We propose a simple model to elucidate the dispersion behavior of spiraling modes on silver nanowire by finding correspondence parameters and building a simple equivalent relationship with the planar insulator-metal-insulator geometry. The characteristics approximated for the proposed structure are compared with the results from an exact solution obtained by solving Maxwell's equation in cylindrical coordinates. The effective refractive index for our proposed equivalent model is in good agreement with that for the exact solution in the 400-2000 nm wavelength range. In particular, when the radius of the silver nanowire is 100 nm, the calculated index shows typical improvements; the average percentage error for the real part of the effective refractive index is reduced to only 5% for the $0^{th}$ order mode (11.9% in previous results) and 1.5% for the $1^{st}$ order mode (24.8% in previous results) in the 400-800 nm wavelength range. This equivalent model approach is expected to provide further insight into understanding the important behavior of nanowire waveguides.
A double diffusion technique is developed to enhance the effective mode index of optical waveguides in $LiTaO_3$. It consists of Zn diffusion from the vapor phase at relatively low temperatures (750->$800^{\circ}C$), into waveguides initially produced by Ti indiffusion at higher temperature (1150->$1200^{\circ}C$). Both X- and Z-cut substrates are investigated. A model that combines profiles of both diffusion is formulated to calculate the expected effective index values for planar waveguides. Good agreement is found between experimental results and model predictions which assume that the initial Ti profile is not affected by the lower temperature Zn diffusion. Effective index enhancements as high as 0.005 and 0.003 are obtained by this method for the fundamental extraordinary and ordinary modes, respectively.
The complex refractive index of Diamond-like Carbon (DLC) thin films, which can be applied to optical devices or electrical devices, have been determined using optical methods. DLC thin films are grown on Si(100) substrates and vitreous silica substrates respectively, using the technique of plasma enhanced chemical vapor deposition (PECVD). The spectroscopic ellipsometry data($\psi$, $\Delta$) and the transmission spectra of these DLC films are obtained. These optical spectra are analyzed with the help of the Sellmeier dipersion relation and a quantum mechanically derived dispersion relation. Using spectroscopic ellipsometry data at their transparent region, the refractive index and the effective thickness of DLC films on vitreous silica are model calculated, Then the transmission spectra are inverted to yield the extinction coefficient spectra k(λ) at absorbing region. These spectra are fit to the quantum mechanical dispersion relation and the best fit dispersion constants are determined. The complex refractive indices are easily calculated with these constants. The spectroscopic ellipsometry data at the absorbing region in model calculated to give the packing densities and the degrees of surface microroughness of DLC films. Discussions are made in correlation with the growth condition of DLC films.
Journal of information and communication convergence engineering
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v.14
no.3
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pp.163-170
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2016
Because of rapid technological advancements, increased data rate support has become the key criterion for future communication medium selection. Multimode optical fibers and multicore optical fibers are well matched to high data rate throughput requirements because of their tendency to support multiple modes through one core at a time, which results in higher data rates. Using the numerical mode solver OptiFiber, we have designed a concentric core fiber by investigating certain design parameters, namely core diameter (µm), wavelength (nm), and refractive index profile, and as a result, the number of channels, material losses, bending losses, polarization mode dispersion, and the effective nonlinear refractive index have been determined. Space division multiplexing is a promising future technology that uses few-mode fibers in parallel to form a multicore fiber. The experimental tests are conducted using the standard second window wavelength of 1,550 nm and simulated results are presented.
Park, Dong-Yeong;Choe, Gi-Seon;Yun, Jae-Sun;Baek, Se-Jong;Mun, Hyeong-Myeong;Kim, Jin-Bong;Kim, Gwang-Taek;Im, Gi-Geon
Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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2007.02a
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pp.221-222
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2007
The UV laser trimming can be useful to have an accurate performance specification of the passive waveguide devices. In order to measure the change of the refractive index of polymer overclad layer under the irradiation of uv light in a high precision Bragg grating is fabricated on the silica core of planar waveguide and the corresponding transmittance spectrum was analyzed. An effective refractive index change of $4.7x10^{-5}$ was obtained for a straight waveguide when its $60{\mu}m$-thick overclad was irradiated by UV laser pulses of its total fluence 24 $J/cm^2$.
NaEr(WO$_4$)$_2$ is a new laser material. The planar optical waveguide was formed in NaEr(WO$_4$)$_2$ crystal by 2.6 MeV He$^{+}$ ion implantation at doses of 1.0-1.5 $\times$ 10$^{16}$ ions/cm$^2$ at room temperature. The effective refractive indices of the dark modes were measured using the prism coupling method. foul n modes and five TM modes were observed in the waveguide. The refractive index profiles were analyzed using the reflectivity calculation method (RCM). The influence of heat treatment at moderate temperature on the refractive index profiles of the waveguide was also investigated. We used the TRIM'98 (Transport of ton in Matter) code to simulate the damage profile in the NaEr(WO$_4$) crystal by 2.6 MeV He$^{+}$ion implantation which is helpful for a better understanding of the waveguide formation.ion.
The effective reflection coefficients of an obliquely incident wave on a multi-layered substrate coated with a uniaxially anisotropic alignment layer are derived. The effective reflection coefficients as well as explicit ellipsometric expressions are provided as a function of film constants of multiple layers together with magnitude of anisotropy, direction of optic axis, and thickness of the alignment layer. It is expected that by adapting these expressions to the conventional modelling technique, the ordinary refractive index, the extra-ordinary refractive index, the azimuth angle and the tilt angle of the optic axis, and the thickness of the aligned surface can be determined simultaneously together with the thickness and volume fraction of each layer beneath the alignment layer.
Proceedings of the Korea Association of Crystal Growth Conference
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1997.06a
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pp.125-129
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1997
The effects of the moisture and thermal annealing on CLBO crystal have been investigated. CLBO has hydrated at high humidity condition, resulting in 5B$_2$O$_3$$.$Cs$_2$O$.$8H$_2$O. The surface hydration seems to induce the cracking and the refractive index change in CLBO. The thermal annealing is effective to restore the changed index.
We have calculated the optimum refractive index and thickness for a single layer antireflection coating as a function of active layer width and thickness in buried channel waveguides. The results using the variational method to obtain the field profiles are compared to those using the effective index method.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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