• 제목/요약/키워드: Electrical Fast Transient/Burst Signal

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전기적으로 빠른 과도현상/버스트 신호의 복사방출과 대책 (Radiated Emission of Electrical Fast Transient/Burst Signal and Its Countermeasures)

  • 박수훈;김동일;박연준;나승욱
    • 한국전자파학회논문지
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    • 제27권3호
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    • pp.291-298
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    • 2016
  • 본 논문에서는 전자파적합성 국제 규격인 IEC 61000-4-4에서 규정하고 있는 전기적으로 빠른 과도현상/버스트(EFT/Burst) 신호가 전원선을 따라 시험대상품에 인가될 때, 인가신호에 기인하여 방사되는 불요전자파와 그 신호가 피시험품에 미치는 영향에 대해 연구하였다. 먼저 국제규격에 규정된 시험 배치방법에 따라 시험 샘플을 설치하고, 검증된 EFT/Burst 발생기로 1분 동안 +4 kV의 규정된 신호를 길이 1 m인 전원선을 통해 시험 샘플에 인가하였다. 그 결과, 전원선을 통해 인가되는 전도성 EFT/Burst 내성 신호 외 버스트 발생기 및 전원선에서 직접 공기 중으로 방출되는 방사성 신호(EFT/Burst 노이즈)가 검출되었고, 국제 공인시험 규격으로 이 신호를 측정한 결과, 규제 레벨보다 30 dB 이상 높았다. 또한, EFT/Burst 방사성 신호의 최대 방사 지점과 시험품의 이격 거리에 따른 전계강도를 측정한 결과, 방사내성 국제 규격치보다 최대 23 V/m 이상 강한 전계강도가 검출되었다. 이는 EFT/Burst 방사성 노이즈가 직접적으로 제품에 인가되어 오동작을 유발할 가능성이 대단히 높으므로 대책이 요구됨을 확인하였다.

Investigation of Relation between EFTB Test and RF Conductive Immunity Test Using BER and Baseband Signal

  • Kuwabara, Nobuo;Irie, Yasuhiro;Hirasawa, Norihito;Akiyama, Yoshiharu
    • Journal of electromagnetic engineering and science
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    • 제11권4호
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    • pp.274-281
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    • 2011
  • High-speed telecommunication systems are influenced by electromagnetic environments because they need a wide bandwidth to transmit signals. Immunity tests of telecommunication equipment are effective for improving its immunity to electromagnetic environments. However, immunity tests are expensive to carry out because there are several different tests. The correlation among the tests should therefore be examined in order to reduce the kinds of tests that are necessary. This paper investigates the correlation between the electrical fast transient/burst (EFTB) test and the radio frequency (RF) conductive immunity test. Imitation equipment was constructed with a balun, and a baseband signal was transmitted from the associated equipment to the imitation equipment. Then, disturbances were applied to the equipment, and the telecommunication quality was evaluated by using the bit error rate (BER). The results from the EFTB test indicated that the BER was less than $6{\times}10^{-5}$ and the value was independent of the peak value. The results from the RF conductive immunity test indicated that the BER was affected by the longitudinal conversion loss (LCL).