• Title/Summary/Keyword: Dynamic Interface

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Analysis of the linear Amplifier/Analog-Digital Converter Interface in a Digital Microwave Wideband Receiver (디지털 광대역 마이크로 웨이브 수신기에서의 선형 증폭기와 ADC 접 속의 해석)

  • 이민혁;장은영
    • Proceedings of the IEEK Conference
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    • 1998.06a
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    • pp.110-113
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    • 1998
  • An analysis of the relationship between a linear amplifier chain and an analog-to-digital converter(ADC) in a digital microwave widevand receiver, with respect to sensitivity and dynamic range issues, is presented. The effects of gain, third-order intermodulation products and ADC characteristics on the performance of the receiver are illustrated and design criteria for the linear amplifier chain given a specified ADC are developed. A computer program is used to calculate theretical receiver performance based on gain and third-order intermodulation product selections. Simulated results are also presented and compared with theoretical values.

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Real-time distributed industrial process control system (실시간 분산 공정 제어 시스템)

  • 이도영;윤창진;전태웅
    • 제어로봇시스템학회:학술대회논문집
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    • 1986.10a
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    • pp.158-163
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    • 1986
  • This article surveys techniques and issues related to real time process control system developed for industrial control applications. It covers the system architecture and software engineering issues such as the design of data structures, scheduling of asynchronous task activities, management of shared resources, handling of interrupt and implementing an user friendly man-machine interface. Also problems associated with implementing a real-time system that supports dynamic configuration of data base is addressed.

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Safety and Reliability Assessment by using Dynamic Reliability Analysis Method

  • Lee, Sook-Hyung;Park, Jong-Woon;Lim, Jae-Cheon
    • Proceedings of the Korea Society for Energy Engineering kosee Conference
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    • 1995.11a
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    • pp.75-81
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    • 1995
  • DYLAM and its related applications are reviewed in detail and found to have many favourable characteristics. Concerning human factor analysis, the study demonstrates that DYLAM methodology represents an appropriate tool to study man-machine behaviour provided that DYLAM is used to model machine behaviour and an appropriate operator interface human factor model is included. A hybrid model which is a synthesis of the DYLAM model, a system thermodynamic simulation model and a neural network predicative model, is implemented and used to analyse dynamically the CANDU pressurizer system.

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Software requirements based on priority for MMIS dynamic simulation (MMIS 동적 모의를 위한 우선순위 기반의 소프트웨어 요구사항)

  • 박근옥;이종복;구인수
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2002.04b
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    • pp.379-381
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    • 2002
  • 소프트웨어 개발 프로젝트에서 소프트웨어 요구사항의 잦은 변경 또는 요구사항 확정의 지연은 소프트웨어의 품질저하, 납기지연, 개발요구자와 개발담당자 간의 의견충돌을 야기한다. 특히 원자력발전소 환경과 같은 mission-critical 영역의 경우에는 발전소 건설자체를 지연시킬 수 있는 심각한 결과를 초래한다. 본 논문에서는 원자력발전소의 감시와 제어를 담당하는 MMIS(Man Machine Interface System) 환경을 동적으로 모의하는 소프트웨어 개발 과정에서 요구사항 변경의 가능성을 최소화시킬 의도로 시도하였던 요구사항 우선순위 설정에 대한 경험과 교훈을 살펴본다. 또한, 요구사항 우선순위를 기반으로 한 소프트웨어 개발 공정 활동을 토의한다

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Design and Implemetation of User Interface Server for Dynamic GUI in Web Environment (웹 환경에서 동적 GUI 제공을 위한 사용자 인터페이스 서버 설계 및 구현)

  • 박주영;강순주
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2000.10c
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    • pp.225-227
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    • 2000
  • 홈 네트워크의 발달과 함께 홈 네트워크를 감시하고 제어할 수 있는 사용자 인터페이스의 구현 또한 중요한 문제로 인식되고 있다. 본 논문에서 홈 네트워크의 정보들을 정적인 자료와 동적인 자료로 분류하여, 2개의 전송채널을 이용함으로써 동적인 자료의 실시간 응답 특성을 향상시킬 수 있는 GUI 서버를 제안하고, 각 디바이스의 감시/제어 모듈을 컴포넌트화 함으로써 동적 GUI 갱신과 디바이스의 추가/삭제에 따른 실시간 응답 특성을 향상시켰다.

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Invited Paper: Progresses in BiNem display technology for e-reading applications

  • Angele, Jacques;Joly, Stephane;Martinot-Lagarde, Philippe;Faget, Luc;Osterman, Jesper;Scheffer, Terry;Leblanc, Francois
    • 한국정보디스플레이학회:학술대회논문집
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    • 2009.10a
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    • pp.83-86
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    • 2009
  • BiNem$^{(R)}$ displays have entered volume manufacturing in 2009. Applications range from e-labels to e-readers. We have developed 6-inch $960{\times}720$ pixels passive matrix BiNem prototypes achieving 40 % brightness and fluid user interface based on partial image / dynamic pointer addressing. Active-matrix addressing is proposed to provide even faster operation.

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Ajax Craft For Dynamic Interface Design (다이내믹 인터페이스 설계를 위한 Ajax 기술)

  • Kim, Eun-Ju
    • Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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    • 2006.11a
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    • pp.249-252
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    • 2006
  • 인터랙티브 웹 애플리케이션 개발 도구로 인기를 얻고 있는 Ajax 기술을 이용하여 웹에서 사용하는 도움말(Help) 기능에 적용하였다. 현재 가장 많이 사용하는 MVC 모델(Model, View, Control)은 비즈니스 로직을 서버쪽에 있는 Control에서 모두 처리하지만 Ajax 애플리케이션은 Client 에 있는 브라우저의 JavaScript에서 모두 처리하는 개념이다. 도움말 기능에 Ajax 기술을 사용함으로써 애플리케이션의 응답성이 향상되고 웹 서버의 부담이 줄어 들게 된다.

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GUI를 이용한 수차모델 개발

  • 강윤호;이건영
    • Proceedings of the Korean Society of Fisheries Technology Conference
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    • 2001.05a
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    • pp.340-341
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    • 2001
  • 축제식 양식장 호지의 노령화를 방지하기 위해 수차를 이용하여 호지에 폭기 및 순환작용을 활성화하여 수질과 저질을 개선하는 방법이 널리 사용되고 있다(Peterson et al., 2000). 본 연구에서는 수차의 순환기능에 대한 수치모형인 Pond Dynamic Model(PDM)을 Graphic User Interface(GUI )를 이용하여 손쉽게 이용할 수 있도록 상용화(PDM 1.0)하였다(강$^1$,2001; 강$^2$, 2001; 강$^3$, 2001). PDM 1.0을 이용하여 수차의 종류와 위치 및 작동시간에 따른 호지의 순환형태를 손쉽게 모의실험 할 수 있었다. (중략)

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Dynamic response of pile groups in series and parallel configuration

  • Sawant, V.A.;Ladhane, K.B.
    • Structural Engineering and Mechanics
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    • v.41 no.3
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    • pp.395-406
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    • 2012
  • Basic problem of pile foundation is three dimensional in nature. Three dimensional finite element formulation is employed for the analysis of pile groups. Pile, pile-cap and soil are modeled using 20 node element, whereas interface between pile or pile cap and soil is modeled using 16 node surface element. A parametric study is carried out to consider the effect of pile spacing, number of piles, arrangement of pile and soil modulus on the response of pile group. Results indicate that the response of pile group is dependent on these parameters.

Hot Electron Induced Device Degradation in Gate-All-Around SOI MOSFETs (Gate-All-Around SOI MOSFET의 소자열화)

  • 최낙종;유종근;박종태
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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    • v.40 no.10
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    • pp.32-38
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    • 2003
  • This works reports the measurement and analysis results on the hot electron induced device degradation in Gate-All-Around SOI MOSFET's, which were fabricated using commercially available SIMOX material. It is observed that the worst-case condition of the device degradation in nMOSFETs is $V_{GS}$ = $V_{TH}$ due to the higher impact ionization rate when the parasitic bipolar transistor action is activated. It is confirmed that the device degradation is caused by the interface state generation from the extracted degradation rate and the dynamic transconductance measurement. The drain current degradation with the stress gate voltages shows that the device degradation of pMOSFETs is dominantly governed by the trapping of hot electrons, which are generated in drain avalanche hot carrier phenomena.r phenomena.