로 원인을 검증하였다. 시뮬레이션 결과를 통해 Local Oxidation(LOCOS)형태의 Isolation구조에서 과도한 정전기 전류가 흘렀을 때 코너영역의 형태에 따라 문제가 발생하는 것을 검증하였다. 이를 통해 정전기 내성이 개선된 가드링 코너 디자인 방법을 제안하였고 제품에 적용한 결과, MM 정전기 내성 평가에서 200V이상의 결과를 얻었다. 통계적으로 Test chip을 분석한 결과 기존의 결과 대비 20%이상 정전기 내성이 향상된 것을 확인 할 수 있었다. 이 결과를 바탕으로 BCD공정을 사용하는 칩 설계 시, 가드링 구조의 정전기 취약 지점을 Design Rule Check(DRC) 툴을 사용하여 자동으로 찾을 수 있는 설계 방법도 제안하였다. 본 연구에서 제안된 자동 검증방법을 사용하여, 동종 제품에 적용한 결과 24개의 에러를 검출하였으며, 수정 완료 제품은 동일한 정전기 불량은 발생하지 않았고 일반적인 정전기 내성 요구수준인 HBM 2000V / MM 200V를 만족하는 결과를 얻었다.